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公开(公告)号：CN106646584A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201610964385.2
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
CPC classification number: G01T7/005
Abstract: 本发明实施例涉及一种屏蔽箱,包括：箱体和屏蔽门，屏蔽门安装在箱体上；箱体和屏蔽门均由屏蔽层构成，屏蔽层包括第一屏蔽层、第二屏蔽层、第三屏蔽层和第四屏蔽层；其中，第一屏蔽层的材质为铅，用于屏蔽环境中的伽马射线；第二屏蔽层设置于第一屏蔽层的内侧，第二屏蔽层的材质为镉，用于吸收铅K壳层特征X射线和屏蔽箱内的低能散射射线；第三屏蔽层设置于第二屏蔽层的内侧，第三屏蔽层的材质为不锈钢，用于吸收镉的K壳层X射线；第四屏蔽层设置于第三屏蔽层的内侧，第四屏蔽层的材质为聚乙烯，用于慢化并吸收中子。
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公开(公告)号：CN104122278A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410325897.5
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N23/083 , G01T1/00
Abstract: 本发明涉及一种X射线出射装置，X射线出射装置包括：X射线屏蔽装置，固定在光学平台上，包括：前挡板、后挡板、两侧面挡板、和支撑架，用于支撑前挡板、后挡板、两侧面挡板和上盖；X射线调整装置容置在X射线屏蔽装置内，包括：竖直升降调整台、水平前后调整台、角度调整平台、水平位移调整平台、X射线滤过装置；X射线滤过装置包括：固定部件、第一转盘、第二转盘；第一转盘和第二转盘转至工作位置时，工作位第一过滤片和工作位第二过滤片对准X射线出射孔，X射线管发射出的X射线通过X射线出射孔出射，通过工作位第一过滤片和工作位第二过滤片过滤。本发明X射线出射装置实现了方便和精确的X射线的出射调整。
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公开(公告)号：CN104090289B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410325882.9
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种X射线系统，所述系统包括：X射线出射装置，用于出射X射线；电离室调节装置，所述X射线出射装置位于所述电离室调节装置的一侧的对应位置，用于搭设电离室，所述电离室接收所述X射线；激光器调整装置，位于所述电离室调节装置的另一侧的对应位置，用于发射激光光束，所述激光光束与所述X射线同轴。本发明X射线系统实现了方便的对X射线辐射场的测量。
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公开(公告)号：CN106546610A
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201610971899.0
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明实施例提供了一种空间分辨率的测试系统，包括：X光机，用于发射CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽；探测器，X射线通过测试标准件的凸起部和凹槽后被探测器接收，并转化为电信号，将电信号转化为可视化的灰度图像，灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。本发明空间分辨率的测试系统，实现了降低加工难度和成本，减少检测时间成本，检测精度更高。
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公开(公告)号：CN104101892B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201410325978.5
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T1/00
Abstract: 本发明涉及一种X射线与导轨平行系统，系统包括：X射线出射装置，具有X射线管；电离室调节装置，具有第一导轨，用于搭设电离室或面阵平板探测器，电离室或面阵平板探测器接收X射线；其中，当X射线照射在面阵平板探测器，调整X射线管的X射线出射位置，使得X射线的光束中心与面阵平板探测器中心重合；改变面阵平板探测器与X射线出射装置的相对距离，再次调整X射线管的X射线出射位置，使得X射线的光束中心再次与面阵平板探测器中心重合；继续调整X射线管的X射线出射位置，直到X射线的光束中心与面阵平板探测器中心一直重合，达到X射线与第一导轨平行。发明X射线与导轨平行系统实现了方便的X射线与导轨平行。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104091748B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410325912.6
