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公开(公告)号：CN101048780B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200580028048.2
申请日：2005-07-11
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
Inventor： C·A·米勒
CPC classification number: G01R35/005 , G01R31/3016 , G01R31/31723 , G01R31/318511 , G01R31/3191 , G01R31/31937
Abstract: 一连串脉冲可被驱动到各个驱动通道，各个驱动通道在缓冲器的输出端生成一连串混合脉冲。各个混合脉冲是由驱动到驱动通道的各个脉冲构成。可调节与驱动通道相关联的时间偏移量，直到混合脉冲中的各个脉冲对齐或接近对齐。这些时间偏移量对驱动通道进行校准和/或校直，从而补偿通过驱动通道的传播延迟的偏差。混合脉冲可经由比较通道反馈到测试器，且可使与用于各个比较通道的比较信号相关联的偏移量与混合脉冲对齐，这可校准和/或校直比较脉冲。
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公开(公告)号：CN1954227A
公开(公告)日：2007-04-25
申请号：CN200580009468.6
申请日：2005-02-02
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
Inventor： C·A·米勒
IPC: G01R31/302 , G01R31/26 , G01R31/02 , G01R1/00 , G01R31/308 , G01R1/02
CPC classification number: G01R1/0491 , G01R1/07 , G01R1/07378 , G01R31/3025
Abstract: 接口器件从测试器接收测试数据。表示测试数据的信号通过接口器件和受测器件上的电磁耦合结构传送到受测器件。受测器件处理测试数据并生成响应数据。表示响应数据的信号通过受测器件和接口器件上的电磁耦合结构传送到接口器件。
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公开(公告)号：CN1802743A
公开(公告)日：2006-07-12
申请号：CN200480012371.6
申请日：2004-04-12
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
IPC: H01L23/485 , H01L23/48
CPC classification number: H05K3/4007 , H01L24/13 , H01L24/72 , H01L24/81 , H01L2224/05001 , H01L2224/05027 , H01L2224/05548 , H01L2224/05568 , H01L2224/05573 , H01L2224/13 , H01L2224/13099 , H01L2224/73251 , H01L2224/81901 , H01L2924/00014 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01015 , H01L2924/01022 , H01L2924/01027 , H01L2924/01033 , H01L2924/01039 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/01058 , H01L2924/01074 , H01L2924/01075 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/014 , H01L2924/10253 , H01L2924/14 , H01L2924/19041 , H01L2924/3011 , H01L2924/3025 , H01L2924/351 , H01R12/57 , H01R43/007 , H05K3/326 , H05K2201/0133 , H05K2201/0367 , H05K2201/09909 , Y10T29/49147 , H01L2924/00 , H01L2224/16 , H01L2224/72 , H01L2224/05599 , H01L2224/05099
Abstract: 这里公开用于在装置和匹配衬底之间形成电接触的微电子弹性触头及其制造方法。弹性触头具有粘附于器件衬底并与器件衬底的接线端隔开的顺应性垫。顺应性垫具有粘附于衬底的底部以及从衬底延伸出并在远离衬底处削锥至一较小的端部区域的侧表面。迹线在顺应性垫上从装置的接线端向其端部区域延伸。顺应性垫端部区域的至少一部分被迹线所覆盖，在顺应性垫上的迹线的一部分被顺应性垫支承。
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公开(公告)号：CN1250979C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN01811457.1
申请日：2001-03-28
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
Inventor： C·A·米勒
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R31/318385 , G01R31/31905 , G01R31/3191
Abstract: 揭示了一种用于晶片级集成电路(IC)测试仪的定时校准系统。为了调节每个测试仪信道的比较校准延迟，一互连系统顺序地把测试仪信道连接到在“校准”晶片上的互连区，而不是待测晶片上的IC，每个互连区提供把待校准的信道连结到备用信道的路径。随着校准中信道的可编程驱动延迟以及备用信道的可编程比较和比较校准延迟被设定到标准值，校准中信道的驱动校准延迟被调节到能把测试信号边缘发送到接近于当备用信道对它取样时的备用信道。
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公开(公告)号：CN1531841A
公开(公告)日：2004-09-22
申请号：CN02803755.3
申请日：2002-01-15
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
