金属惰性外延结构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105390398A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201510323653.8

    申请日:2015-06-12

    Inventor: 蔡俊雄 黄远国

    Abstract: 根据一些实施例,本发明提供了一种形成场效应晶体管(FET)的方法。该方法包括对半导体衬底实施蚀刻工艺,从而在半导体衬底的源极和漏极(S/D)区域中形成凹槽;在凹槽中形成第一半导体的钝化材料层;以及外延生长第二半导体材料,从而在凹槽中形成S/D部件,其中S/D部件通过钝化材料层与半导体衬底间隔开。本发明还涉及金属惰性外延结构。

    金属惰性外延结构
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105390398B

    公开(公告)日:2021-02-19

    申请号:CN201510323653.8

    申请日:2015-06-12

    Inventor: 蔡俊雄 黄远国

    Abstract: 根据一些实施例,本发明提供了一种形成场效应晶体管(FET)的方法。该方法包括对半导体衬底实施蚀刻工艺,从而在半导体衬底的源极和漏极(S/D)区域中形成凹槽;在凹槽中形成第一半导体的钝化材料层;以及外延生长第二半导体材料,从而在凹槽中形成S/D部件,其中S/D部件通过钝化材料层与半导体衬底间隔开。本发明还涉及金属惰性外延结构。

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