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公开(公告)号：CN102539351A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201010621260.2
申请日：2010-12-24
Applicant: 北京有色金属研究总院 , 北京普析通用仪器有限责任公司
IPC: G01N21/31
Abstract: 本发明属于分析化学技术领域原子吸收分析的一种原子吸收的测量方法。该方法通过校正辉光原子化器中被测元素的发光进行原子吸收测量的方法，该方法包括如下步骤：辉光原子化器和光源采用不同频率的脉冲供电；分别采集光源发光的信号I0、辉光放电脉冲发光的信号IG和光源发光脉冲与辉光放电发光脉冲重叠时的信号IH，则校正辉光发光信号后的光源透射光信号为IH-IG，计算辉光原子化器中被测元素产生的吸光度A＝log I0/(IH-IG)，根据吸光度与被测元素含量的函数关系和试样的吸光度计算出被测元素的含量。采用本发明的原子吸收测量方法准确测量了光源发光透过辉光原子化器前后的变化，可准确计算出样品中被测元素的含量。
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公开(公告)号：CN102539351B
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201010621260.2
申请日：2010-12-24
Applicant: 北京有色金属研究总院 , 北京普析通用仪器有限责任公司
IPC: G01N21/31
Abstract: 本发明属于分析化学技术领域原子吸收分析的一种原子吸收的测量方法。该方法通过校正辉光原子化器中被测元素的发光进行原子吸收测量的方法，该方法包括如下步骤：辉光原子化器和光源采用不同频率的脉冲供电；分别采集光源发光的信号I0、辉光放电脉冲发光的信号IG和光源发光脉冲与辉光放电发光脉冲重叠时的信号IH，则校正辉光发光信号后的光源透射光信号为IH-IG，计算辉光原子化器中被测元素产生的吸光度A＝log I0/(IH-IG)，根据吸光度与被测元素含量的函数关系和试样的吸光度计算出被测元素的含量。采用本发明的原子吸收测量方法准确测量了光源发光透过辉光原子化器前后的变化，可准确计算出样品中被测元素的含量。
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公开(公告)号：CN102543648A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201010621274.4
申请日：2010-12-24
Applicant: 北京有色金属研究总院 , 北京普析通用仪器有限责任公司
Abstract: 本发明属于原子吸收分析技术领域的一种辉光放电原子化器及其使用方法。该辉光放电原子化器包括中空腔体、透明石英窗片、阳极、安装底座、试样平台，试样平台与中空腔体封接处设置一个导通孔，试样置于试样平台上，覆盖在导通孔上；在试样与试样平台之间设置密封圈，试样与电源负极相连；或者用带有密封圈的密封罩将试样罩于密封罩内，试样与密封罩接触，密封罩与电源的负极连接。将辉光放电原子化器安装在原子吸收分光光度计的测量光路上，空心阴极灯的发光透过辉光放电原子化器的石英窗片进入原子吸收分光光度计的单色器。本发明为现有的原子吸收分光光度计提供一种辉光放电原子化器，使原子吸收分光光度计能够直接测定固体试样。
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公开(公告)号：CN201966176U
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201020697023.X
申请日：2010-12-24
Applicant: 北京有色金属研究总院 , 北京普析通用仪器有限责任公司
Abstract: 本实用新型属于原子吸收分析技术领域的一种辉光放电原子化器。该辉光放电原子化器包括中空腔体、透明石英窗片、阳极、安装底座、试样平台，试样平台与中空腔体封接处设置一个导通孔，试样置于试样平台上，覆盖在导通孔上；在试样与试样平台之间设置密封圈，试样与电源负极相连；或者用带有密封圈的密封罩将试样罩于密封罩内，试样与密封罩接触，密封罩与电源的负极连接。将辉光放电原子化器安装在原子吸收分光光度计的测量光路上，空心阴极灯的发光透过辉光放电原子化器的石英窗片进入原子吸收分光光度计的单色器。本实用新型为现有的原子吸收分光光度计提供一种辉光放电原子化器，使原子吸收分光光度计能够直接测定固体试样。
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公开(公告)号：CN102539517B
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201010605633.7
申请日：2010-12-24
Applicant: 北京有色金属研究总院
IPC: G01N27/68
Abstract: 本发明提供一种铜合金材料表层逐层分析方法，其包括：选定辉光放电离子源和质谱分析条件，样品处理和样品分析，利用辉光放电离子源使分析样品在阴极溅射作用下均匀地逐层剥离，在高灵敏度的质谱仪系统中，实时记录分析样品质谱峰强度随时间的连续变化信号，采用组成成份和深度双重定标的方法，将这种连续变化信号转化为样品的化学组成随深度的变化，完成黄铜基材上铝青铜膜样品的表层逐层定量分析。本发明选择合适的氩气压力、放电电压、样品溅射斑面直径、样品的测量时间等分析参数可将层间分辨率提高到几干纳米，实现了黄铜基材上铝青铜表层的超薄层逐层分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102895877A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201110216590.8
