公开(公告)号：CN113518920A

公开(公告)日：2021-10-19

申请号：CN201980093558.X

申请日：2019-04-24

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62 ,  G01N27/64

Abstract: 本发明的成像质量分析装置具备：分析执行部(1)，对设定在试样(50)上的二维或试样中的三维测量区域(50)内的多个微小区域执行规定的分析，收集数据；第1图像创建部(21)，用分析执行部(1)得到的数据创建分别反映试样(50)包含的特定的一个或多个成分分布的一个或多个第1分布图像；运算式存储部(23)，至少预先存储包含一个或多个特定成分作为要素的化学反应式、或包含该特定成分的量作为要素的计算式作为运算式；信号值计算部(25)，用根据用户指示从运算式存储部(23)获取的运算式，根据构成一个或多个第1分布图像的各微小区域的信号值，算出其他信号值；第2图像创建部(26)，基于计算结果创建第2分布图像。

公开(公告)号：CN108139358B

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：CN201580083908.6

申请日：2015-10-16

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62 ,  H01J49/40

Abstract: 将由热膨胀率与飞行管(2)的热膨胀率不同的材料形成的圆柱棒状的基准构件(5)设置为与该管(2)接触，利用固定部(6)将该管(2)与基准构件(5)的一端固定。测距传感器(7)对随着温度变化而变动的管(2)与基准构件(5)的长度的差进行测量。以比率来看，该长度的差的位移比飞行管(2)自身的长度的位移大。另外，长度的差与飞行管(2)自身的长度相比格外小。因而，能够一边利用应变计等廉价的传感器一边高精度地捕捉由热膨胀引起的位移，能够通过基于该测量值校正质谱数据的m/z值来进行高精度的质量偏差校正。

公开(公告)号：CN106463335B

公开(公告)日：2019-02-19

申请号：CN201480078992.8

申请日：2014-07-03

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: H01J49/10

Abstract: 本发明的质谱分析装置(1)的电离室(11)包括：具有用于进行测定试样的喷雾的测定试样流路(155)的探针(15)；和用于在所述电离室内部进行质谱的质荷比的校正所使用的标准试样的喷雾的标准试样流路(255)。所述标准试样借助脉冲阀(216)，被间歇性地导入所述电离室。由此，能够一方面防止测定试样和标准试样的混杂，另一方面适当地控制标准试样的导入时机。另外，即使在短时间将多种测定试样依次导入电离室的情况下，也能够取得各测定试样的准确的质谱。

公开(公告)号：CN107850567A

公开(公告)日：2018-03-27

申请号：CN201580081390.2

申请日：2015-07-01

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62 ,  G01N33/483

CPC classification number: H01J49/0036 ,  G01N27/62 ,  G01N33/483 ,  G06F17/18 ,  G06F19/24 ,  G06K9/00127 ,  G06K9/4652 ,  G06K9/6206 ,  G06T7/97 ,  G06T2207/10056

Abstract: 当确认由成像质谱显微镜得到的光学显微图像并指定对分析者关注的区域赋予特征的颜色时，光学显微图像提取部(22)计算该颜色的亮度值分布数据。图像位置对准处理部(23)进行源自光学显微图像的亮度值分布图像与MS成像图像的位置对准处理，并且分辨率调整部(24)进行使该亮度值分布图像与该MS成像图像的空间分辨率一致的处理。之后，统计分析处理部(25)按每个m/z来计算亮度值分布图像与MS成像图像的空间的相关系数，分析结果显示处理部(26)基于计算出的相关系数来提取离子强度分布与亮度值分布图像相似的m/z并显示在显示部(4)中。如果能够根据m/z确定化合物，则能够确定表示与分析者关注的区域相似的分布的化合物。

公开(公告)号：CN105659082A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201380080380.8

申请日：2013-10-21

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N30/86 ,  G01N27/62 ,  G01N30/72

CPC classification number: G01N30/88 ,  G01N30/463 ,  G01N30/72 ,  G01N30/7233 ,  G01N30/8679 ,  G01N2030/8648 ,  G01N2030/8804

Abstract: 本发明中，2维色谱制作部(32)根据通过全2维GC/MS分析而采集到的数据来制作2维色谱。提取条件符合判定部(35)判定分析的过程中所获得的MS/MS谱图是否符合预先存储在存储部(34)中的例如MS/MS谱图上的特定的波峰等化合物提取条件，并提取符合的谱图。认为该谱图反映出分析人员所关注的化合物的部分结构。因此，条件符合信息重叠显示部(36)在2维色谱上针对每一化合物提取条件而将不同标记重叠显示于所提取的谱图的滞留时间的位置。由此，分析人员可在2维色谱上直观地掌握所关注的化合物的有无或出现位置。

