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公开(公告)号:CN104851859B
公开(公告)日:2017-11-21
申请号:CN201410281358.6
申请日:2014-06-20
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/485 , H01L21/60
CPC classification number: H01L24/02 , H01L23/3192 , H01L23/525 , H01L24/03 , H01L24/05 , H01L24/06 , H01L2224/02311 , H01L2224/02313 , H01L2224/02315 , H01L2224/02331 , H01L2224/0235 , H01L2224/0236 , H01L2224/02372 , H01L2224/02381 , H01L2224/0239 , H01L2224/0361 , H01L2224/0362 , H01L2224/0391 , H01L2224/0401 , H01L2224/05008 , H01L2224/05024 , H01L2224/05147 , H01L2224/05155 , H01L2224/05166 , H01L2224/05184 , H01L2224/05569 , H01L2224/05572 , H01L2224/05647 , H01L2924/30101 , H01L2924/30105 , H01L2924/00014
Abstract: 本发明提供了一种凸块下金属化结构及其形成方法。凸块下金属化结构具有从上向下看呈圆形或者相邻边之间的角大于90°的多边形的再分布通孔。因此,本发明能够改进之后形成的金属层的阶梯覆盖。
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公开(公告)号:CN105390398A
公开(公告)日:2016-03-09
申请号:CN201510323653.8
申请日:2015-06-12
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L21/336 , H01L27/088 , H01L29/06
Abstract: 根据一些实施例,本发明提供了一种形成场效应晶体管(FET)的方法。该方法包括对半导体衬底实施蚀刻工艺,从而在半导体衬底的源极和漏极(S/D)区域中形成凹槽;在凹槽中形成第一半导体的钝化材料层;以及外延生长第二半导体材料,从而在凹槽中形成S/D部件,其中S/D部件通过钝化材料层与半导体衬底间隔开。本发明还涉及金属惰性外延结构。
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公开(公告)号:CN105390398B
公开(公告)日:2021-02-19
申请号:CN201510323653.8
申请日:2015-06-12
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L21/336 , H01L27/088 , H01L29/06
Abstract: 根据一些实施例,本发明提供了一种形成场效应晶体管(FET)的方法。该方法包括对半导体衬底实施蚀刻工艺,从而在半导体衬底的源极和漏极(S/D)区域中形成凹槽;在凹槽中形成第一半导体的钝化材料层;以及外延生长第二半导体材料,从而在凹槽中形成S/D部件,其中S/D部件通过钝化材料层与半导体衬底间隔开。本发明还涉及金属惰性外延结构。
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公开(公告)号:CN104851859A
公开(公告)日:2015-08-19
申请号:CN201410281358.6
申请日:2014-06-20
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/485 , H01L21/60
CPC classification number: H01L24/02 , H01L23/3192 , H01L23/525 , H01L24/03 , H01L24/05 , H01L24/06 , H01L2224/02311 , H01L2224/02313 , H01L2224/02315 , H01L2224/02331 , H01L2224/0235 , H01L2224/0236 , H01L2224/02372 , H01L2224/02381 , H01L2224/0239 , H01L2224/0361 , H01L2224/0362 , H01L2224/0391 , H01L2224/0401 , H01L2224/05008 , H01L2224/05024 , H01L2224/05147 , H01L2224/05155 , H01L2224/05166 , H01L2224/05184 , H01L2224/05569 , H01L2224/05572 , H01L2224/05647 , H01L2924/30101 , H01L2924/30105 , H01L2924/00014
Abstract: 本发明提供了一种凸块下金属化结构及其形成方法。凸块下金属化结构具有从上向下看呈圆形或者相邻边之间的角大于90°的多边形的再分布通孔。因此,本发明能够改进之后形成的金属层的阶梯覆盖。
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