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公开(公告)号：CN119471118A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411593505.3
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国特种飞行器研究所
Abstract: 本发明一种腐蚀条件下微小缝隙结构电子设备电磁屏蔽性能预测方法，属于电子设备电磁屏蔽性能预测领域，其包括以下步骤：S1、构建等效电导率的计算公式；S2、搭建具有微小缝隙结构的屏蔽箱体以及多组缝隙结构样品；S3、模拟腐蚀条件，对多组缝隙结构样品进行腐蚀，并对实验数据进行采集。S4、基于步骤S1构建的等效电导率的计算公式计算等效电导率并对电子设备电磁屏蔽性能进行预测。本发明能够实现对屏蔽体微小缝隙结构电导率参数的计算，能够快速评价腐蚀环境下屏蔽箱体微小结构表面电接触状态，同时可进一步近似评价屏蔽箱体电磁屏蔽效能退化情况，为屏蔽体服役寿命的准确评估提供重要依据和手段。
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公开(公告)号：CN119438888A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411593503.4
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国特种飞行器研究所
IPC: G01R31/327 , G01R31/00
Abstract: 本发明属于微动开关测试技术领域，提供一种微动开关腐蚀与电应力施加试验性能测试方法，其步骤包括：S1、预处理；S2、进行酸性盐雾腐蚀试验；S3、进行湿热试验；S4、在转换测试电负载下对微动开关进行第二次转换动作测试；S5、循环步骤S2、S3和S4多次，根据待测微动开关类型调整测试循环次数；S6、测试微动开关的触点回跳时间是否合格。本发明通过酸性盐雾‑湿热‑电应力转换动作的循环组合试验，贴近微动开关寿命期内实际服役环境，能够真实反映微动开关经受腐蚀与电应力叠加效应的影响，有效提高微动开关薄弱环节暴露的效率，为微动开关耐腐蚀环境能力提供试验依据与测试手段。
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公开(公告)号：CN110501152A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201910797158.9
申请日：2019-08-27
Applicant: 中国航空综合技术研究所
Abstract: 本发明提出一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法，其基于三方面内容试验，分别为插拔、腐蚀和振动应力对连接型结构组件内部接触区域的影响机制。以电连接器为例，不同插拔次数下，对电连接器内部针孔接触区域的磨损程度和对电连接器电性能参数的影响也不相同。本发明中提出的一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法是针对连接型结构组件如电连接器分别进行插拔试验、腐蚀试验和振动试验，确定每种试验中电连接器内部针孔接触区域最易受到损伤的具体条件后，按照选定的试验条件进行循环组合试验，通过控制每种试验施加条件进行三种试验的循环来模拟电连接器产品在实际使用环境中的真实状态。
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公开(公告)号：CN108414925A
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201810100367.9
申请日：2018-01-31
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01R31/327 , G01R1/02
Abstract: 本发明是一种振动环境下开关的机械动作可控施加的测试装置，该测试装置包括一个振动台(1)，在振动台(1)的台面上固定安装一个转接板(2)，旋转轴(4)通过安装在转接板(2)上的轴承座(3)固定，在旋转轴(4)上套装有由电机带动旋转的凸轮(5)，另外，在转接板(2)上固定安装一个支架(6)，在支架(6)上安装一个试件安装夹具(7)，试件(8)通过试件安装夹具(7)固定并使试件(8)的开关位于凸轮(5)的上方或侧面，旋转的凸轮(5)能够对试件(8)的开关进行往复的机械按压动作。
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公开(公告)号：CN106970319A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201710243210.7
申请日：2017-04-14
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01R31/327 , G01R19/25 , G01R29/02
Abstract: 本发明提供一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法和测量装置，包括：继电器在外界振动条件下，触点对会随机发生瞬时的断开或闭合，进而引起触点对两端产生瞬时变化的电压信号；将被测电压信号经高速比较器，与阈值电压比较，利用FPGA对高速比较器输出脉冲信号进行处理、脉冲宽度分析，从而实现对变化时间的精确测量；需要再次测量时，根据触点对状态测试系统可自动更改测试条件，控制阈值切换开关更改高速比较器的阈值电压，完成测量。本测量方法具有测试系统小型化、硬件电路简洁化以及时间参数精确化的特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119619654A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411659948.8