CPC classification number: H03H7/38 , H03H7/0115 , H03H7/075 , H03H7/1758 , H03H2001/0085 , H05K1/0216 , H05K1/0231 , H05K1/0233 , H05K1/0251 , H05K1/113 , H05K1/116 , H05K1/162 , H05K3/3421 , H05K3/429 , H05K2201/09263 , H05K2201/09454 , H05K2201/09672 , H05K2201/09727 , H05K2201/10689
Abstract: 一种印刷线路板(PCB)通孔，提供一条导体，在PCB的各层上形成的微带或带状线导体之间垂直地延伸，该通孔包括一个导电焊盘，围绕着所述导体并嵌入在所述PCB内，位于这些PCB层之间。该焊盘的并联电容和该通孔其他部分的电容量的大小相对于所述导体固有阻抗，优化所述通孔的频率响应特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102116779A
公开(公告)日：2011-07-06
申请号：CN201110033281.7
申请日：2005-04-21
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
IPC: G01R1/073 , G01R31/26 , G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31905 , G01R1/07385 , G01R1/36 , G01R31/2889 , G01R35/00
Abstract: 提供了一种用于晶片测试系统的探针卡，它具有许多单板特征，能够进行测试系统控制器通道的扇出，以便测试晶片上的多个DUT，同时又限制了扇出对测试结果的不利影响。探针卡的单板特征包括下列一个或多个：(a)DUT信号隔离，这是通过将电阻器与每一个DUT输入串联以隔离出故障的DUT而设置的；(b)DUT电源隔离，这由与每一个DUT电源引脚串联的开关、限流器或调解器来设置，以便隔离对出故障的DUT的电源供给；(c)用单板微控制器或FPGA来设置的自测；(d)作为探针卡一部分而设置的层叠的子卡，用于容纳附加的单板测试电路；以及(e)在探针卡的底部PCB及子卡或测试系统控制器之间接口总线的使用，以使底部PCB和子卡之间或底部PCB和测试系统控制器之间的接口导线的数目达到最小。
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公开(公告)号：CN1954227B
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN200580009468.6
申请日：2005-02-02
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
Inventor： C·A·米勒
IPC: G01R31/302 , G01R31/26 , G01R31/02 , G01R1/00 , G01R31/308 , G01R1/02
CPC classification number: G01R1/0491 , G01R1/07 , G01R1/07378 , G01R31/3025
Abstract: 接口器件从测试器接收测试数据。表示测试数据的信号通过接口器件和受测器件上的电磁耦合结构传送到受测器件。受测器件处理测试数据并生成响应数据。表示响应数据的信号通过受测器件和接口器件上的电磁耦合结构传送到接口器件。
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公开(公告)号：CN101115998B
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200580029701.7
申请日：2005-09-08
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
Inventor： C·A·米勒
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/3008
Abstract: 提供了一种使得泄漏电流测量或参数测试可用设置在通道线路中的隔离缓冲器来执行的系统。多个这种隔离缓冲器被用来将单个信号通道连接到多个线路。通过设置在每一个缓冲器的输入和输出之间的缓冲器旁路元件，诸如电阻器或传输门，来提供泄漏电流测量。通过使用TDR测量来基于通过缓冲器旁路元件的反射脉冲确定缓冲器延迟，缓冲器旁路元件可被用来校准消除测试系统中的缓冲器延迟。通过比较测量缓冲和非缓冲通道线路或者通过测量具有已知延迟的设备，同样可校准消除缓冲器延迟。
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公开(公告)号：CN101495878A
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200780021208.X
申请日：2007-05-25
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
IPC: G01R31/02
CPC classification number: G01R1/06711 , G01R1/06727 , G01R1/07 , G01R31/3025
Abstract: 一种用于接触和测试半导体器件上的IC的探针包括电介质绝缘材料探头。和金属探针头不同，该电介质探头不污染被探测表面。由于信号从探针头电容或电感耦合到IC，所以进一步不需要接触擦痕。可在晶片早期制造步骤期间、在不需要将金属化层涂敷到晶片以形成接合焊盘的情况下执行测试。可通过将交流信号电感耦合到探针头，并通过在电介质探针头中包括磁性材料以增强耦合来执行测试。使用交流测试信号能够在不需要隔离电源和接地连接的情况下测试IC。
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公开(公告)号：CN101115998A
公开(公告)日：2008-01-30
申请号：CN200580029701.7
申请日：2005-09-08
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
Inventor： C·A·米勒
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/3008
Abstract: 提供了一种使得泄漏电流测量或参数测试可用设置在通道线路中的隔离缓冲器来执行的系统。多个这种隔离缓冲器被用来将单个信号通道连接到多个线路。通过设置在每一个缓冲器的输入和输出之间的缓冲器旁路元件，诸如电阻器或传输门，来提供泄漏电流测量。通过使用TDR测量来基于通过缓冲器旁路元件的反射脉冲确定缓冲器延迟，缓冲器旁路元件可被用来校准消除测试系统中的缓冲器延迟。通过比较测量缓冲和非缓冲通道线路或者通过测量具有已知延迟的设备，同样可校准消除缓冲器延迟。
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