公开(公告)号：CN106918588A

公开(公告)日：2017-07-04

申请号：CN201510993521.6

申请日：2015-12-25

Applicant: 北京有色金属研究总院

Inventor： 潘元海 ,  孙泽明 ,  墨淑敏 ,  王长华 ,  韩维儒 ,  李继东 ,  周海收 ,  张佳凯

IPC: G01N21/66 ,  G01N1/28 ,  G01N1/44

CPC classification number: G01N21/66 ,  G01N1/286 ,  G01N1/44 ,  G01N2001/2866

Abstract: 本发明涉及一种超高纯石墨粉中痕量杂质的发射光谱分析方法。该方法包括如下步骤：(1)不完全燃烧：称取超高纯石墨粉样品，置于石英坩埚中，将石英坩埚放置马弗炉中，燃烧以逐渐除去石墨基体至余量，停止燃烧，冷却后取出，准确称量燃烧剩余的试料，并将其置于四氟研钵中研磨均匀后待用；(2)发射光谱分析：将所得燃烧剩余的试料加入石墨电极中进行发射光谱分析。本发明采取了石墨基体的不完全燃烧法，将残留的杂质富集在燃烧剩余的石墨基体中，研磨均匀后直接进行粉末法发射光谱分析，大大降低了分析方法的测定下限，可进行5N甚至更高纯度石墨粉中的痕量杂质分析，方法简单易行。