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公开(公告)号：CN115378515B
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202210810509.7
申请日：2022-07-11
Applicant: 华南理工大学
IPC: H04B17/00 , H04B17/309
Abstract: 本发明公开了一种针对智能反射面的测试系统及测试方法，其中系统包括：测试台，用于放置待检测的智能反射面；多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。本发明通过移动电磁探头的位置，实现对智能反射面球面的扫描，可用于智能反射面的测试。本发明可广泛应用于微波通信技术领域。
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公开(公告)号：CN112630543A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN202011399498.5
申请日：2020-12-04
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种多探头的弓形架测试系统及测试方法，其中系统包括：弓形支架；自动化样品台，设置在所述弓形支架的内部，且所述弓形支架的圆弧所在的平面与所述自动化样品台所在的平面互相垂直，所述圆弧的圆心与所述自动化样品台的中心重合；多个喇叭天线，固定安装在所述弓形支架的多个位置上，所述喇叭天线的口径指向圆弧的中心；矩阵开关；矢量网络分析仪；数据处理模块，用于控制所述矩阵开关和所述矢量网络分析仪的工作状态，以及对采集到的电磁波信号进行处理，获得待测样品的多种电磁参数。本发明通过在弓形支架的多个位置上安装喇叭天线，能够实现材料的反射率和介电常数等多电磁参数的测量，可广泛应用于微波测试领域。
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公开(公告)号：CN115378515A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210810509.7
申请日：2022-07-11
Applicant: 华南理工大学
IPC: H04B17/00 , H04B17/309
Abstract: 本发明公开了一种针对智能反射面的测试系统及测试方法，其中系统包括：测试台，用于放置待检测的智能反射面；多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。本发明通过移动电磁探头的位置，实现对智能反射面球面的扫描，可用于智能反射面的测试。本发明可广泛应用于微波通信技术领域。
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公开(公告)号：CN214473624U
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202022899575.5
申请日：2020-12-04
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本实用新型公开了一种多探头的弓形架测试系统，其中系统包括：弓形支架；自动化样品台，设置在所述弓形支架的内部，且所述弓形支架的圆弧所在的平面与所述自动化样品台所在的平面互相垂直，所述圆弧的圆心与所述自动化样品台的中心重合；多个喇叭天线，固定安装在所述弓形支架的多个位置上，所述喇叭天线的口径指向圆弧的中心；矩阵开关；矢量网络分析仪；数据处理模块，用于控制所述矩阵开关和所述矢量网络分析仪的工作状态，以及对采集到的电磁波信号进行处理，获得待测样品的多种电磁参数。本实用新型通过在弓形支架的多个位置上安装喇叭天线，能够实现材料的反射率和介电常数等多电磁参数的测量，可广泛应用于微波测试领域。
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