公开(公告)号：CN118212206A

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202410362107.4

申请日：2024-03-28

Applicant: 南方科技大学

Inventor： 王浩宇 ,  莫羡瑜 ,  郭静 ,  马国恒 ,  林志赟

IPC: G06T7/00

Abstract: 本发明提供一种焊点缺陷检测方法、系统及存储介质，涉及电路板焊接技术领域，所述方法包括：获取待检测电路板的透视图像；根据透视图像确定待检测电路板的频域图像；对频域图像进行特征增强，得到待检测电路板的特征增强图像；将特征增强图像分为多个图像块，确定图像块的图像向量和位置向量；通过ViT模型对图像向量和位置向量进行处理，得到图像块的一维向量；根据一维向量确定图像块对应的缺陷概率；根据缺陷概率检测待检测电路板是否存在缺陷。本发明实现对焊点的各类缺陷例，如裂纹、夹渣、气孔等进行全面检测，避免了因人工检测而可能遗漏的问题，从而改善检测效果。

公开(公告)号：CN219464174U

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN202223362583.1

申请日：2022-12-14

Applicant: 南方科技大学

Inventor： 王浩宇 ,  贾浩 ,  郭伟杰

IPC: B08B3/02 ,  B08B13/00 ,  H01L21/67

Abstract: 本实用新型属于微纳器件加工设备技术领域,公开了一种光刻胶旋涂后的基片背部除胶机，包括：装片箱体；供电组件，所述供电组件设在所述装片箱体内；基片固定组件，所述基片固定组件设在所述装片箱体内；清洗液箱体，所述清洗液箱体设在所述装片箱体外侧壁；以及清洗枪，所述清洗枪通过电缆与供电组件电连接，所述电缆穿设在所述装片箱体上；其中，所述清洗枪上设置有清洗头，所述清洗枪用于驱动所述清洗头。本实用新型通过基片固定组件固定待清洗基片，并通过清洗枪旋转清洗头来清洗基片背面边缘位置的光刻胶。解决了传统纯人工清洗基片过程中擦拭不干净，容易污染和破坏基片的涂胶区域，甚至摔坏基片的技术问题。