检测设备
    1.
    发明公开
    检测设备 审中-公开

    公开(公告)号:CN119959257A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202510433931.9

    申请日:2025-04-08

    Abstract: 本发明提供一种检测设备,包括:检测部件,具有相对的第一侧和第二侧,检测部件包括检测通道以及设于检测通道周侧的检测组件;入口通道部件设于检测部件的第一侧,入口通道部件包括入口通道;出口通道部件设于检测部件的第二侧,出口通道部件包括出口通道,入口通道、检测通道和出口通道相互连通,入口通道部件构造有第一开口,第一开口与检测通道连通,第一开口能够在打开状态和闭合状态之间切换;和/或出口通道部件构造有第二开口,第二开口与检测通道连通,第二开口能够在打开状态和闭合状态之间切换。本发明的检测设备,能够在第一开口和/或第二开口处对检测组件进行调试或检修,有利于调试作业或检修作业的便利性和快捷性。

    X射线发生器和检测设备
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119545629A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411735093.2

    申请日:2024-11-28

    Abstract: 本公开提供了一种X射线发生器和检测设备。其中,该X射线发生器包括:倍压整流电路、至少一个X射线管和射线屏蔽结构。倍压整流电路包括多个输出端。X射线管的阳极与该多个输出端中的第一输出端电连接,X射线管的阴极与该多个输出端中的第二输出端电连接,其中,第一输出端的输出电压高于第二输出端的输出电压。射线屏蔽结构包括封装体,封装体上设置有贯穿的射线出射孔,其中,倍压整流电路和X射线管设置于封装体的内部,其中,封装体具有绝缘性能和射线屏蔽性能。

    检测设备
    4.
    发明公开
    检测设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN119510456A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411733296.8

    申请日:2024-11-28

    Abstract: 本发明提供一种检测设备,包括:检测部件,具有相对的第一侧和第二侧;入口通道部件,设于所述检测部件的第一侧;以及出口通道部件,设于所述检测部件的第二侧;其中,所述检测部件包括:支撑框架限定出检测通道,所述支撑框架为一体成型件;辐射源,设于所述支撑框架;探测器,设于所述支撑框架,且与所述辐射源相对;光栅组件,包括可调光栅,所述可调光栅包括可移动横臂和可移动竖臂,所述可移动横臂设于所述支撑框架的顶壁面,所述可移动竖臂设于所述支撑框架的侧壁面。本发明的检测设备,支撑框架一体成型,支撑框架的安装面具有良好的平面度,有效确保辐射源、探测器和光栅组件安装位置的准确性,进而有利于确保扫描图像的质量。

    用于射线扫描设备的探测器的安装固定结构以及射线扫描设备

    公开(公告)号:CN115598155B

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202110770964.4

    申请日:2021-07-07

    Abstract: 本申请涉及用于射线扫描设备的探测器的安装固定结构以及射线扫描设备,射线扫描设备包括探测器和设置的支撑框架,探测器包括一个或多个探测器组,探测器组经由安装固定结构固定安装到支撑框架上或从支撑框架上拆卸,安装固定结构包括:第一安装部,其固定设置在探测器组上;第二安装部,其固定设置在支撑框架上并且能够与第一安装部直线移动配合,探测器组在第一安装部与第二安装部相互配合的状态下能够沿第二安装部移动到预定安装位置;以及固定装置,其设置在探测器组的沿宽度方向的一侧,用于相对于支撑框架上的安装基准面固定探测器组。

    CT成像系统的成像方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119224019A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202411766788.7

    申请日:2024-12-04

    Abstract: 本发明的实施例提供一种CT成像系统的成像方法,涉及辐射扫描技术领域。CT成像系统包括:成像通道;M个分布式射线源,至少一个分布式射线源包括q个靶点;N个探测器;M个分布式射线源中的至少一个分布式射线源包括的q个靶点沿第一直线间隔排列,第一直线相对于第一方向倾斜布置。成像方法包括:将待成像对象置于成像通道中;控制至少一个分布式射线源的q个靶点发出射线束,以形成成像区域;利用至少一个探测器探测从至少一个分布式射线源发出并穿过待成像对象的射线,并根据探测到的射线生成投影数据;根据投影数据生成待成像对象的计算机断层扫描图像。出束时间间隔基于第一直线的延伸方向相对于第一方向倾斜的倾斜角度确定。

    安检方法、安检装置及安检系统
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118519208A

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202410889083.8

    申请日:2024-07-03

    Abstract: 本发明提供一种安检方法、安检装置及安检系统,安检方法包括:根据被检对象的对象特征确定所述被检对象的目标类别;根据所述目标类别调用算法集合中的至少一个目标算法,所述至少一个目标算法是根据所述目标类别确定的,所述算法集合集成于同一安检设备;通过所述至少一个目标算法对所述被检对象的扫描图像进行识别,生成识别结果。本发明的安检方法,根据目标类别安检设备调用多个目标算法中的至少一个,通过至少一个目标算法对被检对象的扫描图像进行识别,生成识别结果,可以实现一台安检设备有针对性地对各种不同的被检对象进行检测,既有利于提升安检设备的安检效率,同时有利于减小安检设备整体的占用空间。

    变压器、灯丝电源、X射线发生器和CT设备

    公开(公告)号:CN118315169A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202211742837.4

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 提供一种变压器、灯丝电源、X射线发生器和CT设备。变压器包括N个子变压器,N大于等于2,每一个子变压器包括:电路板,包括相对设置的第一表面和第二表面;第一磁芯和第二磁芯,分别设置在电路板的第一表面和第二表面上,第一磁芯和第二磁芯在电路板上的正投影至少部分重叠;多个绕线层,多个绕线层分布在电路板上,多个绕线层在电路板上的正投影至少部分重叠,多个绕线层分别环绕第一磁芯和第二磁芯中至少一个的一部分,多个绕线层中的一些形成子变压器的初级绕组,多个绕线层中的另一些形成子变压器的次级绕组。在N个子变压器中,第i个子变压器的次级绕组与第i+1个子变压器的初级绕组以并联的方式电连接,i大于等于1且小于N。

    物品安检系统及方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118311070A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202211742812.4

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 本公开提供了物品安检系统及方法,可以应用于安检技术领域。物品安检系统包括:至少一个第一检测装置,被配置成对物品进行检测,生成第一检测结果;第一判断装置,被配置成根据第一检测结果,生成第一判断结果,第一判断结果包括第一安全结果和第一非安全结果;至少一个第二检测装置,被配置成对第一判断结果为第一非安全结果的物品进行检测,生成第二检测结果;第二判断装置,被配置成至少根据第二检测结果,生成第二判断结果,第二判断结果包括第二安全结果和第二非安全结果;以及人工安检部,被配置成至少对第二判断结果为第二非安全结果的物品进行人工安检。

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