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公开(公告)号:CN118501553A
公开(公告)日:2024-08-16
申请号:CN202410429998.0
申请日:2024-04-10
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于传输/反射法的厚材料复介电常数测量方法。所述方法包括:安装基于传输/反射法的复介电常数测量系统,放置待测样品;测量得到待测样品在频带中不同频率点的S11和S21参数;对于一个频率点,得到多组对应不同频率点的复介电常数向量;对复介电常数向量进行迭代,根据预设的误差裕度k输出所有复介电常数绝对值组合及其对应的n值;判断在频段内测量的复介电常数的最终值的存在性和唯一性,完成复介电常数测量。本发明着重解决材料的厚度等于测量频段内某些测量频率点的半波长的整数倍,在使用传统的传输/反射法求解式求解时,将会引起的厚度谐振问题。
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公开(公告)号:CN115932413A
公开(公告)日:2023-04-07
申请号:CN202211579016.3
申请日:2022-12-07
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于自由空间法的高低温介电常数的测量方法。所述方法包括以下步骤:安装基于自由空间法的高低温介电常数测量系统;将两个参考面之间的空间划分成三块区域,分别为第一区域A、第二区域B以及样品区域,在未放入材料的情况下,计算获得第一区域A的传输矩阵;将待测试的微波材料放入高低温介电常数测量系统进行测试,并计算出待测试的微波材料的传输矩阵;根据样品区域的散射参数计算出待测试的微波材料的相对复介电常数等电磁特性。本发明提高了高低温电磁特性测量系统在测量电磁参数时的准确性。
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