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公开(公告)号:CN116417041A
公开(公告)日:2023-07-11
申请号:CN202310411108.9
申请日:2023-04-12
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412 , H10B10/00 , G11C11/419 , G11C7/10 , G11C7/12 , G11C7/18 , G11C8/08 , G11C8/14
Abstract: 本发明涉及一种基于极性加固的14T抗辐照SRAM单元、电路结构、芯片和模块。SRAM单元包括六个NMOS晶体管N1~N6和八个PMOS晶体管P1~P8。P1、P2、P3与P4作为上拉管,P5和P6作为下拉管,P5和P6的状态分别由存储节点Q和QN控制。P2和N2,P3和N3分别构成反相器,N1和N4分别下拉两个反相器并且交叉耦合。两个主存储节点Q与QN通过N5、N6分别与位线BL和BLB电连接。两个冗余存储节点S0与S1通过P7、P8分别与位线BL和BLB电连接。其中,N5、N6由字线WL控制,P7、P8由字线WLB控制。本发明的SRAM单元在写入的过程中,通过N5、P7和N6、P8同时向存储节点Q\S0与QN\S1写入数据,提高了写入的速度,降低了电路的功耗,同时采用极性加固技术,提高了SRAM单元的抗SEU能力。
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公开(公告)号:CN116741228A
公开(公告)日:2023-09-12
申请号:CN202310483229.4
申请日:2023-04-27
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/4094 , G11C11/4096
Abstract: 本发明涉及一种14T抗辐照的SRAM存储单元及基于此的电路模块、结构和芯片。SRAM存储单元包括6个NMOS晶体管N1~N6和8个PMOS晶体管P1~P8。P1、P2、P5与P6作为上拉管,P3和P4作为下拉管,它们的状态分别由存储节点Q和QN控制。Q与QN通过N5与N6分别与位线BL和位线BLB电连接。冗余存储节点S0与S1通过P7与P8分别与位线BL和位线BLB电连接。本发明采用极性加固原理进行设计,保证了冗余存储节点S0、S1的稳定性,同时利用源隔离技术提升了存储节点Q、QB的稳定性。本发明的SRAM存储单元在写入数据的过程中,位线通过N5、N6、P7、P8同时向内部节点Q\QB与S0\S1写入数据,大大提高了单元的数据写入速度以及噪声容限,降低了存储单元的功耗。
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