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公开(公告)号:CN104916692A
公开(公告)日:2015-09-16
申请号:CN201410397429.9
申请日:2014-08-13
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L29/78 , H01L23/48 , H01L23/488 , H01L23/367 , H01L21/60
CPC classification number: H01L29/2003 , H01L21/30612 , H01L21/6836 , H01L21/78 , H01L23/3677 , H01L23/49827 , H01L24/05 , H01L24/11 , H01L24/13 , H01L24/14 , H01L24/16 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L24/73 , H01L29/4175 , H01L29/452 , H01L29/66462 , H01L29/7786 , H01L2221/68327 , H01L2221/6834 , H01L2224/0401 , H01L2224/04026 , H01L2224/05155 , H01L2224/05644 , H01L2224/1146 , H01L2224/13013 , H01L2224/13015 , H01L2224/13111 , H01L2224/14051 , H01L2224/14515 , H01L2224/16013 , H01L2224/16227 , H01L2224/16235 , H01L2224/29013 , H01L2224/29111 , H01L2224/32013 , H01L2224/32227 , H01L2224/32235 , H01L2224/73103 , H01L2224/81444 , H01L2224/83444 , H01L2924/01047 , H01L2924/01029 , H01L2924/00014 , H01L2924/00012
Abstract: 本发明提供一种能够实现电极的连接部分的电传导性或热传导性的提高的半导体装置及其制造方法。根据一实施方式,半导体装置具备半导体芯片,该半导体芯片具有氮化物半导体层、以及设置于上述氮化物半导体层的控制电极、第一主电极和第二主电极。进而,上述装置具备支撑体,该支撑体具有基板、以及设置于上述基板的控制端子、第一主端子和第二主端子。进而,上述半导体芯片的上述控制电极、上述第一主电极以及上述第二主电极与上述支撑体相对置地设置于上述支撑体。进而,上述半导体芯片的上述控制电极、上述第一主电极以及上述第二主电极分别与上述支撑体的上述控制端子、上述第一主端子以及上述第二主端子电连接。