放射线检测器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102144175A

    公开(公告)日:2011-08-03

    申请号:CN200880131016.9

    申请日:2008-09-10

    Abstract: 本发明提供一种放射线检测器,对于覆盖在放射线感应型半导体层、载流子选择性高电阻膜、共用电极的露出面上的固化性合成树脂膜,在制作该固化性合成树脂膜的工序中使用不混入氯的材料。由此,就会防止载流子选择性高电阻膜和半导体层因氯离子而形成针孔和孔洞。此外,在共用电极的露出面与固化性合成树脂膜之间,配备不使离子性物质透过的保护膜,也可以防止载流子选择性高电阻膜被固化性合成树脂膜中所含的氯离子腐蚀,防止半导体层中暗电流的增加。

    放射线检测器
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102144175B

    公开(公告)日:2014-01-15

    申请号:CN200880131016.9

    申请日:2008-09-10

    Abstract: 本发明提供一种放射线检测器,对于覆盖在放射线感应型半导体层、载流子选择性高电阻膜、共用电极的露出面上的固化性合成树脂膜,在制作该固化性合成树脂膜的工序中使用不混入氯的材料。由此,就会防止载流子选择性高电阻膜和半导体层因氯离子而形成针孔和孔洞。此外,在共用电极的露出面与固化性合成树脂膜之间,配备不使离子性物质透过的保护膜,也可以防止载流子选择性高电阻膜被固化性合成树脂膜中所含的氯离子腐蚀,防止半导体层中暗电流的增加。

Patent Agency Ranking