公开(公告)号：CN101110336A

公开(公告)日：2008-01-23

申请号：CN200710137065.0

申请日：2007-07-19

Applicant: 株式会社岛津制作所 ,  国立大学法人大阪大学

Inventor： 西口克 ,  山口真一 ,  丰田岐聪

IPC: H01J49/40 ,  H01J49/06 ,  G01N27/62

CPC classification number: H01J49/408

Abstract: 提供了一种用于形成环行轨道的离子光学系统，其充分确保诸如离子透过效率之类的所需性能，同时通过放宽空间聚焦条件以允许容易地设计该系统。实现离子光学系统的环行轨道，以满足作为时间聚焦条件的(t|x)＝(t|α)＝(t|δ)＝0、以及作为空间聚焦条件的－2＜(x|x)+(α|α)＜2和－2＜(y|y)+(β|β)＜2。在离子光学系统的通用表示形式中，(x|x)和其他类似项是由括号中指示的元素确定的常数。相比于(x|x)、(α|α)、(y|y)和(β|β)中每一个均需要为±1的常规空间聚焦条件，实质上放宽了上述条件。因此，用于决定该离子光学系统配置所需的电极形状的参数具有更大自由度。

公开(公告)号：CN119213307A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202280096250.2

申请日：2022-07-21

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/623

Abstract: 本发明所涉及的成像解析装置的一方案具备：测量部，通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析来获取分析结果数据；相关性调查部(22、23)，基于由测量部获取到的分析结果数据来调查该数据中的m/z与离子迁移率的相关性；以及数据削减部(24、25)，基于由相关性调查部得到的相关性结果，根据m/z限定离子迁移率范围或根据离子迁移率限定m/z范围，由此削减分析结果数据的量。

公开(公告)号：CN112136041B

公开(公告)日：2023-06-16

申请号：CN201880093329.3

申请日：2018-05-30

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62 ,  G01N27/623

Abstract: 图像制作部(33)制作与相同的试样上的测定区域有关的每m/z的MS成像图像和光学图像，图像位置对准处理部(34)使分辨率一致并且进行图像位置对准。回归分析执行部(35)将基于MS成像数据的矩阵设为解释变量，将基于光学图像制作的以每个像素的亮度值为元素的矩阵设为被解释变量，执行PLS，来制作回归模型。图像制作部(33)将解释变量、即MS成像数据的各像素中的每个质荷比值的信号强度值应用于回归模型，来制作预测图像。显示处理部(39)将参照图像和预测图像显示在显示部(5)的画面上。由此，作业者能够确认MS成像图像与光学图像的分布的类似性的程度。其结果，能够评价所制作出的回归模型的准确性。

公开(公告)号：CN113994203A

公开(公告)日：2022-01-28

申请号：CN201980097569.5

申请日：2019-09-13

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/626

Abstract: 本发明涉及分析装置，通过对试样分别进行规定的分析来收集数据并对该数据进行处理，该分析装置具备：解析处理部(23)，为了进行多个测量对象之间的差异的解析或者该多个测量对象的分类，执行基于收集到的数据的多变量解析处理；特征提取部(24)，根据多变量解析结果，按照规定的基准，提取被推测为以差异或分类为主进行关联的特征性的参数或要素；图像生成部(25)，生成与提取出的参数或要素对应的规定的二维范围的成像图像；显示处理部(26)，对在多变量解析结果上提取出的特征性参数或要素和与之对应生成的成像图像分配相同的视觉形态，并将它们显示在显示部(4)。

公开(公告)号：CN112805559A

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：CN201880098461.3

申请日：2018-11-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明涉及成像数据解析装置，若用户在试样的显微观察图像上对差异解析的对象的多个组指定感兴趣区域，则m/z候选探索部(32)基于收集的质谱数据探索被推测为存在差异的m/z候选。强度直方图生成处理部(33)对每个m/z候选生成示出各组的感兴趣区域所含的测量点中的峰强度的频率分布的图表并显示。在该图表示出多峰性的情况下，由于是不符合统计假设检验的数据分布，因此强度范围确定部(34)根据用户的指示限定强度范围，ROI修正部(35)仅对具有限定强度范围所含的峰强度的测量点修正ROI。而且，检验处理部(36)使用与修正后ROI对应的数据进行统计假设检验。由此，即使由用户设定的开始的感兴趣区域不恰当，也能够进行可靠性高的差异解析。