半导体装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113206082A

    公开(公告)日:2021-08-03

    申请号:CN202011334091.4

    申请日:2020-11-24

    Abstract: 在此揭露半导体装置中,具有缩小的临界尺寸的背侧互连结构。在一个实施例中,一种半导体装置包含:第一晶体管结构、第一背侧互连结构、电源导线与第一源极/漏极触点。第一晶体管结构在基板的前侧上。第一背侧互连结构在基板的背侧上,第一背侧互连结构包含第一导体特征部,具有锥状侧壁,锥状侧壁具有朝远离基板的方向上渐缩的宽度。电源导线延伸贯穿基板,电源导线电性耦合至第一导体特征部。第一源极/漏极触点从电源导线延伸至第一晶体管结构的第一源极/漏极区。

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