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公开(公告)号：CN107106101A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201580070501.X
申请日：2015-11-20
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 提供一种能够可靠地检测自身像来使物体的内部构造详细地成像的放射线相位差摄影装置。根据本发明的结构，FPD(4)的检测面的纵向相对于相位光栅(5)中的吸收体的延伸方向倾斜。于是，拍进自身像的条纹图案的位置(相位)根据检测面的位置的不同而不同。因而，认为能够实现与进行检测面上的拍进自身像的位置互不相同的多次摄影来获得多个自身像相同的效果。但是，如果仅这样的话，则被摄体的特定的位置处的自身像的相位固定为一个。因此，根据本发明的结构，设为一边改变摄像系统(3、4、5)与被摄体的相对位置一边进行摄影。
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公开(公告)号：CN107427271A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201680021003.0
申请日：2016-03-01
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 在实施例1所涉及的X射线摄影装置(1)中，X射线检测器(5)具有利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件的结构。向X射线检测器(5)入射的X射线中的向遮光壁入射的X射线不被转换为闪烁光而透过X射线检测器(5)。因而，通过向利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件所得到的X射线检测器(5)入射X射线，能够与使该X射线通过检测掩膜的情况同样地将透过了被检体(M)的X射线(3a)向X射线检测器(5)入射的区域进一步限制在任意的范围内。因而，能够在EI-XPCi中使用的X射线摄影装置(1)中省略检测掩膜，因此能够降低X射线摄影装置(1)的制造成本。
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公开(公告)号：CN102144175A
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：CN200880131016.9
申请日：2008-09-10
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/244 , H01L27/14618 , H01L27/14676 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种放射线检测器，对于覆盖在放射线感应型半导体层、载流子选择性高电阻膜、共用电极的露出面上的固化性合成树脂膜，在制作该固化性合成树脂膜的工序中使用不混入氯的材料。由此，就会防止载流子选择性高电阻膜和半导体层因氯离子而形成针孔和孔洞。此外，在共用电极的露出面与固化性合成树脂膜之间，配备不使离子性物质透过的保护膜，也可以防止载流子选择性高电阻膜被固化性合成树脂膜中所含的氯离子腐蚀，防止半导体层中暗电流的增加。
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公开(公告)号：CN107427269A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201580077485.7
申请日：2015-03-06
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 提供一种将相位光栅与放射线检测器之间的分离距离最优化的放射线相位差摄影装置。即，根据本发明，以检测面(4a)中拍进的自身像被噪声扰乱了何种程度为基准来决定相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的分离距离。即，在本发明的结构中，将噪声的影响的大小确定为分离距离的评价的基准。而且，根据本发明，基于在将相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的距离设为某个距离(Zd)时得到的自身图像上的自身像被噪声扰乱了何种程度来判断距离(Zd)是否适于摄影。这样，能够基于照射多个种类的X射线的实际的X射线源(3)的实际情况来实现分离距离的最优化。
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公开(公告)号：CN107407735B
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201680014450.3
申请日：2016-01-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/4241 , G01T1/20 , G01T1/2018 , H01L27/14629 , H01L27/14634 , H01L27/14638
Abstract: 提供一种能够进行可诊断性高的双能拍摄的、X射线敏感度更高的X射线检测器。X射线检测器(1)包括：闪烁体元件(15)，其由遮光壁(17)划分，将低能量的X射线转换成光；以及闪烁体元件(19)，其由遮光壁(21)划分，将高能量的X射线转换成光。从X射线的入射方向来看，遮光壁(17)的位置图案与遮光壁(21)的位置图案构成为未对齐。因此，入射到X射线检测器(1)的X射线被至少任意一方的闪烁体元件转换成光，最终作为X射线检测信号输出。即，即使在X射线检测器(1)中形成有遮光壁的情况下，无法检测到X射线的区域也不再存在。因而，能够利用遮光壁提高X射线图像的分辨率，并且能够提高X射线检测器的X射线敏感度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102369458A