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01J47/02
Abstract: 本发明涉及一种电离室调节装置，包括：基座，基座上具有第一导轨；电离室位置调整装置，包括：一级移动载物平台，在第一导轨上平动，且具有第二导轨，第一导轨沿X射线主束方向，第二导轨与第一导轨的方向垂直；二级移动载物平台，在第二导轨上平动；三级移动载物平台，包括竖直升降调整平台，竖直升降调整平台上具有夹具夹持电离室，用于调节电离室的高度；调节一级移动载物平台在第一导轨上平动，二级移动载物平台在第二导轨上平动，竖直升降调整平台调节电离室高度，使得激光中心对准电离室的灵敏体积中心，激光中心与X射线主束中心位置相同。本发明电离室调节装置实现了方便和精确的电离室位置的调整。
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公开(公告)号：CN104199082A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201410325960.5
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种X射线与激光同轴系统。所述系统包括：电离室调节装置，具有第一轨道与X射线平行，X射线的光束中心与面阵平板探测器的中心重合；激光器调整装置位于电离室调节装置的另一侧的对应位置，夹持有激光器发射激光；当激光照射在面阵平板探测器，调整激光器的激光出射位置，使得激光的十字中心与面阵平板探测器中心重合；改变面阵平板探测器与激光器调整装置的相对距离，再次调整激光器的激光出射位置，使得激光的十字中心与面阵平板探测器中心再次重合；继续调整激光器的激光出射位置，直到激光的十字中心与面阵平板探测器中心一直重合，使得激光与X射线同轴。本发明X射线与激光同轴系统实现方便的对X射线与激光同轴处理。
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公开(公告)号：CN104199082B
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201410325960.5
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种X射线与激光同轴系统。所述系统包括：电离室调节装置，具有第一导轨与X射线平行，X射线的光束中心与面阵平板探测器的中心重合；激光器调整装置位于电离室调节装置的另一侧的对应位置，夹持有激光器发射激光；当激光照射在面阵平板探测器，调整激光器的激光出射位置，使得激光的十字中心与面阵平板探测器中心重合；改变面阵平板探测器与激光器调整装置的相对距离，再次调整激光器的激光出射位置，使得激光的十字中心与面阵平板探测器中心再次重合；继续调整激光器的激光出射位置，直到激光的十字中心与面阵平板探测器中心一直重合，使得激光与X射线同轴。本发明X射线与激光同轴系统实现方便的对X射线与激光同轴处理。
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公开(公告)号：CN104122278B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201410325897.5
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N23/083 , G01T1/00
Abstract: 本发明涉及一种X射线出射装置，X射线出射装置包括：X射线屏蔽装置，固定在第一光学平台上，包括：前挡板、后挡板、两侧面挡板、和支撑架，用于支撑前挡板、后挡板、两侧面挡板和上盖；X射线调整装置容置在X射线屏蔽装置内，包括：竖直升降调整台、水平前后调整台、角度调整平台、水平位移调整平台、X射线滤过装置；X射线滤过装置包括：固定部件、第一转盘、第二转盘；第一转盘和第二转盘转至工作位置时，工作位第一过滤片和工作位第二过滤片对准X射线出射孔，X射线管发射出的X射线通过X射线出射孔出射，通过工作位第一过滤片和工作位第二过滤片过滤。本发明X射线出射装置实现了方便和精确的X射线的出射调整。
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公开(公告)号：CN104101892A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201410325978.5
申请日：2014-07-09
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T1/00
Abstract: 本发明涉及一种X射线与导轨平行系统，系统包括：X射线出射装置，具有X射线管；电离室调节装置，具有第一导轨，用于搭设电离室或面阵平板探测器，电离室或面阵平板探测器接收X射线；其中，当X射线照射在面阵平板探测器，调整X射线管的X射线出射位置，使得X射线的光束中心与面阵平板探测器中心重合；改变面阵平板探测器与X射线出射装置的相对距离，再次调整X射线管的X射线出射位置，使得X射线的光束中心再次与面阵平板探测器中心重合；继续调整X射线管的X射线出射位置，直到X射线的光束中心与面阵平板探测器中心一直重合，达到X射线与第一导轨平行。发明X射线与导轨平行系统实现了方便的X射线与导轨平行。
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