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公开(公告)号：CN118731623A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410815834.1
申请日：2024-06-24
Applicant: 扬州大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种半导体器件特性测试及温度监测系统与方法，通过LabVIEW软件编程，搭建用户界面、程序控制端、实验平台；实验平台中进一步设计测温模块、示波器模块、特性曲线测试模块、电压输出模块；实现对半导体器件电压、电流、信号波形、温度等多种参数的实时监测和分析。本发明具备多通道测试的能力，可以同时测量和监测多个样品；并且本发明支持多个试验的并行执行，这意味着不仅可以同时测试多个样品，还可以在同一时间内控制不同仪器执行多个不同类型的试验，在同一时间内获得更多的数据，显著提高了测试的效率，节省了时间和资源。同时，LabVIEW的图形化编程特性使其易于操作和使用，降低了操作人员的技术门槛。
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公开(公告)号：CN118551643A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410608965.2
申请日：2024-05-16
Applicant: 扬州大学
IPC: G06F30/27 , G06N3/0442 , G06N3/045 , G06N3/082 , G06F18/27 , G06F18/15 , G06F18/214 , G06F18/21 , G06N3/048 , G06F123/02
Abstract: 本发明公开了一种基于LSTM的仪表放大器电离总剂量效应预测方法，包括：通过实验获取仪表放大器电离总剂量效应的实验数据，将实验数据分为训练集和测试集，然后进行归一化处理，再将归一化后的实验数据处理成能够输入LSTM的时序序列；通过Attention机制，将时序序列中的向量乘对应不同的参数矩阵后输入到LSTM中，通过输入门、遗忘门和输出门对输入数据进行筛选；采用五折交叉验证来确定LSTM的隐藏层中最佳神经元数量和训练轮数；加入dropout机制层来避免过拟合问题；神经网络训练完成后，通过决定系数R2对模型进行评估；利用达到精度需求的LSTM模型进行总剂量辐照衰退数据外推预测。
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公开(公告)号：CN118244078A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202410402049.3
申请日：2024-04-03
Applicant: 扬州大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种基于LabVIEW和神经网络的器件伏安特性测试方法，利用数字源表对器件伏安特性测试进行供电，通过LabVIEW虚拟仪器对所述数字源表实现自动化控制并实时读取数字源表的测试数据；建立LabVIEW与Python之间的通信，在测试过程中通过Python来调用已训练完成的神经网络模型对器件的伏安特性进行实时预测，将预测数据与测试数据相对比，筛选出测试中的异常数据；其中，所述预测数据与测试数据在LabVIEW中以图像形式展现。本发明实现了对所有硬件的自动化控制以及图形化显示实时测试结果，并实现通过预测数据与测试数据比对来发现测试中的异常数据。
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公开(公告)号：CN114492188A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202210087323.3
申请日：2022-01-25
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于神经网络的质子在器件中能量沉积预测方法，通过建立反应目标系统特性的数据库，搭建BP神经网络并进行优化训练，通过确定的最优网络模型与预测的数据集进行预测，通过本发明预测能量沉积与实际能量沉积相比，总体准确率保持在90％以上，只有个别预测结果有所偏差，误差率在15％左右。因此，本发明基于神经网络进行能量沉积预测可以实现沉能量积快速准确地预测，解决了实验方法和模拟仿真方法带来的人力、物力以及时间成本等问题。
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公开(公告)号：CN118641912A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410572797.6
申请日：2024-05-10
Applicant: 扬州大学
IPC: G01R31/26 , G06F30/31 , G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种宽禁带半导体器件电学特性测试与预测方法，利用数字源表对待测的半导体器件进行供电；通过LabVIEW平台编写控制程序，实现对数字源表的自动化控制，测试器件的电学特性，并对数字源表采集的测试数据进行读取和保存；根据测试数据，使用Origin软件对半导体器件的电学特性曲线进行拟合，得到半导体器在高压大电流条件下的电学特性预测数据。本发明通过利用LabVIEW软件构建综合测试系统，实现对宽禁带半导体器件的特性进行精确测试，并创新地在LabVIEW中调用了Origin软件的数据分析拟合功能，基于实测数据外推预测其在高电压大电流工作条件下的性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114295951B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202111540865.3