公开(公告)日：2012-03-07
申请号：CN201080014680.2
申请日：2010-03-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01T1/24 , H01L27/14 , H01L31/0248 , H01L31/09
CPC classification number: H01L27/14676 , G01T1/244 , H01L31/085
Abstract: 本发明提供一种放射线检测器以及具备该放射线检测器的放射线摄影装置，本发明的结构依次层叠有有源矩阵基板(4)、非晶硒层(1)、高电阻层(3)、金电极层(2)、绝缘层(5)以及辅助板(6)。以提供不使辅助板(6)蓄积电荷来防止在非晶半导体层上形成空隙和在具有载流子选择性的高电阻膜(3)上形成针孔的放射线检测器为目的，在实施例1中，在绝缘层(5)中添加无机阴离子交换体。无机阴离子交换体吸附绝缘层(5)中的氯化物离子，因此能够防止氯化物离子被吸引到金电极层(2)而引起X射线检测器(10)被破坏。
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公开(公告)号：CN107427271B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201680021003.0
申请日：2016-03-01
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 在实施例1所涉及的X射线摄影装置(1)中，X射线检测器(5)具有利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件的结构。向X射线检测器(5)入射的X射线中的向遮光壁入射的X射线不被转换为闪烁光而透过X射线检测器(5)。因而，通过向利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件所得到的X射线检测器(5)入射X射线，能够与使该X射线通过检测掩膜的情况同样地将透过了被检体(M)的X射线(3a)向X射线检测器(5)入射的区域进一步限制在任意的范围内。因而，能够在EI‑XPCi中使用的X射线摄影装置(1)中省略检测掩膜，因此能够降低X射线摄影装置(1)的制造成本。
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公开(公告)号：CN107427269B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201580077485.7
申请日：2015-03-06
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 提供一种将相位光栅与放射线检测器之间的分离距离最优化的放射线相位差摄影装置。即，根据本发明，以检测面(4a)中拍进的自身像被噪声扰乱了何种程度为基准来决定相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的分离距离。即，在本发明的结构中，将噪声的影响的大小确定为分离距离的评价的基准。而且，根据本发明，基于在将相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的距离设为某个距离(Zd)时得到的自身图像上的自身像被噪声扰乱了何种程度来判断距离(Zd)是否适于摄影。这样，能够基于照射多个种类的X射线的实际的X射线源(3)的实际情况来实现分离距离的最优化。
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公开(公告)号：CN107106101B
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201580070501.X
申请日：2015-11-20
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/041
Abstract: 提供一种能够可靠地检测自身像来使物体的内部构造详细地成像的放射线相位差摄影装置。根据本发明的结构，FPD(4)的检测面的纵向相对于相位光栅(5)中的吸收体的延伸方向倾斜。于是，拍进自身像的条纹图案的位置(相位)根据检测面的位置的不同而不同。因而，认为能够实现与进行检测面上的拍进自身像的位置互不相同的多次摄影来获得多个自身像相同的效果。但是，如果仅这样的话，则被摄体的特定的位置处的自身像的相位固定为一个。因此，根据本发明的结构，设为一边改变摄像系统(3、4、5)与被摄体的相对位置一边进行摄影。
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公开(公告)号：CN107407735A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201680014450.3
申请日：2016-01-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/4241 , G01T1/20 , G01T1/2018 , H01L27/14629 , H01L27/14634 , H01L27/14638
Abstract: 提供一种能够进行可诊断性高的双能拍摄的、X射线敏感度更高的X射线检测器。X射线检测器(1)包括：闪烁体元件(15)，其由遮光壁(17)划分，将低能量的X射线转换成光；以及闪烁体元件(19)，其由遮光壁(21)划分，将高能量的X射线转换成光。从X射线的入射方向来看，遮光壁(17)的位置图案与遮光壁(21)的位置图案构成为未对齐。因此，入射到X射线检测器(1)的X射线被至少任意一方的闪烁体元件转换成光，最终作为X射线检测信号输出。即，即使在X射线检测器(1)中形成有遮光壁的情况下，无法检测到X射线的区域也不再存在。因而，能够利用遮光壁提高X射线图像的分辨率，并且能够提高X射线检测器的X射线敏感度。
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