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公开(公告)号：CN118688596A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410535002.4
申请日：2024-04-30
IPC: G01R31/26
Abstract: 本公开提供了一种功率器件的次级粒子辐照分析方法、装置、设备及介质，涉及半导体器件辐射效应技术领域，包括获取待分析功率器件对应的第一特性参数以及入射中子对应的第二特性参数；根据所述第一特性参数和预设的蒙特卡罗模拟平台，构建所述功率器件对应的功率器件仿真模型；根据所述第二特性参数、所述功率器件仿真模型和所述蒙特卡罗模拟平台，模拟所述入射中子辐照所述功率器件的全生命周期，得到所述入射中子辐照所述功率器件产生的次级粒子的辐照数据。本公开不需要粒子探测器以实验的方式探测次级粒子特征，降低了探测难度，提高了探测效率，不需要特定的粒子探测器，降低了成本。
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公开(公告)号：CN117741385A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311793569.3
申请日：2023-12-22
IPC: G01R31/26 , G01R31/265
Abstract: 本申请提供一种IGBT模块大气中子失效率的评估方法、装置、电子设备和存储介质，其中，I GBT模块大气中子失效率的评估方法包括：获取I GBT模块的辐照试验的数据，其中；基于辐照试验过程中发生失效的样品数量r和有效样品总注量TSUM，计算I GBT模块的辐照试验失效率λACC；基于I GBT模块的辐照试验失效率λACC、有效样品总注量TSUM、辐照试验过程中发生失效的样品数量r，计算失效率置信区间；获取目标环境下的平均中子通量Φ；基于目标环境下的平均中子通量Φ、I GBT模块的辐照试验失效率λACC，计算I GBT模块在目标环境下的真实失效率；将I GBT模块在目标环境下的真实失效率和失效率置信区间作为I GBT模块的失效率评估结果。本申请能够实现对I GBT模块大气中子失效率进行评估。
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公开(公告)号：CN118798022A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410771731.X
申请日：2024-06-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/27
Abstract: 本发明公开了基于机器学习模型的大气中子软错误评估方法，涉及大气分析技术领域，该方法公开了如下步骤：步骤S1：获取中子核反应次级离子信息库；步骤S2：目标芯片的单粒子效应器件仿真，获取带单粒子翻转标签的机器学习样本；步骤S3：将带单粒子翻转标签的机器学习样本作为机器学习分类算法的输入，构建中子单粒子翻转评估模型；步骤S4：计算大气中子软错误率，本发明的方法基于机器学习分类算法构建中子单粒子翻转评估模型，实现了大气中子软错误评估，可以突破已有试验评估技术的局限，提供了一种快速且低成本的大气中子软错误率评估方法。
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公开(公告)号：CN119652316A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411685661.2
申请日：2024-11-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开提供了一种大气中子辐射试验软错误率确定方法、系统、设备及介质，涉及电子器件辐射效应技术领域，包括配置对数模转换电路DAC器件进行大气中子辐射试验的试验参数，试验参数包括至少一类大气中子的能量值、DAC器件参数和测试设备参数；获取DAC器件在试验过程中的数字输入信号、数字输出信号和模拟输出波形；根据数字输入信号、数字输出信号和模拟输出波形，判定DAC器件在试验过程中是否发生单粒子效应并根据单粒子效应的发生次数确定DAC器件的软错误率。本公开通过设置ADC器件，规避模拟信号远距离传输的衰减和畸变，从而更准确的进行软错误率的评估。
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公开(公告)号：CN119358199A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411224496.0
申请日：2024-09-03
IPC: G06F30/20 , G21F3/00 , G21F1/10 , G21F1/08 , G16C60/00 , G06F119/04 , G06F119/08 , G06F119/18
Abstract: 本申请涉及一种热中子屏蔽结构及其制造方法、热中子失效的防护方法。其中，热中子屏蔽结构的制造方法包括：提供半导体器件，所述半导体器件对热中子失效敏感；将所述半导体器件中具有热中子吸收截面的元素设置为目标吸收元素；仿真模拟一具有所述目标吸收元素的热中子屏蔽结构在不同参数下的热中子屏蔽效果，并根据仿真结果确定所述热中子屏蔽结构的防护参数；根据所述防护参数制造所述热中子屏蔽结构。本申请减小或消除了热中子辐射对半导体器件的影响，提高了半导体器件在大气中子辐射环境下的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117991328A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410214788.X
