-
公开(公告)号：CN106662551B
公开(公告)日：2019-09-03
申请号：CN201580035341.5
申请日：2015-01-13
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明可对化合物数据库(33)中所收录的质谱上的每一峰设定能够选择是否用于数据库检索的非使用指示信息作为属性信息。例如，对实测时混入的噪声峰或者来源于夹杂物的峰等预先设定好非使用指示信息。在化合物鉴定时，当从数据库(33)中与质谱一起读出非使用指示信息以进行数据库检索时，无用信息删除部(341)将设定有非使用指示信息的峰删除，并将所得质谱送至化合物候选抽取部(342)和评分部(343)。因此，设定有非使用指示信息的峰例如在计算化合物候选的得分时被忽略掉而计算出精度更高的得分，从而可改善鉴定精度。
-
公开(公告)号：CN101313215B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200680043434.3
申请日：2006-06-27
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 梅村佳克
CPC classification number: H01J49/004 , H01J49/0031
Abstract: 分析者预先从输入部25与其他分析条件一起输入作为第2次分裂之际的前体离子选择基准的第1次分裂中脱离的碎片质量。若开始自动分析则依次执行MS1分析、MS2分析、MS3分析，而在该过程中，数据处理部23判定与由MS1分析得到的质谱上出现的谱峰对应的各离子种类的价数。另外，MS2分析结束后，在与由MS2分析得到的质谱中出现的谱峰对应的离子种类中考虑上述判定的价数搜索符合选择基准的离子种类，并选定它作为MS3分析的第2次分裂的前体离子。这样一来，不管对象离子的价数多少，都能使MSn分析的各级选择、分裂的前体离子对应于在前一级分裂中脱离的碎片质量自动选定，由此能够改善分析效率，同时获得精度高的化学结构信息。
-
公开(公告)号：CN107430979B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201480084673.8
申请日：2014-12-25
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/40
Abstract: 质谱校正部(42)每当获得质谱数据时都进行以下处理：利用源自m/z值已知的内标物质的峰的出现位置来求出质谱偏差量并校正该质谱偏差量。质谱校正信息收集部(43)收集每个质谱数据的质谱偏差量或质谱校正量，在测定结束后，三维显示信息制作部(44)在将全二维LC部(1)中的一维柱的保持时间和二维柱的保持时间设为正交的两个轴并对与这两个轴正交的轴取质谱校正量所得到的三维空间内，制作将收集到的多个质谱校正量配置为标绘点的三维图表。由此，一目了然分离特性不同的各柱的保持时间与质谱偏差量之间的关系，例如能够在测定执行过程中容易地掌握质谱偏差量异常地增加那样的状况。
-
公开(公告)号：CN107430979A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201480084673.8
申请日：2014-12-25
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/40
Abstract: 质谱校正部(42)每当获得质谱数据时都进行以下处理：利用源自m/z值已知的内标物质的峰的出现位置来求出质谱偏差量并校正该质谱偏差量。质谱校正信息收集部(43)收集每个质谱数据的质谱偏差量或质谱校正量，在测定结束后，三维显示信息制作部(44)在将全二维LC部(1)中的一维柱的保持时间和二维柱的保持时间设为正交的两个轴并对与这两个轴正交的轴取质谱校正量所得到的三维空间内，制作将收集到的多个质谱校正量配置为标绘点的三维图表。由此，一目了然分离特性不同的各柱的保持时间与质谱偏差量之间的关系，例如能够在测定执行过程中容易地掌握质谱偏差量异常地增加那样的状况。
-
公开(公告)号：CN106662551A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201580035341.5
申请日：2015-01-13
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明可对化合物数据库(33)中所收录的质谱上的每一峰设定能够选择是否用于数据库检索的非使用指示信息作为属性信息。例如，对实测时混入的噪声峰或者来源于夹杂物的峰等预先设定好非使用指示信息。在化合物鉴定时，当从数据库(33)中与质谱一起读出非使用指示信息以进行数据库检索时，无用信息删除部(341)将设定有非使用指示信息的峰删除，并将所得质谱送至化合物候选抽取部(342)和评分部(343)。因此，设定有非使用指示信息的峰例如在计算化合物候选的得分时被忽略掉而计算出精度更高的得分，从而可改善鉴定精度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102057271B
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN200880129663.6
申请日：2008-06-04
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/0036
