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公开(公告)号：CN107430979B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201480084673.8
申请日：2014-12-25
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/40
Abstract: 质谱校正部(42)每当获得质谱数据时都进行以下处理：利用源自m/z值已知的内标物质的峰的出现位置来求出质谱偏差量并校正该质谱偏差量。质谱校正信息收集部(43)收集每个质谱数据的质谱偏差量或质谱校正量，在测定结束后，三维显示信息制作部(44)在将全二维LC部(1)中的一维柱的保持时间和二维柱的保持时间设为正交的两个轴并对与这两个轴正交的轴取质谱校正量所得到的三维空间内，制作将收集到的多个质谱校正量配置为标绘点的三维图表。由此，一目了然分离特性不同的各柱的保持时间与质谱偏差量之间的关系，例如能够在测定执行过程中容易地掌握质谱偏差量异常地增加那样的状况。
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公开(公告)号：CN105190303B
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201480022771.9
申请日：2014-04-21
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 池上将弘
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/0004 , H01J49/164 , H01J49/40
Abstract: 预先将对各测量点的质谱进行了压缩的数据、以及用于XIC标准化等的标准化系数储存于存储器(21)。在显示特定的m/z值下的被标准化的成像图像的情况下，数据解压处理部(23)从存储器(21)读出最低限度必要的压缩数据并恢复与m/z值对应的各测量点的强度值的同时，标准化运算处理部(29)从存储器(21)读出与m/z值对应的XIC标准化系数，通过乘以各测量点的强度值来修正强度值。成像图像制作处理部(27)将各个规定的显示色赋予修正后的强度值，制作成像图像并将其显示于显示部(6)的画面上。由此，即使在变更标准化条件并依次显示成像图像的情况下，如果预先计算并存储标准化系数，就能够高速地显示图像。
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公开(公告)号：CN107430979A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201480084673.8
申请日：2014-12-25
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/40
Abstract: 质谱校正部(42)每当获得质谱数据时都进行以下处理：利用源自m/z值已知的内标物质的峰的出现位置来求出质谱偏差量并校正该质谱偏差量。质谱校正信息收集部(43)收集每个质谱数据的质谱偏差量或质谱校正量，在测定结束后，三维显示信息制作部(44)在将全二维LC部(1)中的一维柱的保持时间和二维柱的保持时间设为正交的两个轴并对与这两个轴正交的轴取质谱校正量所得到的三维空间内，制作将收集到的多个质谱校正量配置为标绘点的三维图表。由此，一目了然分离特性不同的各柱的保持时间与质谱偏差量之间的关系，例如能够在测定执行过程中容易地掌握质谱偏差量异常地增加那样的状况。
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公开(公告)号：CN109642890A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201680088785.X
申请日：2016-08-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
Abstract: 用户在特定的一或多个MS成像图像上指定例如假设包含大量想要鉴定的化合物的区域、该化合物与其它化合物重叠的区域等关注区域(ROI)，指示ROI间的相加或相减。于是，对于每一个所指定的ROI，根据该区域中包含的测定点处的MS/MS谱数据计算平均MS/MS谱，进而算出将ROI之间的平均MS/MS谱进行相加或相减所得到的MS/MS谱。通过进行ROI之间的相加，能够提高源自目标化合物的峰的强度。另一方面，通过在ROI之间进行相减，能够去除与目标化合物重叠的源自其它化合物的峰。当将如此进行加减运算后的MS/MS谱供于库检索来鉴定目标化合物时，与以往相比谱的相似度的分数变高，能够提高鉴定精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107068530A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201610848369.7
申请日：2014-04-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/00
Abstract: 提供成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置，简化进行统计解析以比较从多个试样分别得到的成像质量分析数据的作业，提高该解析的精度。在想比较的两个试样的成像质量分析数据的测量点间隔不同、还想比较物质的空间分布扩展的尺寸时，以一个数据为基准重新定义另一个数据的测量点间隔以使测量点间隔一致，通过基于实际测量点的质谱的内插或外插求出设定的虚拟测量点的质谱。在各试样的质谱的m/z值阵列不同时，以一个数据的质谱的m/z值的位置为基准对另一个数据的质谱通过内插或外插求出基准m/z值的强度值。使测量点间隔、m/z值阵列一致而能够整合数据，作为一个成像质量分析数据进行处理而能简单地进行峰值矩阵制作等处理。
