智能问答方法和装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119917622A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202411978067.2

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本公开涉及智能问答方法和装置。该方法包括:接收输入文本;基于输入文本从向量知识库中获取相似度最高的前N个实体,其中,N是大于等于1的整数;基于前N个实体从双层知识图谱中的顶层知识图谱中获取相应的N个社群;基于输入文本和N个社群的社群摘要由智能问答大语言模型生成多个中间输入文本;基于前N个实体从双层知识图谱中的底层知识图谱中获取相应的N个子图;由智能问答大语言模型生成N个子图的文本描述;基于输入文本、多个中间输入文本、和N个子图的文本描述,由智能问答大语言模型生成全局答案。

    基于语义的图像识别系统及其方法

    公开(公告)号:CN119904867A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202411993359.3

    申请日:2019-09-17

    Abstract: 本申请提供了一种基于语义的图像识别系统,可以包括:透视图获取模块,被配置为获取针对封闭环境中的被检对象的透视图;语义要素提取模块,被配置为提取针对所述透视图中的每一个被检对象的目标语义区域;特征表示模块,被配置为获得针对所述语义区域中的每一个语义区域的特征表示;决策模块,被配置为基于过滤模型以及预定阈值,确定目标特征以识别被检对象;以及显示模块,被配置为显示被检对象的信息。

    静态CT检测设备
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113514482B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202110496380.2

    申请日:2021-05-07

    Abstract: 本发明涉及一种静态CT检测设备,包括:屏蔽体,形成有被检测物能够通过的检测通道;射线源,当被检测物经过所述检测通道时发射用于检测所述被检测物的射线;以及探测器,获取所述射线源发射的、穿过所述检测通道的射线,在所述屏蔽体上形成有开口部,该开口部从所述检测通道的入口延伸至所述检测通道的出口。

    目标区域定位方法、装置、设备、介质和程序产品

    公开(公告)号:CN119741377A

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202411993239.3

    申请日:2020-05-11

    Abstract: 本公开提供了一种定位目标区域的方法,包括:获取被检查物品的体数据,所述体数据对应于多个图像层;基于所述体数据,生成所述被检查物品在第一方向上的第一三维图像;基于所述第一三维图像绘制选取区域,并生成所述选取区域在第二方向上的第二三维图像,所述选取区域由所述体数据的多个图像层中的一个或连续多个图像层构成,所述第一三维图像和所述第二三维图像具有透视效果;以及基于所述第二三维图像确定所述选取区域是否为所述目标区域。

    测试负载装置和高压源的测试方法

    公开(公告)号:CN119689046A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411921713.1

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本公开提供了一种测试负载装置和高压源的测试方法。测试负载装置包括:测试箱体,所述测试箱体包括容纳空间;M个负载单元,位于所述容纳空间中,至少一个所述负载单元包括一个或多个负载;和N个测试接口,位于所述测试箱体的至少一个表面,所述测试接口与所述M个负载单元中的至少一部分电连接。其中,所述N个测试接口包括第一测试接口和第二测试接口,与所述第一测试接口电连接的所有的所述负载单元整体具有第一阻值,与所述第二测试接口电连接的所有的所述负载单元整体具有第二阻值,所述第一阻值不同于所述第二阻值,其中,M和N为大于等于2的正整数。

    一种X射线的检测系统和检测方法

    公开(公告)号:CN110907481B

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN201811086635.2

    申请日:2018-09-18

    Abstract: 本发明实施例公开了一种X射线的检测系统和检测方法,检测系统包括:光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器;第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布;光源发生器,用于发射多列光束信号,每列光束信号包括多条光束信号;第一探测器,用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号;准直器,用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择;第二探测器,用于接收经准直设备选择后的散射光束信号;处理器,用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号,确定待探测物体的检测结果。

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