Abstract: 提供一种对出现来自目标化合物的多价离子峰的质谱进行解析处理并算出目标化合物的质量的方法和装置。首先，解析质谱上的各峰来检测同位素簇，求出各同位素簇的价数和代表点(m/z值)(S1～S3)。由于在离子化时加合到化合物上或者从化合物上脱离的成分的m/z值的范围受到限制，因此利用该情况来推定来自相同化合物的同位素簇，根据其组合来推定加合/脱离成分的m/z值的候选(S5)。对于所举出的多个候选，利用m/z值的分散程度、各同位素簇的代表点的相对强度的相似性等多个条件，排除明显异常的候选(S6～S9)。并且，最终选定m/z值的分散最小的候选或者代表点的相对强度的相似性最高的候选来决定加合/脱离成分的m/z值，然后计算化合物的质量(S10～S16)。
-
公开(公告)号：CN101115991B
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200680004434.2
申请日：2006-04-27
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/0036 , G06F19/703 , Y10T436/24
Abstract: 提供一种质量分析数据解析装置，在质量分析数据解析装置中作为解析对象的质谱数据使用质心数据。首先，将所述质心数据的峰值从强度大的峰值起顺次指定为用于同定同位素群的基准峰值，将在该基准峰值的前后所排列的峰值的出现模式与假设各价数时所预想的同位素群的出现模式进行比较，检测出同位素群。将由此所同定的同位素群的价数设为该同位素群所属的峰值的价数，将该群的前头的峰值同定为单一同位素峰值。根据这样的质量分析数据解析装置，能在短时间内进行质谱上的各峰值的价数的判定及单一同位素峰值的同定。
-
公开(公告)号：CN101115991A
公开(公告)日：2008-01-30
申请号：CN200680004434.2
申请日：2006-04-27
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/0036 , G06F19/703 , Y10T436/24
Abstract: 提供一种质量分析数据解析装置，在质量分析数据解析装置中作为解析对象的质谱数据使用质心数据。首先，将所述质心数据的峰值从强度大的峰值起顺次指定为用于同定同位素群的基准峰值，将在该基准峰值的前后所排列的峰值的出现模式与假设各价数时所预想的同位素群的出现模式进行比较，检测出同位素群。将由此所同定的同位素群的价数设为该同位素群所属的峰值的价数，将该群的前头的峰值同定为单一同位素峰值。根据这样的质量分析数据解析装置，能在短时间内进行质谱上的各峰值的价数的判定及单一同位素峰值的同定。
-
公开(公告)号：CN110073208A
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201680091635.4
申请日：2016-12-15
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 针对包含目标化合物的试样，由测定部(1)执行以源自该化合物的已知离子的m/z值为前体离子的产物离子扫描测定，获取轮廓谱数据。在数据处理部(2A)中，峰检测部(22)在轮廓谱上检测峰，产物离子m/z值获取部(23)针对检测到的每个峰获取最大强度所对应的m/z值来作为产物离子的m/z值。虚拟MRM测定数据提取部(24)将前体离子的m/z值、产物离子的m/z值作为MRM转变，并且提取源自产物离子的峰的最大强度作为MRM转变的信号强度值，将其作为虚拟MRM测定数据而保存到存储部(25)。由此，不执行MRM测定而仅通过产物离子扫描测定就能够得到反映了目标化合物的浓度的定量信息。
-
公开(公告)号：CN106463339B
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201480079919.2
申请日：2014-06-16
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 梅村佳克
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/0054 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/0045 , H01J49/4215
Abstract: 在对源自目标成分的多价离子进行MS/MS分析时，当分析者经由输入部(20)输入脱离碎片的质量值(mLoss)、脱离碎片的价数(zLoss)、前体离子的价数(zPrec)以及产物离子的价数(zProd)中的至少两个值时，价数计算部(221)基于zPrec＝zProd+zLoss的关系来计算未输入的价数(zPrec或zProd)。当开始进行MS/MS分析时，前体离子m/z设定部(222)设定通过前级四极杆滤质器(13)的离子的m/z＝MPrec，通过产物离子m/z计算部(223)将上述MPrec、mLoss、zPrec以及zProd应用于MProd＝(MPrec×zPrec‑mLoss)/zProd的关系式，来计算通过后级四极杆滤质器(16)的产物离子的m/z＝MProd。由此，即使在脱离碎片不是中性的情况下，也能够调查质量为mLoss、价数为zLoss的特定的带电碎片脱离那样的前体离子和产物离子的对。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
16
records
(took 0.02 seconds)
