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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101276804B
公开(公告)日：2011-02-02
申请号：CN200810087409.6
申请日：2008-03-27
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/544 , H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2884 , G01R31/2831 , G01R31/2891 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种半导体装置测试线结构、集成电路测试线结构与测试方法。其中，执行集成电路测试的测试线结构包括形成于半导体基底上的切割道区或集成电路晶粒区的测试线接合焊盘阵列、多个形成于接合焊盘区下的测试装置、以及选择性耦接一个测试装置的选择电路。测试线结构将大量的测试装置跨接相同数量的接合焊盘，用以进行参数、可靠度以及功能测试。在传统集成电路测试器中的源测量单元用以在测试装置端点感测并施加预先决定的测试条件，并且在被选择的装置上执行准确的凯式测试。本发明可存取大量的测试装置并产生高准确度的测试参数。
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公开(公告)号：CN1783720A
公开(公告)日：2006-06-07
申请号：CN200510116797.2
申请日：2005-10-28
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H03K19/017 , H03K19/0185
CPC classification number: H03K19/00315
Abstract: 本发明提供一种切换模组和高电压相容输入/输出电路，特别涉及一种低电压和高电压电路之间的输入/输出电路，包括切换元件，本地元件，以及栅极控制逻辑电路。该切换元件提供输出信号至高电压电路，以响应由低电压电路输入的数据输入信号。该本地元件传送该数据输入信号以控制该切换元件的开和关状态。该栅极控制逻辑电路在输出停用模式和输出启用模式下操作。该输出停用模式中，该栅极控制逻辑电路停止该本地元件，以避免漏电电流由其流过。该输出启用模式中，该栅极控制逻辑电路允许该本地元件传送该数据输入信号经过而大致没有压降，因此加强该切换元件的速度。
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公开(公告)号：CN101276804A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：CN200810087409.6
申请日：2008-03-27
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/544 , H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2884 , G01R31/2831 , G01R31/2891 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种半导体装置测试线结构、集成电路测试线结构与测试方法。其中，执行集成电路测试的测试线结构包括形成于半导体基底上的切割道区或集成电路晶粒区的测试线接合焊盘阵列、多个形成于接合焊盘区下的测试装置、以及选择性耦接一个测试装置的选择电路。测试线结构将大量的测试装置跨接相同数量的接合焊盘，用以进行参数、可靠度以及功能测试。在传统集成电路测试器中的源测量单元用以在测试装置端点感测并施加预先决定的测试条件，并且在被选择的装置上执行准确的凯式测试。本发明可存取大量的测试装置并产生高准确度的测试参数。
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公开(公告)号：CN1783720B
公开(公告)日：2010-05-05
申请号：CN200510116797.2
申请日：2005-10-28
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H03K19/017 , H03K19/0185
CPC classification number: H03K19/00315
Abstract: 本发明提供一种切换模组和高电压相容输入/输出电路，特别涉及一种低电压和高电压电路之间的输入/输出电路，包括切换元件，本地元件，以及栅极控制逻辑电路。该切换元件提供输出信号至高电压电路，以响应由低电压电路输入的数据输入信号。该本地元件传送该数据输入信号以控制该切换元件的开和关状态。该栅极控制逻辑电路在输出停用模式和输出启用模式下操作。该输出停用模式中，该栅极控制逻辑电路停止该本地元件，以避免漏电电流由其流过。该输出启用模式中，该栅极控制逻辑电路允许该本地元件传送该数据输入信号经过而大致没有压降，因此加强该切换元件的速度。
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公开(公告)号：CN101286184A
公开(公告)日：2008-10-15
申请号：CN200810086695.4
申请日：2008-03-26
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
CPC classification number: G06F17/505 , G06F2217/14
Abstract: 本发明提出一种以网络为基础的集成电路测试线产生方法与系统。此系统包括用以产生并传送一请求的使用者界面以及用以自使用者界面接收请求的一测试线产生器，其中上述请求详细指明测试线所需的配置，测试线产生器根据请求产生包括测试线所需的信息的一布局数据库。
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