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公开(公告)号：CN113964505B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202111057191.1
申请日：2021-09-09
Applicant: 华南理工大学 , 人工智能与数字经济广东省实验室(广州)
IPC: H01Q1/38 , H01Q1/48 , H01Q1/50 , H01Q5/10 , H01Q5/307 , H01Q5/50 , H01Q15/24 , H01Q21/00 , H01Q21/06
Abstract: 本发明公开了一种耦合馈电贴片天线及通信设备，包括间隔空气层设置的上层介质基板及下层介质基板，所述上层介质基板的第一面设置辐射单元，所述下层介质基板的第一面设置耦合馈电结构，其第二面设置金属地板，所述第一面及第二面为同一块介质基板的相对面，所述耦合馈电结构包括至少一个T形馈线、方形环及方形贴片，所述方形贴片设置在方形环内，且与方形环连接，所述T形馈线的一端与同轴线连接，另一端通过间隙耦合方式对方形环进行能量耦合，方形环进一步激励辐射单元实现辐射。本发明可以根据耦合馈电结构的位置变化实现差分馈电、双极化及差分双极化贴片天线，具有结构简单及应用广的特点。
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公开(公告)号：CN113964505A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202111057191.1
申请日：2021-09-09
Applicant: 华南理工大学 , 人工智能与数字经济广东省实验室(广州)
IPC: H01Q1/38 , H01Q1/48 , H01Q1/50 , H01Q5/10 , H01Q5/307 , H01Q5/50 , H01Q15/24 , H01Q21/00 , H01Q21/06
Abstract: 本发明公开了一种耦合馈电贴片天线及通信设备，包括间隔空气层设置的上层介质基板及下层介质基板，所述上层介质基板的第一面设置辐射单元，所述下层介质基板的第一面设置耦合馈电结构，其第二面设置金属地板，所述第一面及第二面为同一块介质基板的相对面，所述耦合馈电结构包括至少一个T形馈线、方形环及方形贴片，所述方形贴片设置在方形环内，且与方形环连接，所述T形馈线的一端与同轴线连接，另一端通过间隙耦合方式对方形环进行能量耦合，方形环进一步激励辐射单元实现辐射。本发明可以根据耦合馈电结构的位置变化实现差分馈电、双极化及差分双极化贴片天线，具有结构简单及应用广的特点。
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公开(公告)号：CN119986160A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510136837.7
申请日：2025-02-07
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请公开了一种电磁散射和透射测试系统、设备及测试方法，其中系统，包括：支架，设置在暗室内；样品台，设置在支架的内部，且支架的圆弧所在的平面与样品台所在的平面互相垂直，圆弧的圆心与样品台的中心重合；若干个喇叭天线，固定安装在支架上，每个喇叭天线的口径均指向圆弧的中心；控制模块，与喇叭天线连接，用于控制喇叭天线发射或者接收电磁波信号；数据处理模块，与喇叭天线连接，用于对采集到的电磁波信号进行处理，获得待测样品的多种电磁散射参数。本申请可广泛应用于电子电路技术领域。
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公开(公告)号：CN115378515A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210810509.7
申请日：2022-07-11
Applicant: 华南理工大学
IPC: H04B17/00 , H04B17/309
Abstract: 本发明公开了一种针对智能反射面的测试系统及测试方法，其中系统包括：测试台，用于放置待检测的智能反射面；多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。本发明通过移动电磁探头的位置，实现对智能反射面球面的扫描，可用于智能反射面的测试。本发明可广泛应用于微波通信技术领域。
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公开(公告)号：CN113484549B
公开(公告)日：2022-07-26
申请号：CN202110681569.9
申请日：2021-06-18