申请日：2011-07-29
Applicant: 北京有色金属研究总院
Abstract: 一种镉浓缩同位素的阴离子交换纯化方法，该方法包括：1)将含镉浓缩同位素氧化物经盐酸完全溶解，再用0.24～0.60mol/L的盐酸稀释后装入离子交换柱，采用梯度淋洗至杂质元素完全流出后，再用纯水洗脱，至Cd出峰达到一定强度后改用浓度为1～5％(v/v)的硝酸洗脱，收集含Cd的洗脱液；2)将收集的Cd洗脱液低温加热亚沸浓缩至近干得到镉盐结晶物，冷却后加入纯水溶解该镉盐结晶物，向溶液中加入碳酸氢铵至pH＝7～8；静置后用双层定量滤纸过滤，并用纯水洗涤，然后将沉淀置于烘箱中，80℃下烘干后将沉淀转移至铂金坩埚中，盖上铂金坩埚盖后置于马弗炉中500℃下灼烧1h，冷却得到氧化镉产品。该方法简单、实用，纯化后的镉氧化物纯度高。
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公开(公告)号：CN106918588A
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201510993521.6
申请日：2015-12-25
Applicant: 北京有色金属研究总院
CPC classification number: G01N21/66 , G01N1/286 , G01N1/44 , G01N2001/2866
Abstract: 本发明涉及一种超高纯石墨粉中痕量杂质的发射光谱分析方法。该方法包括如下步骤：(1)不完全燃烧：称取超高纯石墨粉样品，置于石英坩埚中，将石英坩埚放置马弗炉中，燃烧以逐渐除去石墨基体至余量，停止燃烧，冷却后取出，准确称量燃烧剩余的试料，并将其置于四氟研钵中研磨均匀后待用；(2)发射光谱分析：将所得燃烧剩余的试料加入石墨电极中进行发射光谱分析。本发明采取了石墨基体的不完全燃烧法，将残留的杂质富集在燃烧剩余的石墨基体中，研磨均匀后直接进行粉末法发射光谱分析，大大降低了分析方法的测定下限，可进行5N甚至更高纯度石墨粉中的痕量杂质分析，方法简单易行。
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公开(公告)号：CN104297333A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201310302981.0
申请日：2013-07-17
Applicant: 北京有色金属研究总院
IPC: G01N27/68
Abstract: 一种采用直流辉光放电质谱法测定高纯α-Al2O3中杂质元素的方法，包括以下步骤：(1)将Al2O3粉末与铜粉按比例混合均匀，然后将混合粉末压片，用N2吹去压片样品表面的粉末，装入样品池中；(2)设定放电气体流量为500mL/min，放电电流为30mA，离子源冷却温度为5～25℃，预溅射15min；(3)在步骤(2)设定的实验条件下，采集待测元素的信号强度，以Al、O、Cu产生的信号加和定义为100％，根据待测元素信号强度与Al、O、Cu三种元素获得的信号强度总和的比值来计算混合粉末中待测元素含量；扣除铜粉自身含有的待测元素含量，获得Al2O3中待测元素含量。本发明实现了直流辉光放电质谱法对不导电的α-Al2O3粉末中杂质元素含量的测定，其测定结果与直流电弧发射光谱法基本吻合。
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公开(公告)号：CN1255562C
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN02159233.0
申请日：2002-12-27
Applicant: 北京有色金属研究总院
CPC classification number: Y02P10/234
Abstract: 本发明一种用于分离稀土的分离柱，它包括一个进液口，一个出液口，以及柱体其特征在于：该柱体中填充负载有二(2，4，4-三甲基戊基)膦酸的硅球。所述硅球系指经硅烷化硅球，其表面硅烷化碳链长度范围为C1-C8。所述硅球粒度范围50-400目(美国标准)。该柱大大降低运行酸度并可以缩短分离周期，减少消耗，分离柱可与ICP-MS、ICP-AES等仪器联机进行高纯稀土中杂质分析。该分离柱经放大后也可应用于高纯稀土的工业制备。
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公开(公告)号：CN1511965A
公开(公告)日：2004-07-14
申请号：CN02159233.0
申请日：2002-12-27
Applicant: 北京有色金属研究总院
CPC classification number: Y02P10/234
Abstract: 本发明一种用于分离稀土的分离柱，它包括一个进液口，一个出液口，以及柱体其特征在于：该柱体中填充负载有二(2，4，4－三甲基戊基)膦酸的硅球。所述硅球系指经硅烷化硅球，其表面硅烷化碳链长度范围为C1－C8。所述硅球粒度范围50－400目(美国标准)。该柱大大降低运行酸度并可以缩短分离周期，减少消耗，分离柱可与ICP－MS、ICP－AES等仪器联机进行高纯稀土中杂质分析。该分离柱经放大后也可应用于高纯稀土的工业制备。
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