半导体芯片,半导体集成电路及选择半导体芯片的方法

    公开(公告)号:CN1402347A

    公开(公告)日:2003-03-12

    申请号:CN02118437.2

    申请日:2002-04-25

    Inventor: 甲斐睦章

    Abstract: 以层叠方式安置在一个衬底上的半导体芯片和应用此半导体芯片的半导体集成电路装置。一个预定的半导体芯片被来自外部单元的芯片选择信号选中,尽管芯片有相同布线图形且数目很多地彼此层叠。半导体集成电路装置通过应用该半导体芯片构成。半导体芯片包括排列在前表面保持一个预定间距的多个第一电极端子来接收参考信号以便产生比较信号,比较信号和芯片选择信号在一个比较电路中比较来选择一个芯片,多个第二电极端子排列在和前表面对立的后表面,每个相比于多个第一电极端子偏离一个间距,它们输出参考信号输入到第一电极端子,以及用于电连接偏离一个间距的第一第二电极端子的连接部分。

    半导体器件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1750264A

    公开(公告)日:2006-03-22

    申请号:CN200510051138.5

    申请日:2005-02-28

    CPC classification number: H03F3/45183 H03F1/52 H03F1/523 H03F3/45475

    Abstract: 本发明提供了一种半导体器件。电容器具有MOS栅极结构,其中在栅极接线端和接地端之间具有栅极绝缘膜作为电介质。开关单元连接在栅极接线端和电源之间。接地端连接到地。配备有开关控制电路,其将开关单元的状态在导通态和非导通态之间切换。预定电压和栅极接线端电压被分别输入到开关控制电路的正相输入端和反相输入端。当栅极接线端电压高于预定电压时开关单元导通,当栅极接线端电压低于预定电压时开关单元非导通。

    半导体器件
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100390994C

    公开(公告)日:2008-05-28

    申请号:CN200510051138.5

    申请日:2005-02-28

    CPC classification number: H03F3/45183 H03F1/52 H03F1/523 H03F3/45475

    Abstract: 本发明提供了一种半导体器件。电容器具有MOS栅极结构,其中在栅极接线端和接地端之间具有栅极绝缘膜作为电介质。开关单元连接在栅极接线端和电源之间。接地端连接到地。配备有开关控制电路,其将开关单元的状态在导通态和非导通态之间切换。预定电压和栅极接线端电压被分别输入到开关控制电路的正相输入端和反相输入端。当栅极接线端电压高于预定电压时开关单元导通,当栅极接线端电压低于预定电压时开关单元非导通。

    半导体芯片,半导体集成电路及选择半导体芯片的方法

    公开(公告)号:CN1220263C

    公开(公告)日:2005-09-21

    申请号:CN02118437.2

    申请日:2002-04-25

    Inventor: 甲斐睦章

    Abstract: 以层叠方式安置在一个衬底上的半导体芯片和应用此半导体芯片的半导体集成电路装置。一个预定的半导体芯片被来自外部单元的芯片选择信号选中,尽管芯片有相同布线图形且数目很多地彼此层叠。半导体集成电路装置通过应用该半导体芯片构成。半导体芯片包括排列在前表面保持一个预定间距的多个第一电极端子来接收参考信号以便产生比较信号,比较信号和芯片选择信号在一个比较电路中比较来选择一个芯片,多个第二电极端子排列在和前表面对立的后表面,每个相比于多个第一电极端子偏离一个间距,它们输出参考信号输入到第一电极端子,以及用于电连接偏离一个间距的第一第二电极端子的连接部分。

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