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公开(公告)号：CN105190303A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201480022771.9
申请日：2014-04-21
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 池上将弘
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/0004 , H01J49/164 , H01J49/40
Abstract: 预先将对各测量点的质谱进行了压缩的数据、以及用于XIC标准化等的标准化系数储存于存储器(21)。在显示特定的m/z值下的被标准化的成像图像的情况下，数据解压处理部(23)从存储器(21)读出最低限度必要的压缩数据并恢复与m/z值对应的各测量点的强度值的同时，标准化运算处理部(29)从存储器(21)读出与m/z值对应的XIC标准化系数，通过乘以各测量点的强度值来修正强度值。成像图像制作处理部(27)将各个规定的显示色赋予修正后的强度值，制作成像图像并将其显示于显示部(6)的画面上。由此，即使在变更标准化条件并依次显示成像图像的情况下，如果预先计算并存储标准化系数，就能够高速地显示图像。
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公开(公告)号：CN102194641B
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN201110063709.2
申请日：2011-03-16
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/00
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/0036
Abstract: 一种质量分析数据处理方法和质量分析数据处理设备，高效地处理通过成像质量分析收集到的大量数据，从而以分析操作员能够直观理解的形式呈现对分析试样的组织结构有意义的信息。对试样上的各像素，列出与质谱中的最大强度MI(i)相对应的质荷比m/z(i)，并提取所有像素的最大强度中的最大值MII。定义与0～MII范围内的强度值相对应的色标。将各像素的最大强度MI与色标进行比较以对该像素分配颜色。创建并显示像素以各自的颜色示出的映射图像。同时，以峰颜色对应于映射图像上的像素颜色的方式创建表示所有像素的MI(i)和m/z(i)之间关系的频谱。映射图像示出试样的组织结构。通过比较该图像和频谱，可识别出试样中值得注意的物质的m/z。
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公开(公告)号：CN111837031B
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN201880091068.1
申请日：2018-03-30
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 池上将弘
IPC: G01N27/62
Abstract: 在数据处理部中，使一个图像适当变形以使从不同的试样分别得到的MS成像图像上的相同部位的位置和大小一致，由此进行位置对准(S1～S5)。在显示部的画面上显示进行了位置对准后的图像，当用户在成为基准的图像上设定关心区域时(S6)，在成为基准的图像和不是基准的图像中分别提取中心点包含在所设定的关心区域的范围内的微小区域(S7)。在进行图像变形后的图像中，各微小区域的形状变形，虽然微小区域没有排列成整齐的网格状，但中心点包含在关心区域的范围内的微小区域视为包含在该关心区域的范围内，由此与图像变形无关地基于与关心区域对应的适当的微小区域中的数据值来进行(56)对比文件T. W. Bocklitz等.Deeper Understandingof Biological Tissue: QuantitativeCorrelation of MALDI-TOF and RamanImaging《.Analytical Chemistry》.2013,
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公开(公告)号：CN109661574B
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN201680088956.9
申请日：2016-09-01
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
Abstract: 在保存于鉴定信息存储部(27)的化合物列表中，与各种化合物相关联地事先登记理论质量、能够检测该化合物的基质的种类以及有可能发生的中性丢失的信息等。另一方面，在加合离子列表中，与各种加合离子相关联地事先登记理论质量以及有可能发生加合的基质的种类等。当在质谱上由用户指示化合物检索对象的峰时，化合物候选检索部(23)基于根据化合物列表中的各化合物和加合离子列表中的加合离子的组合求出的m/z值与所指定的峰的实测m/z值的一致性来提取组合的候选，但此时以测定时使用的基质的种类为条件来锁定组合。显示处理部(26)将其检索结果制成列表并显示。另外，也明示出与该化合物对应的MS/MS谱是否已被登记在库中。
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