公开(公告)号：CN118655163B

公开(公告)日：2025-03-18

申请号：CN202410880649.0

申请日：2024-07-02

Applicant: 复旦大学宁波研究院

Inventor： 张俊然 ,  雷光寅 ,  朱德彪 ,  马宏平 ,  刘盼 ,  张清纯

IPC: G01N23/207 ,  G01L1/25 ,  G01L5/00

Abstract: 一种碳化硅缺陷密度的无损测量方法，包括以下步骤：对待测碳化硅样品进行XRD检测，得到摇摆曲线，进一步获得待测碳化硅样品半高宽；对标准样品进行XRD检测，得到摇摆曲线，进一步获得标准样品半高宽；按照缺陷密度计算公式计算，得到碳化硅缺陷密度；所述缺陷密度计算公式为：位错密度＝(待测碳化硅样品半高宽‑标准样品半高宽)2/(4.35×b2)×10‑4；其中，b为缺陷的伯氏矢量。本发明在充分研究碳化硅缺陷密度及残余应力和摇摆曲线的关系的基础上，通过测量摇摆曲线的半高宽，可以无损测量碳化硅的缺陷密度，进一步通过摇摆曲线的峰位可以计算残余应力，从而在不损伤衬底材料的基础上，能够实现碳化硅缺陷密度的快速、准确测量，效率高且成本低。

公开(公告)号：CN118655163A

公开(公告)日：2024-09-17

申请号：CN202410880649.0

申请日：2024-07-02

Applicant: 复旦大学宁波研究院

Inventor： 张俊然 ,  雷光寅 ,  朱德彪 ,  马宏平 ,  刘盼 ,  张清纯

IPC: G01N23/207 ,  G01L1/25 ,  G01L5/00

Abstract: 一种碳化硅缺陷密度的无损测量方法，包括以下步骤：对待测碳化硅样品进行XRD检测，得到摇摆曲线，进一步获得待测碳化硅样品半高宽；对标准样品进行XRD检测，得到摇摆曲线，进一步获得标准样品半高宽；按照缺陷密度计算公式计算，得到碳化硅缺陷密度；所述缺陷密度计算公式为：位错密度＝(待测碳化硅样品半高宽‑标准样品半高宽)2/(4.35×b2)×10‑4；其中，b为缺陷的伯氏矢量。本发明在充分研究碳化硅缺陷密度及残余应力和摇摆曲线的关系的基础上，通过测量摇摆曲线的半高宽，可以无损测量碳化硅的缺陷密度，进一步通过摇摆曲线的峰位可以计算残余应力，从而在不损伤衬底材料的基础上，能够实现碳化硅缺陷密度的快速、准确测量，效率高且成本低。

公开(公告)号：CN119783539A

公开(公告)日：2025-04-08

申请号：CN202411972348.7

申请日：2024-12-30

Applicant: 复旦大学宁波研究院

Inventor： 张俊然 ,  刘盼 ,  樊嘉杰 ,  雷光寅 ,  马宏平 ,  张清纯

IPC: G06F30/27 ,  G16C10/00 ,  G06F119/14

Abstract: 本申请提供一种基于机器学习和分子动力学的仿真方法及相关装置，应用于半导体制造领域，在接收工艺菜单后；针对工艺菜单中的每一个工艺条件，将工艺条件输入至力场预测模型，输出得到所述工艺条件下的机器学习力场；最后，依据所述工艺条件下的机器学习力场进行分子动力学仿真，得到所述工艺条件下的仿真结果。通过机器学习方法，学习高精度的第一性原理计算数据，生成机器学习力场，模拟碳化硅在离子注入过程中发生的相互作用，从而对离子注入工艺进行仿真，实现高精度和高效的仿真计算，进而综合考虑不同工艺条件对器件设计工艺的影响，开发特定的工艺菜单，为碳化硅离子注入提供优化方案。