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公开(公告)号:CN120050954A
公开(公告)日:2025-05-27
申请号:CN202510187728.8
申请日:2025-02-20
Applicant: 南方科技大学
Abstract: 本发明提供了一种基于沟槽结构的氧化镓SBD器件,包括:阴极、Ga2O3衬底、沟槽结构;其中,沟槽结构:所述沟槽结构包括第一Ga2O3外延层,所述第一Ga2O3外延层沉积在所述Ga2O3衬底上表面;所述第一Ga2O3外延层的上表面沉积有若干个第二Ga2O3外延层,相邻的所述第二Ga2O3外延层之间形成沟槽;位于所述沟槽的下方的所述第一Ga2O3外延层的内部设置有第一高阻区;通过在沟槽区域进行Mg离子扩散,在第一Ga2O3外延层、所述第二Ga2O3外延层形成高阻区,能对沟槽底部和侧壁的电子进行耗尽,从而增强器件性能,有效降低阳极区域的尖峰电场和漏电,提升器件的击穿特性。