公开(公告)号：CN107430979B

公开(公告)日：2019-11-05

申请号：CN201480084673.8

申请日：2014-12-25

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一 ,  梅村佳克 ,  池上将弘 ,  田中浩二

IPC: H01J49/40

Abstract: 质谱校正部(42)每当获得质谱数据时都进行以下处理：利用源自m/z值已知的内标物质的峰的出现位置来求出质谱偏差量并校正该质谱偏差量。质谱校正信息收集部(43)收集每个质谱数据的质谱偏差量或质谱校正量，在测定结束后，三维显示信息制作部(44)在将全二维LC部(1)中的一维柱的保持时间和二维柱的保持时间设为正交的两个轴并对与这两个轴正交的轴取质谱校正量所得到的三维空间内，制作将收集到的多个质谱校正量配置为标绘点的三维图表。由此，一目了然分离特性不同的各柱的保持时间与质谱偏差量之间的关系，例如能够在测定执行过程中容易地掌握质谱偏差量异常地增加那样的状况。

公开(公告)号：CN107430979A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201480084673.8

申请日：2014-12-25

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一 ,  梅村佳克 ,  池上将弘 ,  田中浩二

IPC: H01J49/40

Abstract: 质谱校正部(42)每当获得质谱数据时都进行以下处理：利用源自m/z值已知的内标物质的峰的出现位置来求出质谱偏差量并校正该质谱偏差量。质谱校正信息收集部(43)收集每个质谱数据的质谱偏差量或质谱校正量，在测定结束后，三维显示信息制作部(44)在将全二维LC部(1)中的一维柱的保持时间和二维柱的保持时间设为正交的两个轴并对与这两个轴正交的轴取质谱校正量所得到的三维空间内，制作将收集到的多个质谱校正量配置为标绘点的三维图表。由此，一目了然分离特性不同的各柱的保持时间与质谱偏差量之间的关系，例如能够在测定执行过程中容易地掌握质谱偏差量异常地增加那样的状况。