公开(公告)号：CN111566471B

公开(公告)日：2023-06-16

申请号：CN201880082441.7

申请日：2018-11-06

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041 ,  G01N23/201

Abstract: 该X射线成像装置(100)具备：旋转机构(8)，其使由X射线源(1)、检测器(5)、第一光栅(2)以及第二光栅(3)构成的摄像系统(200)相对地旋转；以及图像处理部(6)，其在多个旋转角度的各个旋转角度下基于X射线的强度分布来生成暗场像。而且，图像处理部(6)构成为实施使暗场像的多个像素中的、暗场信号比阈值(V1)大的像素的暗场信号降低到设定值(V2)的散射校正。

公开(公告)号：CN109283200B

公开(公告)日：2022-09-16

申请号：CN201810803685.1

申请日：2018-07-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041

Abstract: 本发明提供一种X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法。该X射线相位成像装置具备控制部，该控制部基于材料的暗场像来获取与材料的缺陷有关的信息。

公开(公告)号：CN109106388B

公开(公告)日：2022-06-03

申请号：CN201810654573.4

申请日：2018-06-22

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明提供一种X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法。该X射线成像装置具备图像处理部，该图像处理部基于第一吸收像中的被摄体的位置与第二吸收像中的被摄体的位置之间的差异量来进行第一暗视场像与第二暗视场像的位置对准。

公开(公告)号：CN108720857B

公开(公告)日：2022-03-15

申请号：CN201810365342.1

申请日：2018-04-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 森本直树 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明提供一种X射线相位差摄像系统。X射线相位差摄像系统具备：X射线源；检测器；多个光栅，所述多个光栅包括第一光栅和第二光栅；以及光栅位置偏移获取部，其基于通过对由检测器检测到的干涉条纹图像进行傅立叶变换而得到的傅立叶变换图像，来获取光栅的位置偏移。

公开(公告)号：CN112955735A

公开(公告)日：2021-06-11

申请号：CN201980072319.6

申请日：2019-07-22

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  田边晃一 ,  和田幸久 ,  德田敏 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041 ,  A61B6/00 ,  A61B6/02

Abstract: 本发明涉及一种X射线相位摄像系统(100)，具备X射线源(1)、检测器(2)、第1光栅组(3)、第2光栅组(4)、移动机构(5)和图像处理部(6)。移动机构构成为使被摄体和摄像系统(9)相对移动，从而使被摄体(T)通过第1光栅区域(R1)以及第2光栅区域(R2)。图像处理部构成为生成第1相位对比度图像(14a)和第2相位对比度图像(14b)。

公开(公告)号：CN112041669A

公开(公告)日：2020-12-04

申请号：CN201980026382.6

申请日：2019-01-22

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  田边晃一 ,  木村健士 ,  和田幸久 ,  德田敏 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041

Abstract: 本X射线成像装置(100)具备X射线源(1)、多个光栅、移动机构(8)以及图像处理部(6)，图像处理部(6)构成为：将多个被摄体图像(10)中的被摄体(T)的各像素的像素值与各像素的莫尔条纹(30)的相位值进行对应，并且对多个被摄体图像中的被摄体的同一位置的像素进行位置对准，由此生成相位对比度图像(16)。

公开(公告)号：CN111820927A

公开(公告)日：2020-10-27

申请号：CN202010201446.6

申请日：2020-03-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 土岐贵弘 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/03

Abstract: 本发明提供一种X射线相位成像装置以及X射线相位对比度图像生成方法，本X射线相位成像装置具备：摄影系统、用于在退避位置与摄影位置之间切换的位置切换机构、控制退避位置与摄影位置的切换的控制部以及基于第一图像和第二图像来生成X射线相位对比度图像的图像处理部。控制部构成为进行以下控制：将退避位置处的摄影和摄影位置处的摄影作为一系列的动作来执行。

公开(公告)号：CN110832309A

公开(公告)日：2020-02-21

申请号：CN201880043381.8

申请日：2018-09-19

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 森本直树 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明

IPC: G01N23/041

Abstract: 本发明的X射线相位差摄像系统(100)包括X射线源(1)、多个光栅、检测器(4)、光栅移动机构(10)及生成相位对比度图像(11)的图像处理部(5)，且图像处理部(5)构成为利用强度变化(30b)的周期(p)、及以周期为变量且表示伴随光栅移动的像素值的强度变化的函数，来生成相位对比度图像(11)。

公开(公告)号：CN109567834A

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201810948493.X

申请日：2018-08-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 土岐贵弘 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  森本直树 ,  水岛洋

IPC: A61B6/00

CPC classification number: G01N23/041 ,  A61B6/484 ,  G01N2223/32 ,  A61B6/00 ,  A61B6/4291

Abstract: 本发明提供一种放射线相位差摄影装置。放射线相位差摄影装置具备：图像信号生成系统，其包括X射线源和图像信号检测器；多个光栅，所述多个光栅包括第一光栅和第二光栅；保持部，其将多个光栅以悬吊的方式保持；以及位置切换机构，其使多个光栅的相对于图像信号生成系统的相对位置在退避位置与检测位置之间切换。多个光栅和图像信号生成系统中的任一方被单个保持部保持。

公开(公告)号：CN107106101A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580070501.X

申请日：2015-11-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 田边晃一 ,  古井真悟 ,  岸原弘之 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/04

Abstract: 提供一种能够可靠地检测自身像来使物体的内部构造详细地成像的放射线相位差摄影装置。根据本发明的结构，FPD(4)的检测面的纵向相对于相位光栅(5)中的吸收体的延伸方向倾斜。于是，拍进自身像的条纹图案的位置(相位)根据检测面的位置的不同而不同。因而，认为能够实现与进行检测面上的拍进自身像的位置互不相同的多次摄影来获得多个自身像相同的效果。但是，如果仅这样的话，则被摄体的特定的位置处的自身像的相位固定为一个。因此，根据本发明的结构，设为一边改变摄像系统(3、4、5)与被摄体的相对位置一边进行摄影。