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公开(公告)号:CN103928560A
公开(公告)日:2014-07-16
申请号:CN201410177611.3
申请日:2014-04-29
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: H01L31/09 , H01L27/146
CPC classification number: H01L27/1463 , H01L27/14603
Abstract: 本发明涉及一种应用在粒子探测器、辐射探测器中的辐射探测器像素结构。传感器电荷收集电极为三维电极由重掺杂硅沟槽构成,每个像素电极由硅深沟槽结构隔离开,传感器电荷收集电极和像素隔离都为深沟槽结构,且相等深度。传感器电荷收集电极和衬底硅杂质类型相反,即收集电极为P型,衬底硅为N型;收集电极为N型,衬底硅为P型;收集电极中杂质浓度要比衬底硅浓度大6~7个数量级。本发明提出了一种辐射探测器像素结构,有效提高像素对电荷的收集效率,改善了电荷收集时间,屏蔽了像素间串扰噪声,且降低了传感器反偏电压,以及像素级功耗。