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公开(公告)号：CN117805920A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311841992.6
申请日：2023-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种探测器装置及射线辐照装置，涉及辐射扫描技术领域。一种探测器装置，包括：探测器盒，限定出第一容纳空间，探测器盒的一侧设置有第一狭缝供射线穿过；屏蔽组件，位于第一容纳空间内，且限定出第二容纳空间，屏蔽组件的一侧设置有第二狭缝供射线穿过，第二狭缝与第一狭缝对准；S个探测器，位于第二容纳空间内，被配置为探测穿过第一狭缝及第二狭缝的射线，S为大于或等于1的整数；第一密封件，被配置为遮盖第一狭缝，其中，第一密封件允许射线穿过以进入第一狭缝；其中，第一密封件与探测器盒相配合使第一容纳空间形成为密封防水空间。
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公开(公告)号：CN118258832A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202410361789.7
申请日：2024-03-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01V5/20 , H05K5/02 , H05K5/06
Abstract: 本公开提供一种防水组件以及使用该防水组件的检查设备，涉及安全检查领域。该防水组件包括：罩体，通过N块罩板拼接得到，在内部形成有容纳空间，其中相拼接的任两块罩板之间具有缝隙，N为大于或等于2的整数；骨架，置于容纳空间内，骨架包括M根骨条，每根骨条上形成有沟槽，沟槽对准至少一个缝隙，M为大于或等于1的整数；其中，沟槽被配置为承接从所对准的至少一个缝隙进入的水，以将水引导至特定位置。
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公开(公告)号：CN117805146A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311842768.9
申请日：2023-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/02
Abstract: 本公开提供了一种射线辐照装置，涉及辐射检测技术领域。一种射线辐照装置，包括：射线源组件，包括具有第一狭缝的第一屏蔽件，射线源被配置为发出射线穿过第一狭缝扫描检测通道内的目标对象；探测器组件，包括具有第二狭缝的第二屏蔽件，探测器组件被配置为探测穿过第二狭缝的射线；安装框架组件，其中，射线源组件和探测器组件安装在安装框架组件上以限定出检测通道，第一屏蔽件和第二屏蔽件是分离的，两者各自单独地被固定至安装框架组件分别作为检测通道的一侧壁；其中，射线源组件上的第一标记与探测器组件上的第二标记位于射线的出束面，第一标记与第一狭缝对齐，第二标记与第二狭缝对齐。
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公开(公告)号：CN117653182A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311773943.3
申请日：2023-12-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本申请公开了一种准直器组件，包括：至少一个位置调节部分，所述至少一个位置调节部分位于准直器组件的端部，用于调整准直器组件的位置；准直器主体部分，所述至少一个位置调节部分位于所述准直器主体部分上，所述准直器主体部分包括第一调节构件、左准直器构件、右准直器构件以及位于左准直器构件和右准直器构件上的调节孔，所述左准直器构件和右准直器构件并排设置并且在之间设置有准直器狭缝，每个调节构件穿过对应的调节孔，以调节准直器狭缝的宽度；屏蔽盒，所述屏蔽盒固定到所述准直器主体部分，位于与所述位置调节部分相反的侧面，在屏蔽盒的顶部和底部均具有与所述准直器狭缝对应的缝隙。
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公开(公告)号：CN117554394A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311837793.8
申请日：2023-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/02
Abstract: 提供用于对悬挂体进行辐射检测的检测设备，包括：传输装置，包括悬挂机构和移动机构，悬挂机构用于悬挂待检测的悬挂体，移动机构用于移动处于悬挂状态的悬挂体，使得悬挂体沿第一方向移动通过检测通道；射线源，设置在检测通道的第一侧，用于发出射线；探测器，设置在检测通道的第二侧，第一侧和第二侧分别为检测通道相对的两侧，探测器用于接收从射线源发出且经过悬挂体的射线；辐射防护结构，用于防护射线泄露至检测通道外，包括第一辐射防护墙、第二辐射防护墙和防护底板，第一辐射防护墙和第二辐射防护墙分别位于检测通道的第一侧和第二侧，防护底板在第二方向上位于射线源和探测器之间，且位于检测区域的地面上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117554393A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311836612.X
