求取基板的形状的方法、曝光方法、曝光装置、物品的制造方法以及存储介质

    公开(公告)号:CN115343922A

    公开(公告)日:2022-11-15

    申请号:CN202210504564.3

    申请日:2022-05-10

    Abstract: 本发明涉及求取基板的形状的方法、曝光方法、曝光装置、物品的制造方法以及存储介质。提供一种求取基板的形状的方法,其特征在于,具有:针对根据分配给多个第1基板中的每个第1基板的多个标记中的第1数量的标记的第1位置测量数据决定的所述多个第1基板中的每个第1基板所属的每个组,求取代表性地表示属于该组的第1基板的形状的代表数据的工序;以及根据分配给与所述多个第1基板不同的第2基板的多个标记中的比所述第1数量小的第2数量的标记的第2位置测量数据、以及与根据所述第2位置测量数据决定的所述第2基板所属的组对应的所述代表数据,求取表示所述第2基板的形状的形状数据的工序。

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