公开(公告)号：CN1206719C

公开(公告)日：2005-06-15

申请号：CN02152681.8

申请日：2002-11-29

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 丸山茂幸 ,  渡辺直行 ,  田代一宏 ,  小桥直人 ,  井川治 ,  藤沢哲也

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01R1/0675 ,  G01R3/00 ,  H05K7/1069

Abstract: 本发明涉及接触器、制造此接触器的方法、以及使用此接触器的测试方法，其中，接触器具有接触器基片和在接触器基片上形成的多个接触电极。通过在金属引线的接合到接触器基片的一端和另一端之间弯曲金属引线而形成每一个接触电极。由切割面形成斜面。在接触电极的顶部形成因拉伸断裂而形成的断裂面。

公开(公告)号：CN1449009A

公开(公告)日：2003-10-15

申请号：CN02152681.8

申请日：2002-11-29

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 丸山茂幸 ,  渡辺直行 ,  田代一宏 ,  小桥直人 ,  井川治 ,  藤沢哲也

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01R1/0675 ,  G01R3/00 ,  H05K7/1069

Abstract: 本发明涉及接触器、制造此接触器的方法、以及使用此接触器的测试方法，其中，接触器具有接触器基片和在接触器基片上形成的多个接触电极。通过在金属引线的接合到接触器基片的一端和另一端之间弯曲金属引线而形成每一个接触电极。由切割面形成斜面。在接触电极的顶部形成因拉伸断裂而形成的断裂面。