一种基于FPGA的模拟采样装置及方法

    公开(公告)号:CN116455393A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310467005.4

    申请日:2023-04-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的模拟采样装置,由ADC模块、FPGA数据处理模块和DAC模块顺序连接而成,ADC模块由输入保护电路、模拟信号处理电路和ADC芯片顺序连接而成,FPGA数据处理模块由ADC驱动模块、数字信号处理模块和DAC驱动模块顺序连接而成,DAC模块由高速数据接口、DAC芯片和隔离与保护电路顺序连接而成;还公开了采样方法,ADC模块将采样信号转为数字信号传输给FPGA数据处理模块,FPGA数据处理模块将信号上传给PC上位机供观测使用,还接收PC上位机的控制指令,对采样信号做对应处理生成对应的数据流,然后传输给DAC模块,通过DAC模块输出符合控制指令的模拟采样信号。

    基于温度检测的高精度电压测量系统

    公开(公告)号:CN119936469A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510064318.4

    申请日:2025-01-15

    Abstract: 本发明提供了一种温度检测的高精度电压测量系统,属于电压测量技术领域,其系统包括:电压控制模块,用于接收外部输入控制指令、失调电压和基准电压,基于外部输入控制指令控制自身断开或闭合并传输失调电压和基准电压,电压测量电路,与电压控制模块电性连接,用于接收失调电压、基准电压及失调电压的温度检测结果,并基于失调电压、基准电压及失调电压的温度检测结果,得到高精度电压测量结果,温度采集模块,与电压测量电路电性连接,用于对失调电压进行温度检测,得到失调电压的温度检测结果,并将失调电压的温度检测结果发送至电压测量电路。本发明通过新增电压控制模块和温度采集模块可以提高在不同温度下的电压测量精度。

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