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1.

发明授权
基于功率损耗线性控制的恒定功率循环测试电路及方法有权

公开(公告)号：CN111239576B

公开(公告)日：2021-08-10

申请号：CN201811445962.2

申请日：2018-11-29

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 刘国友 , 李道会 , 罗皓泽 , 齐放 , 王彦刚 , 李孔竞 , 吴义伯 , 戴小平

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明公开了一种基于功率损耗线性控制的恒定功率循环测试电路及方法，该恒定功率循环测试电路包括恒流源、第一和第二待测半导体功率器件、第一和第二驱动单元、第一和第二温控单元、电压测量与存储单元。本发明还提供了基于该恒定功率循环测试电路的测试方法。本发明的恒定功率循环测试电路和测试方法可以使待测功率器件的结温度摆幅仅与导通时间成单一的正比例关系，简化了功率循环测试的控制方法，消除了待测功率器件在长期功率循环测试当中结温度不可精确控制的问题。

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