一种非偏心180度展开锁定铰链装置

    公开(公告)号:CN106015308A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610364583.5

    申请日:2016-05-27

    CPC classification number: F16C11/04 F16C11/10 F16C11/12

    Abstract: 本发明提供一种非偏心180度展开锁定铰链装置,其包括:锁钩体、涡卷弹簧、双铰体、中心轴、套筒、轴承定位套、偏心轴、板簧、卡钩、八方调整套筒、涡卷簧定位套、定位轴、簧端压帽和簧芯压盖,其通过双铰体和锁钩体的构型设计实现了180度的展开功能,展开锁定状态下锁钩体与双铰体的指向夹角为180度,中心轴的轴心处于铰链装置中心面上,实现桁架杆或臂杆的非偏心铰接,避免机构运动的奇异位形,满足了桁架机构更小收纳包络的需求;铰链装置采用较长的铰接配合长度和两个角接触轴承,实现更高的展开刚度、展开重复精度和承载能力,满足了大型空间负载的高刚度、高精度连接需求。

    嵌入式系统RAM损坏模式下的多分区引导方法

    公开(公告)号:CN106873990A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201710049748.4

    申请日:2017-01-23

    Abstract: 本发明提供一种嵌入式系统RAM损坏模式下的多分区引导方法,具体过程为:将主备份计算机系统的程序存储器分为正常启动程序分区和轻量级启动程序分区;若RAM存在故障,根据地面设置进行切机或者启动轻量级启动程序分区;轻量级启动程序分区启动后执行RAM故障检测,通过对外接口输出RAM故障检测结果;根据RAM故障检测结果,制作正常启动程序能在RAM无故障区域运行的二进制可执行文件镜像;由轻量级启动程序跳转到二进制可执行文件镜像起始地址,运行所述二进制可执行文件镜像,恢复设备正常功能。本发明在RAM损坏模式下,增加了一种运行轻量级启动程序分区的手段,避免仅采取单一的切机处理措施导致本机彻底不能使用的问题。

    一种隔振器零位调测方法及检验装置

    公开(公告)号:CN106524990A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201510581240.X

    申请日:2015-09-14

    CPC classification number: G01C1/00

    Abstract: 本发明提供了一种隔振器零位调测方法及检验装置,通过卸载隔振器所承受的重力,使隔振器的受力状态与在轨状态保持一致,从而测试被隔振体与安装基础之间的夹角,并且隔振器零位检验装置包括:底座;力传感器,一端固定在底座上,而另一端与测试台面固连;测试台面;自锁丝杠,被固定在底座上;过孔,位于测试台面上;丝杠螺母,其螺纹孔为铅垂方向;台面精测镜,被粘贴在测试台面上;以及被隔振体精测镜,被固定在被隔振体上。因此,采用本发明,能够在地面模拟隔振器入轨后的受力状态,并计算出被隔振体与安装基础之间的调测夹角,能够在研制阶段检验隔振器引起的安装角度偏差能否满足设计要求,避免入轨后出现被隔振设备指向角偏差超标的现象。

    一种高阻尼热变形释放装置

    公开(公告)号:CN107524744B

    公开(公告)日:2019-08-09

    申请号:CN201710571625.7

    申请日:2017-07-13

    Abstract: 本发明涉及一种高阻尼热变形释放装置,所述装置包括:底座(1)、弹性元件(2)、外壳(3)、阻尼元件(4)、连接座(5);弹性元件(2)的下端与所述底座(1)固连,所述弹性元件(2)与所述底座(1)垂直,所述弹性元件(2)的上端与所述连接座(5)固连,所述弹性元件(2)在垂直于底座(1)方向的刚度大于所述弹性元件(2)在平行于底座(1)方向的刚度;外壳(3)与所述底座(1)相连接,用于将弹性元件(2)包围在所述外壳(3)的内部;阻尼元件(4),填充于所述弹性元件(2)与所述外壳(3)之间,所述阻尼元件(4)与所述弹性元件(2)的接触面上存在空隙,所述空隙用于调整阻尼元件(4)与弹性元件(2)的接触面积,所述空隙在所述阻尼元件(4)所占的体积比与所述阻尼元件(4)的阻尼系数和弹性元件(2)的刚度成反比。

    一种隔振器零位调测方法及检验装置

    公开(公告)号:CN106524990B

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201510581240.X

    申请日:2015-09-14

    Abstract: 本发明提供了一种隔振器零位调测方法及检验装置,通过卸载隔振器所承受的重力,使隔振器的受力状态与在轨状态保持一致,从而测试被隔振体与安装基础之间的夹角,并且隔振器零位检验装置包括:底座;力传感器,一端固定在底座上,而另一端与测试台面固连;测试台面;自锁丝杠,被固定在底座上;过孔,位于测试台面上;丝杠螺母,其螺纹孔为铅垂方向;台面精测镜,被粘贴在测试台面上;以及被隔振体精测镜,被固定在被隔振体上。因此,采用本发明,能够在地面模拟隔振器入轨后的受力状态,并计算出被隔振体与安装基础之间的调测夹角,能够在研制阶段检验隔振器引起的安装角度偏差能否满足设计要求,避免入轨后出现被隔振设备指向角偏差超标的现象。

    一种高阻尼热变形释放装置

    公开(公告)号:CN107524744A

    公开(公告)日:2017-12-29

    申请号:CN201710571625.7

    申请日:2017-07-13

    Abstract: 本发明涉及一种高阻尼热变形释放装置,所述装置包括:底座(1)、弹性元件(2)、外壳(3)、阻尼元件(4)、连接座(5);弹性元件(2)的下端与所述底座(1)固连,所述弹性元件(2)与所述底座(1)垂直,所述弹性元件(2)的上端与所述连接座(5)固连,所述弹性元件(2)在垂直于底座(1)方向的刚度大于所述弹性元件(2)在平行于底座(1)方向的刚度;外壳(3)与所述底座(1)相连接,用于将弹性元件(2)包围在所述外壳(3)的内部;阻尼元件(4),填充于所述弹性元件(2)与所述外壳(3)之间,所述阻尼元件(4)与所述弹性元件(2)的接触面上存在空隙,所述空隙用于调整阻尼元件(4)与弹性元件(2)的接触面积,所述空隙在所述阻尼元件(4)所占的体积比与所述阻尼元件(4)的阻尼系数和弹性元件(2)的刚度成反比。

    嵌入式系统RAM损坏模式下的多分区引导方法

    公开(公告)号:CN106873990B

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN201710049748.4

    申请日:2017-01-23

    Abstract: 本发明提供一种嵌入式系统RAM损坏模式下的多分区引导方法,具体过程为:将主备份计算机系统的程序存储器分为正常启动程序分区和轻量级启动程序分区;若RAM存在故障,根据地面设置进行切机或者启动轻量级启动程序分区;轻量级启动程序分区启动后执行RAM故障检测,通过对外接口输出RAM故障检测结果;根据RAM故障检测结果,制作正常启动程序能在RAM无故障区域运行的二进制可执行文件镜像;由轻量级启动程序跳转到二进制可执行文件镜像起始地址,运行所述二进制可执行文件镜像,恢复设备正常功能。本发明在RAM损坏模式下,增加了一种运行轻量级启动程序分区的手段,避免仅采取单一的切机处理措施导致本机彻底不能使用的问题。

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