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公开(公告)号:CN119631666A
公开(公告)日:2025-03-18
申请号:CN202411763580.X
申请日:2024-12-03
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心 , 北京市农林科学院智能装备技术研究中心
IPC: A01C11/02
Abstract: 本发明涉及农业机械设备技术领域,提供一种钵苗移栽机及控制方法。上述的钵苗移栽机,包括:移栽机机体、打穴移栽机构、一对第一调节组件、第二调节组件和控制器;底盘框架设有转轴,打穴移栽机构设置于底盘框架上;每个第一调节组件的两端分别与转轴以及一个第一轮体铰接,第一调节组件用于调节底盘框架与垄台之间的第一高度;机架与底盘框架铰接,一对第二轮体与机架连接,第二调节组件的第一端与机架铰接,第二调节组件用于获取第二高度;控制器用于根据第二高度控制第一调节组件动作,以调节第一高度。上述的钵苗移栽机,能够根据垄台高度,自动调节底盘框架与垄台之间的第一高度,在垄台高度不同时,也能使移栽深度一致。
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公开(公告)号:CN108535210B
公开(公告)日:2023-12-05
申请号:CN201810629782.3
申请日:2018-06-19
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
IPC: G01N21/3563 , G01N21/3581
Abstract: 本发明涉及样品研磨技术领域,尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构,所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽,所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接,所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器,所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构,所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本发明所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置,能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰,获得样品最佳研磨结(56)对比文件谢伟东《.研磨技术问答》.黑龙江科学技术出版社,1982,第84-85页.郭秀芬.陶瓷传感器及应用.压电与声光.1993,(第03期),第48-59页.Yong Du 等.Using terahertz time-domain spectroscopical technique tomonitor cocrystal formation betweenpiracetam and 2,5-dihydroxybenzoicacid.Spectrochimica Acta Part A:Molecularand Biomolecular Spectroscopy.2013,第192-195.
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