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种适用于OTA测试的EVM测量方法，包括以下步骤：步骤一、搭建不同的误差矢量幅度测量系统，所述误差矢量幅度测量系统包括第一测量系统、第二测量系统、第三测量系统；步骤二、在不同的误差矢量幅度测量系统下进行误差矢量幅度测量；步骤三、获取不同的误差矢量幅度测量系统的误差矢量幅度测量值；步骤四、根据不同的测量系统下得到的误差矢量幅度测量值计算待测器件自身引起的误差矢量幅度值。本测量方法适用OTA测试条件下，通过搭建三种测试链路，计算得到仪器因素带来的矢量调制误差和环境因素带来的矢量调制误差，通过矢量差计算消除以上两种干扰，因而测量和计算得到较为精确的待测器件自身矢量调制误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110994081B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN201911410705.X
申请日：2019-12-31
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种宽频带紧密型波导介质窗口。所述介质窗口包括波导介质窗口主体和用于在外侧固定所述波导介质窗口主体的第一法兰和第二法兰，第一法兰和第二法兰将波导介质窗口主体固定在标准矩形波导通道中，所述介质窗口主体包括支撑层以及对称设置在支撑层两侧的左阻抗匹配层和右阻抗匹配层。本发明波导介质窗口基于低损耗透明材料，利用波导介质窗口各层具有尺寸差值，实现真空波导到介质窗口的阻抗耦合，减小信号在真空环境的回波损耗。本发明所述的介质窗口兼顾了宽带性能，透明性，足够的机械强度和简单的机械工艺特性。
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公开(公告)号：CN111490337B
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN201911384964.X
申请日：2019-12-28
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于柔性透明材料PDMS的北斗定位授时手表天线，包括第一介质基板、第二介质基板、U型馈电单元、圆形辐射贴片和钛合金手表外壳，第一介质基板和第二介质基板皆与手表表镜大小一致，U型馈电单元和圆形辐射贴片分别置于第二介质基板上下表面；第二介质基板位于第一介质基板下方，第一介质基板位于手表最上方。所述天线利用手表表镜下方的可用区域，减小了表带的尺寸，同时又不增加表盘的尺寸，使手表更加美观与舒适。
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公开(公告)号：CN111883926A
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202010499755.6
申请日：2020-06-04
Applicant: 华南理工大学
IPC: H01Q1/42
Abstract: 本发明公开了一种可改善天线性能的天线罩及信号收发装置，包括罩体，所述罩体内形成有容纳天线的容纳腔，所述罩体的外侧设有蒙皮层，所述罩体的内侧设有金属贴片层，所述金属贴片层与所述蒙皮层相对。本发明通过在罩体的内侧贴附金属贴片层，可以与内部天线产生电磁响应，抵消蒙皮层对天线的不利影响，提高天线的增益；另外，在天线阵列进行小角度扫描时，该天线罩可以抑制副瓣，为天线的正常工作提供更优的保护环境，可广泛应用于天线保护装置技术领域。
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公开(公告)号：CN115378515B
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202210810509.7
申请日：2022-07-11
Applicant: 华南理工大学
IPC: H04B17/00 , H04B17/309
Abstract: 本发明公开了一种针对智能反射面的测试系统及测试方法，其中系统包括：测试台，用于放置待检测的智能反射面；多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。本发明通过移动电磁探头的位置，实现对智能反射面球面的扫描，可用于智能反射面的测试。本发明可广泛应用于微波通信技术领域。
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公开(公告)号：CN118501553A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410429998.0
申请日：2024-04-10
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于传输/反射法的厚材料复介电常数测量方法。所述方法包括：安装基于传输/反射法的复介电常数测量系统，放置待测样品；测量得到待测样品在频带中不同频率点的S11和S21参数；对于一个频率点，得到多组对应不同频率点的复介电常数向量；对复介电常数向量进行迭代，根据预设的误差裕度k输出所有复介电常数绝对值组合及其对应的n值；判断在频段内测量的复介电常数的最终值的存在性和唯一性，完成复介电常数测量。本发明着重解决材料的厚度等于测量频段内某些测量频率点的半波长的整数倍，在使用传统的传输/反射法求解式求解时，将会引起的厚度谐振问题。
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