申请日：2024-02-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明提供了一种宽能谱中子位移损伤强度的确定装置及方法，该装置包括：测量电路、控制模块；测量电路包括硅三极管、源表；硅三极管和源表连接；源表与控制模块连接；通过宽能谱中子源向硅三极管进行宽能谱中子辐照；在达到各预设宽能谱中子注量时向源表发送测量指令；以使源表向硅三极管的发射极和集电极施加偏置电压、基极施加预设电流；在施加完成后测量硅三极管的集电极电流；根据各集电极电流、预设电流，确定宽能谱中子注量与硅三极管的放大系数的倒数变化量之间的系数；根据该系数，计算待确定半导体器件的宽能谱中子位移损伤强度。能够避免通过测量中子能谱数据来计算此种宽能谱中子的位移损伤。
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公开(公告)号：CN119644083A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411740966.9
申请日：2024-11-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26 , G01R31/265
Abstract: 本发明公开提供了一种纳米FinFET器件大气中子辐射与经时击穿的试验方法，包括综合效应试验装置，将样品放入综合效应试验装置内，对样品施加大气中子辐射束线，通过所述综合效应试验装置对样品施加电压和温度；通过实验计算出样品的寿命时间，本发明在大气中子辐射环境中，对纳米FinFET器件进行经时击穿试验测试，以评估纳米FinFET器件在地面和飞行高度上的综合应力影响，无需单独进行两次试验进行评估，更加方便、快捷。
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公开(公告)号：CN119227474A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202410826845.X
申请日：2024-06-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了基于机器学习的器件单粒子翻转截面和敏感区的获取方法，涉及半导体分析技术领域，该系统公开了如下步骤：步骤S1：目标芯片的重离子单粒子效应器件仿真，获取带单粒子翻转标签的机器学习样本；步骤S2：将带单粒子翻转标签的机器学习样本作为机器学习分类算法的输入，确定发生单粒子翻转的决策边界；步骤S3：机器学习算法提取的单粒子翻转决策边界映射到目标芯片上，即可得到芯片的单粒子效应敏感区。本发明结合单粒子效应器件仿真数据，提出了器件单粒子翻转截面和敏感区的获取方法，通过本发明的方法可以实现芯片重离子单粒子效应敏感性的快速评估，大大节省了试验成本。
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公开(公告)号：CN118169492A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410297566.9
申请日：2024-03-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种功率器件测试系统、方法、计算机设备和存储介质。该系统包括处于自然大气辐照环境下的多个并联连接的待测功率器件、监测装置和高压电源；多个并联连接的待测功率器件与高压电源连接，实现高压电源向多个待测功率器件供电，以将多个待测功率器件均置于高压反偏状态或高压阻断状态；在此状态下，监测装置监测每一待测功率器件在关断状态下的电流值，并根据所监测到的每一待测功率器件的电流值，确定每一待测功率器件的失效情况。上述系统，可以实现同时对大规模功率器件阵列进行失效检测，提高了功率器件失效情况检测的检测效率；并且增加了样本数量，排除了少量样本数量存在的偶然性问题，提高了功率器件失效情况检测结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN118150967A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410280716.5
申请日：2024-03-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种功率器件失效检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：针对预设多个海拔高度中每个海拔高度，获取海拔高度处地面宇宙射线的粒子通量，确定在海拔高度处的地面宇宙射线辐照下，参考功率器件组的器件失效率，并根据粒子通量和器件失效率，确定海拔高度的目标量化值；根据各海拔高度的目标量化值，选取测试海拔高度；确定在测试海拔高度处测试功率器件组的器件失效率；根据任一目标海拔高度处的粒子通量和测试海拔高度处的粒子通量，得到失效率因子；根据测试功率器件组的器件失效率以及失效率因子，得到在目标海拔高度处测试功率器件组的器件失效率。采用本方法能够提高功率器件组失效率确定准确性。
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