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公开(公告)号：CN111932648B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202010766903.6
申请日：2020-08-03
Abstract: 本发明公开了一种由螺旋采样光场数据重建三维物体的方法，其包括：步骤1，将螺旋采样光场数据表示为Ls(x，y，Φ)：相机采集到的光场数据为螺旋采样光场数据，s表示螺距，为螺旋角度，表示在第k层下的旋转角度，x、y分别为相机的探测器平面在世界坐标系中的横、纵坐标；步骤2，建立物点在螺旋采样光场下的理想轨迹方程；步骤3，进行亚光圈区域匹配，追踪匹配点在螺旋采样光场数据中的轨迹；步骤4，对轨迹进行参数拟合，得到匹配点的三维坐标，重构三维物体。本发明方法能够实现高精度的物体三维表面重构，由于与螺旋CT数据采集模式相匹配，可与螺旋CT一起构成同时重构物体表面和内部结构信息的双模态成像系统。
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公开(公告)号：CN114742846B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202210404986.3
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图空间域评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在空间域获取的空角一致性评价指标S‑cons，对光场alpha图中的光场数据空角一致性进行评价：指标S‑cons取值范围在(0‑1)，指标S‑cons越接近1，代表边界区域方差越小，光场数据的空角一致性越好，指标S‑cons越接近0，光场数据的空角一致性越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111932648A
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN202010766903.6
申请日：2020-08-03
Abstract: 本发明公开了一种由螺旋采样光场数据重建三维物体的方法，其包括：步骤1，将螺旋采样光场数据表示为Ls(x，y，Φ)：相机采集到的光场数据为螺旋采样光场数据，s表示螺距， 为螺旋角度，表示在第k层下的旋转角度，x、y分别为相机的探测器平面在世界坐标系中的横、纵坐标；步骤2，建立物点在螺旋采样光场下的理想轨迹方程；步骤3，进行亚光圈区域匹配，追踪匹配点在螺旋采样光场数据中的轨迹；步骤4，对轨迹进行参数拟合，得到匹配点的三维坐标，重构三维物体。本发明方法能够实现高精度的物体三维表面重构，由于与螺旋CT数据采集模式相匹配，可与螺旋CT一起构成同时重构物体表面和内部结构信息的双模态成像系统。
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公开(公告)号：CN114742847B
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202210405016.5
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像并计算其视差；步骤2，计算中心子孔径图像alpha图；步骤3，通过光场alpha图传播模型，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图alphau,v(x,y)。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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公开(公告)号：CN114742847A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210405016.5
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像并计算其视差；步骤2，计算中心子孔径图像alpha图；步骤3，通过光场alpha图传播模型，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图alphau,v(x,y)。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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公开(公告)号：CN114742846A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210404986.3
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在空间域获取的空角一致性评价指标S‑cons，对光场alpha图中的光场数据空角一致性进行评价：指标S‑cons取值范围在(0‑1)，指标S‑cons越接近1，代表边界区域方差越小，光场数据的空角一致性越好，指标S‑cons越接近0，光场数据的空角一致性越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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公开(公告)号：CN114742845A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210404965.1
申请日：2022-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在频域获取的空角一致性评价指标F‑cons，对光场alpha图中的空角一致性进行评价：指标F‑cons取值范围在(0‑1)，指标F‑cons越大，代表支集所占范围越小，光场数据空角一致性越好，反之越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。
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