申请日：2021-12-16
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种功率场效应晶体管器件单粒子烧毁测试平台，包括测试板、上位机和外加电源。测试板包括电源转换模块、DSP模块、若干大功率碳化硅MOSFET栅极驱动模块以及若干大功率碳化硅MOSFET开关管。测试板上设有多个待测器件，大功率碳化硅MOSFET开关管用于控制各待测器件的导通与关闭。外加电源的高压直流电源用于给待测器件施加漏源电压，负低压电源用于给待测器件施加一个负的栅源电压。本发明可通过上位机选择具体某一个待测器件进行SEB测试，从而在人机交互界面实时显示出辐照时，器件在关断状态下，可获得器件的SEB阈值电压，从而为其辐射环境应用的选型及防护加固提供技术支持。
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公开(公告)号：CN114817206B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202210397578.X
申请日：2022-04-15
Applicant: 扬州大学
IPC: G06F16/21 , G06F16/215 , G06F16/2458 , G06F16/25 , G06F16/26
Abstract: 本发明公开了一种航天器在轨空间风险管理系统，包括数据处理模块、载荷状态监视模块和环境态势显示模块，数据处理模块对航天器回传的数据进行预处理，包括三个子模块：数据解包、滤波处理和数据存储，以还原物理量、对缺失的数据进行卡尔曼滤波处理计算获得缺失数据的预估值、管理数据并存储；载荷状态监视模块读取所述数据处理模块处理后的载荷状态数据，按照选择的时间点或时间范围调用数据库相应的载荷数据，基于该载荷数据计算该时间范围内航天器所处空间环境的载荷数据平均值并显示，将该计算结果生成报表保存；环境态势显示模块按照选择的时间点或时间范围读取航天器的环境态势，并计算该时间点前后一段时间内环境态势的平均值并显示。
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公开(公告)号：CN116306428A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310283439.9
申请日：2023-03-22
Applicant: 扬州大学 , 扬州扬福科技有限公司
IPC: G06F30/34 , G06T17/20 , G06F30/331
Abstract: 本发明公开了一种SRAM型FPGA的辐射效应仿真方法，采用器件级建模仿真和电路级建模仿真相结合的方式，可以实现FPGA总剂量效应和单粒子效应协合作用的模拟仿真，分析多种辐射效应对FPGA工作状态的影响，解决了加速器资源有限、辐照粒子能量不易调节、经济成本高的问题，有助于掌握器件内部微观参数变化和揭示损伤机理，可以实现对器件辐射损伤敏感性评价，为开展FPGA抗辐射评价和加固设计提供技术支撑，具有经济、便捷等特点，可以用于器件抗辐照能力的评价中，有助于提高器件在航天工程应用中可靠性。
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公开(公告)号：CN114817206A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210397578.X
申请日：2022-04-15
Applicant: 扬州大学
IPC: G06F16/21 , G06F16/215 , G06F16/2458 , G06F16/25 , G06F16/26
Abstract: 本发明公开了一种航天器在轨空间风险管理系统，包括数据处理模块、载荷状态监视模块和环境态势显示模块，数据处理模块对航天器回传的数据进行预处理，包括三个子模块：数据解包、滤波处理和数据存储，以还原物理量、对缺失的数据进行卡尔曼滤波处理计算获得缺失数据的预估值、管理数据并存储；载荷状态监视模块读取所述数据处理模块处理后的载荷状态数据，按照选择的时间点或时间范围调用数据库相应的载荷数据，基于该载荷数据计算该时间范围内航天器所处空间环境的载荷数据平均值并显示，将该计算结果生成报表保存；环境态势显示模块按照选择的时间点或时间范围读取航天器的环境态势，并计算该时间点前后一段时间内环境态势的平均值并显示。
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公开(公告)号：CN114295951A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111540865.3
申请日：2021-12-16
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种功率场效应晶体管器件单粒子烧毁测试平台，包括测试板、上位机和外加电源。测试板包括电源转换模块、DSP模块、若干大功率碳化硅MOSFET栅极驱动模块以及若干大功率碳化硅MOSFET开关管。测试板上设有多个待测器件，大功率碳化硅MOSFET开关管用于控制各待测器件的导通与关闭。外加电源的高压直流电源用于给待测器件施加漏源电压，负低压电源用于给待测器件施加一个负的栅源电压。本发明可通过上位机选择具体某一个待测器件进行SEB测试，从而在人机交互界面实时显示出辐照时，器件在关断状态下，可获得器件的SEB阈值电压，从而为其辐射环境应用的选型及防护加固提供技术支持。
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