申请日：2023-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/02
Abstract: 提供一种用于对悬挂体进行辐射检测的检测设备，包括：传输装置，包括悬挂机构和移动机构，悬挂机构用于悬挂待检测的悬挂体，移动机构用于移动处于悬挂状态的悬挂体，使得悬挂体沿第一方向移动通过检测通道；射线源，设置在检测通道的第一侧，用于发出射线；探测器，设置在检测通道的第二侧，第一侧和第二侧分别为检测通道相对的两侧，探测器用于接收从射线源发出且经过悬挂体的射线；位姿调节装置，位姿调节装置的至少一部分位于检测通道内。位姿调节装置的至少一部分在第二方向上位于射线源和探测器之间，使得位姿调节装置能够在悬挂体移动经过检测区域的过程中实时调节悬挂体的位姿。
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公开(公告)号：CN118130514A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410361784.4
申请日：2024-03-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01L5/00
Abstract: 本发明提供一种检查设备，包括：承载框架、检查装置和压力检测部；检查装置安装于所述承载框架内部，所述检查装置被配置为向待检查对象发出辐射射线，以获得所述待检查对象的扫描图像；压力检测部与所述承载框架连接，其中，所述压力检测部包括N个检测机构，N个所述检测机构用于检测所述承载框架在N个位置施加的压力值，N为大于或等于1的整数。本发明的检查设备，承载框架的底部设置有多个检测机构，检测机构用于检测承载框架对应位置的压力值，基于压力值便于对承载框架受力较大的区域及时采取措施，使得承载框架整体受力均衡，进而避免与检查设备接触的地面受损，保障检查设备的可靠运行。
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公开(公告)号：CN119521631A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411945004.7
申请日：2024-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H05K7/20 , G01N23/046 , A61B6/00 , H05K5/02 , H05K5/06
Abstract: 本发明提供一种检查设备，包括：扫描通道；第一扫描装置，被配置为朝向扫描通道的待检对象辐射射线，以形成第一扫描图像；第二扫描装置，设于第一扫描装置的一侧，被配置为朝向待检对象辐射射线，以形成第二扫描图像，其中，第一扫描装置和第二扫描装置具有不同的成像方式；第一罩体，其内部形成有第一容纳空间，第一容纳空间内容纳第一扫描装置；第二罩体，其内部形成有第二容纳空间，第二容纳空间内容纳第二扫描装置；以及散热装置，设于第一罩体和第二罩体中的一者，用于调节第一罩体和第二罩体内的温度。本发明的检查设备，通过散热装置实现对第一扫描装置和第二扫描装置的按需散热，既能够满足对两个扫描装置的散热需求，同时能量消耗低。
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公开(公告)号：CN117805919A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311841511.1
申请日：2023-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/22
Abstract: 本公开提供了一种探测器装置及射线辐照装置，涉及辐射扫描技术领域。该探测器装置，包括：支架部，限定出安装空间；S个承载部，位于安装空间内，每一承载部上设置有定位标记，每一承载部与支架部连接，S为大于或等于2的整数；S个探测器，一一对应地安装至S个承载部，其中，每个探测器的晶体部与所安装承载部上的定位标记对齐，晶体部用于接收射线；其中，S个定位标记置于同一条直线，该条直线位于射线的出束面。
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公开(公告)号：CN212402519U
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN202021049892.1
申请日：2020-06-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 一种射线检查设备，包括：支撑框架，所述支撑框架内形成适用于检查目标的检查空间，所述支撑框架包括设置在所述检查空间两侧的两个直立框架；传输机构，包括安装在两个所述直立框架的下部之间的两个滚轮、以及环绕所述滚轮转动的输送带；以及承载机构，包括安装在两个所述直立框架的下部之间的支撑板，所述输送带的移动到上部的部分被滑动地支撑在所述支撑板上。传输机构设置在由支撑框架限定的内部空间的内部，传输机构与支撑框架形成一体式结构，并且传输机构不占用支撑框架的外部的空间，由此降低了整个射线检查设备的最大高度。
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