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公开(公告)号：CN119942449A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202510023206.4
申请日：2025-01-07
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G06V20/52 , G06V10/52 , G06V10/80 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/766 , G06V10/774 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种网格划分与多尺度特征融合的密集小目标计数方法及装置，包括：步骤一，处理数据集；步骤二，根据近大远小原理，将输入图像划分为三个区域，在每一区域设置网格，按照不同大小的网格进行裁剪；步骤三，将图像切片进行特征提取，得到图像的多层次特征图；步骤四，将每一分支特征向其它分支特征维度对齐，通过动态生成特征融合权重，不同分支特征和对应的权重相乘再相加，输出低层分支融合特征、中间层分支融合特征和高层分支融合特征；步骤五，选择中间层分支融合特征和高层分支融合特征融合，输出预测点位置坐标和置信度分数，与真实点匹配，完成密集小目标计数。本发明能够提高远距离小目标的检测精度并优化计算效率。
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公开(公告)号：CN114742847B
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202210405016.5
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像并计算其视差；步骤2，计算中心子孔径图像alpha图；步骤3，通过光场alpha图传播模型，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图alphau,v(x,y)。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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公开(公告)号：CN116703770A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310684718.6
申请日：2023-06-09
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于频谱集中程度引入重参数化的光场去噪方法和装置，其包括：步骤1，通过极小化集中程度度量函数，计算重参数化光场双平面间距Dre；步骤2，按照重参数化光场双平面间距Dre对带噪光场进行重参数化，输出重参数化之后的带噪光场；步骤3，使用hyperfan滤波器对重参数化后的带噪光场进行去噪，输出去噪后的重参数化光场。本发明能够有较好的去噪效果，同时能够较好地保持场景边缘和反光等信息。
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公开(公告)号：CN112669355B
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202110006480.2
申请日：2021-01-05
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于RGB‑D超像素分割的聚焦堆栈数据拼接融合方法及系统，该方法包括：步骤1，由聚焦堆栈数据计算生成全聚焦图与深度图，即准确配准的RGB‑D数据；步骤2，将低分辨率的2D大视场图像上采样至与RGB‑D数据尺度一致；步骤3，对RGB‑D数据进行超像素分割；步骤4，提取并匹配全聚焦图与大视场2D图像之间的特征点，计算同一深度层超像素的准确单应性变换矩阵；步骤5，逐深度层进行超像素变换实现全聚焦图和深度图的拼接融合；步骤6，由大视场的RGB‑D数据生成大视场的聚焦堆栈数据。本发明能够实现多组不同视角下的聚焦堆栈数据的拼接融合。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114742846B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202210404986.3
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图空间域评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在空间域获取的空角一致性评价指标S‑cons，对光场alpha图中的光场数据空角一致性进行评价：指标S‑cons取值范围在(0‑1)，指标S‑cons越接近1，代表边界区域方差越小，光场数据的空角一致性越好，指标S‑cons越接近0，光场数据的空角一致性越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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公开(公告)号：CN112669355A
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN202110006480.2
申请日：2021-01-05
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于RGB‑D超像素分割的聚焦堆栈数据拼接融合方法及系统，该方法包括：步骤1，由聚焦堆栈数据计算生成全聚焦图与深度图，即准确配准的RGB‑D数据；步骤2，将低分辨率的2D大视场图像上采样至与RGB‑D数据尺度一致；步骤3，对RGB‑D数据进行超像素分割；步骤4，提取并匹配全聚焦图与大视场2D图像之间的特征点，计算同一深度层超像素的准确单应性变换矩阵；步骤5，逐深度层进行超像素变换实现全聚焦图和深度图的拼接融合；步骤6，由大视场的RGB‑D数据生成大视场的聚焦堆栈数据。本发明能够实现多组不同视角下的聚焦堆栈数据的拼接融合。
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公开(公告)号：CN114742847A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210405016.5
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像并计算其视差；步骤2，计算中心子孔径图像alpha图；步骤3，通过光场alpha图传播模型，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图alphau,v(x,y)。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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公开(公告)号：CN114742846A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210404986.3
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在空间域获取的空角一致性评价指标S‑cons，对光场alpha图中的光场数据空角一致性进行评价：指标S‑cons取值范围在(0‑1)，指标S‑cons越接近1，代表边界区域方差越小，光场数据的空角一致性越好，指标S‑cons越接近0，光场数据的空角一致性越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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公开(公告)号：CN114742845A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210404965.1
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在频域获取的空角一致性评价指标F‑cons，对光场alpha图中的空角一致性进行评价：指标F‑cons取值范围在(0‑1)，指标F‑cons越大，代表支集所占范围越小，光场数据空角一致性越好，反之越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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