半导体记忆装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101345082A

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200810099898.7

    申请日:2008-06-06

    CPC classification number: G11C11/412 G11C11/419

    Abstract: 谋取SRAM的动作范围的扩大,和相对于多列存储单元列具有一个输出入电路的SRAM的小面积化。在具有第一及第二负载晶体管(ML1、ML2)、第一及第二驱动晶体管(MD1、MD2)、和第一及第二存取晶体管(MA1、MA2)的存储单元(20)中,附加了:介于第一比特线(BL)及第一记忆节点(D)之间的,且具有连接于第一列线(CL1)的栅极端子的第三存取晶体管(WA1),和介于第二比特线(NBL)和第二记忆节点(ND)之间的,且具有连接于第二列线(CL2)的栅极端子的第四存取晶体管(WA2)。

    半导体存储装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102834869A

    公开(公告)日:2012-12-19

    申请号:CN201180017622.X

    申请日:2011-04-22

    CPC classification number: G11C7/18 G11C7/12 G11C11/413 G11C2207/002

    Abstract: 本发明提供一种半导体存储装置。晶体管(TP0)具有与电源节点连接的源极、与局部位线(104)连接的漏极、以及与写入全局位线(107)连接的栅极。晶体管(TP1)具有与电源节点连接的源极、与局部位线(105)连接的漏极、以及与写入全局位线(106)连接的栅极。晶体管(TN0)具有与写入全局位线(106)连接的源极、与局部位线(104)连接的漏极、以及被提供控制信号(PASS )的栅极。晶体管(TN1)具有与写入全局位线(107)连接的源极、与局部位线(105)连接的漏极、以及被提供控制信号(PASS )的栅极。读出电路(112)与局部位线(104、105)和读出全局位线(108、109)连接。

    输入电路
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103502826A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201280021157.1

    申请日:2012-05-08

    Abstract: 组合电路根据第1及第2输入信号来生成第1及第2内部信号。第1主锁存电路有选择地取入扫描输入信号及第1内部信号并加以保持,基于取入并保持的信号来生成第1输出信号及第1中间信号。第1从锁存电路有选择地取入第1中间信号及第2内部信号并加以保持,基于取入并保持的信号来生成第2输出信号及扫描输出信号。减低采用了扫描路径试验方式的半导体集成电路所具备的输入电路的电路规模及耗电。

    半导体存储装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101785064A

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN200980100212.4

    申请日:2009-02-27

    Inventor: 小池刚

    CPC classification number: G11C8/16 G11C11/412 G11C11/419

    Abstract: 本发明提供一种半导体存储装置。在存储单元(100)中,由开关用晶体管(31)、复位用晶体管(32)、输出布线驱动用晶体管(33)构成将读取位线(RBIT)作为输出布线的读取电路(30)。开关用晶体管(31)根据读取字线(/RWL0)的控制信号连接存储电路(10)的数据保持节点(MD)和控制线(DR)。复位用晶体管(32)根据复位控制信号(RST)对控制线(DR)进行复位。输出布线驱动用晶体管(33)具有与控制线(DR)连接的栅极、与读取位线(RBIT)连接的漏极、与接地电源连接的源极。

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