一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置

    公开(公告)号:CN108535210B

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN201810629782.3

    申请日:2018-06-19

    Abstract: 本发明涉及样品研磨技术领域,尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构,所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽,所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接,所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器,所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构,所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本发明所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置,能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰,获得样品最佳研磨结(56)对比文件谢伟东《.研磨技术问答》.黑龙江科学技术出版社,1982,第84-85页.郭秀芬.陶瓷传感器及应用.压电与声光.1993,(第03期),第48-59页.Yong Du 等.Using terahertz time-domain spectroscopical technique tomonitor cocrystal formation betweenpiracetam and 2,5-dihydroxybenzoicacid.Spectrochimica Acta Part A:Molecularand Biomolecular Spectroscopy.2013,第192-195.

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