公开(公告)号：CN103983429B

公开(公告)日：2016-09-21

申请号：CN201410164419.0

申请日：2014-04-22

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 钟磊 ,  周详 ,  郑成龙 ,  李福生 ,  花醒飞 ,  熊衍建 ,  于勇 ,  季永康

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提出了一种发光面亮度均匀性分析方法，其包括：亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；形状判断步骤，判断发光面的形状；亮度均匀性分析步骤，根据发光面的形状，对发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。本发明通过测量整个发光面的亮度数据，并以此作为亮度均匀性分析的基础，能够降低在采用目前亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀分析时产生的偏差；此外，本发明提出根据发光面的形状的不同来对亮度均匀性进行分析，能够提高亮度均匀性分析结果的准确度。

公开(公告)号：CN103983429A

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201410164419.0

申请日：2014-04-22

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 钟磊 ,  周详 ,  郑成龙 ,  李福生 ,  花醒飞 ,  熊衍建 ,  于勇 ,  季永康

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提出了一种发光面亮度均匀性分析方法，其包括：亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；形状判断步骤，判断发光面的形状；亮度均匀性分析步骤，根据发光面的形状，对发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。本发明通过测量整个发光面的亮度数据，并以此作为亮度均匀性分析的基础，能够降低在采用目前亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀分析时产生的偏差；此外，本发明提出根据发光面的形状的不同来对亮度均匀性进行分析，能够提高亮度均匀性分析结果的准确度。