公开(公告)号：CN1598554A

公开(公告)日：2005-03-23

申请号：CN200410074860.6

申请日：2004-08-30

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 田口武庆 ,  田岛武雄

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G01N23/207

Abstract: 本发明公开了一种X光分析设备，其中X光源所发射的X光被施加到样品并且二维CCD传感器检测样品所衍射的X光。X光分析设备具有2θ旋转驱动器和程序。2θ旋转驱动器移动二维CCD传感器。执行上述程序以便控制CCD传感器的动作。2θ旋转驱动器绕着遍布样品表面的ω轴而旋转CCD传感器。所述程序将CCD传感器中的电荷转移与2θ旋转驱动器所驱动的CCD传感器的动作同步。所以，用于相同衍射角度的数据项能够在二维CCD传感器的象素中积聚。这实现了高速高灵敏度检测被衍射的X光。

公开(公告)号：CN1598554B

公开(公告)日：2011-08-10

申请号：CN200410074860.6

申请日：2004-08-30

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 田口武庆 ,  田岛武雄

IPC: G01N23/207 ,  G01T1/24

CPC classification number: G01N23/207

Abstract: 本发明公开了一种X光分析设备，其中X光源所发射的X光被施加到样品并且二维CCD传感器检测样品所衍射的X光。X光分析设备具有2θ旋转驱动器和程序。2θ旋转驱动器移动二维CCD传感器。执行上述程序以便控制CCD传感器的动作。2θ旋转驱动器绕着遍布样品表面的ω轴而旋转CCD传感器。所述程序将CCD传感器中的电荷转移与2θ旋转驱动器所驱动的CCD传感器的动作同步。所以，用于相同衍射角度的数据项能够在二维CCD传感器的象素中积聚。这实现了高速高灵敏度检测被衍射的X光。