申请日：2024-11-20
Applicant: 中国航空综合技术研究所
Abstract: 本发明提供一种用于FPGA系统在辐射中单粒子效应诱发故障率的预测方法，具体步骤为：对FPGA系统的辐射环境进行表征；确定FPGA系统在辐射环境下单粒子效应的敏感性；建立FPGA系统在辐射环境下的注量域可靠性模型：将单粒子效应截面σSEE的特性转化为对应的平均无故障注量MFTF，根据平均无故障注量MFTF和辐射场中单位面积上通过的粒子总数Φ，建立各能谱段或LET谱段在给定辐射注量内的FPGA系统可靠度模型。本发明结合物理过程分析和数据驱动的手段，建立注量域可靠性模型，从而提高相关设备在特殊物理环境下的可靠性。
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公开(公告)号：CN106970319B
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201710243210.7
申请日：2017-04-14
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01R31/327 , G01R19/25 , G01R29/02
Abstract: 本发明提供一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法和测量装置，包括：继电器在外界振动条件下，触点对会随机发生瞬时的断开或闭合，进而引起触点对两端产生瞬时变化的电压信号；将被测电压信号经高速比较器，与阈值电压比较，利用FPGA对高速比较器输出脉冲信号进行处理、脉冲宽度分析，从而实现对变化时间的精确测量；需要再次测量时，根据触点对状态测试系统可自动更改测试条件，控制阈值切换开关更改高速比较器的阈值电压，完成测量。本测量方法具有测试系统小型化、硬件电路简洁化以及时间参数精确化的特点。
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公开(公告)号：CN108254174A
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201810102730.0
申请日：2018-02-01
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01M13/00
Abstract: 本发明提供了一种密封件老化试验系统，其包括老化环境模拟箱、温度传感器、外筒、密封件工装、管路、阀、气动元件、温度传感器以及工作介质容器，温度传感器与密封件工装相连，外筒设置在老化环境模拟箱内部，外筒的上端面处设置有接口，密封件工装中设置有内部具有空腔及导流孔的阀芯，空腔能够进行管路连接；气动元件通过管路分别与密封件工装与外筒进行连通，上述各处连接管路上均设置有阀，工作介质容器通过管路分别与密封件工装和外筒进行连通，且此处管路上设置有用于泄压的部件。本发明中还提供了一种用于密封件老化的试验方法。本发明能够对工作应力和环境应力耦合的老化环境进行模拟，自动化程度高且试验效率高。
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公开(公告)号：CN116125162A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211544763.3
申请日：2022-12-02
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明提供一种基于腐蚀损伤试验的机载电子产品日历寿命评估方法，包括以下步骤：S1、确定与机载电子产品相匹配的试验模式；S2、确定与机载电子产品实际使用环境相关联的试验参数；试验参数包括加速因子和试验时间；S3、根据步骤S2确定的加速因子和试验时间对步骤S1得到的试验模式进行腐蚀试验；S4、根据腐蚀试验的试验结果对机载电子产品的寿命可靠性进行评估。本发明突破了按照GJB150开展腐蚀试验的局限，通过引入干湿交替、多应力协同、精确控制相对湿度时间占比和试验样品表面潮解时间占比等措施，能够有效保证试验与实际环境腐蚀损伤机制的一致性，利用受试产品用腐蚀材料的典型标准件腐蚀进程速率之比，实现实验室时间与日历寿命相关联。
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公开(公告)号：CN112362565A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011241105.8
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明提供了一种用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置，其包括电路功能板、小机盒和机箱，机箱内部插有多个小机盒，分别安装有不同芯片的电路功能板，电路功能板包括存储器、电平转换电路、微处理器、通信电路、第一采集电路和第二采集电路，第一采集电路和第二采集电路采集得到的测试指标经微处理器和电平转换电路存储至存储器中，再由上位机经通信电路、微处理器和电平转换电路从存储器中读取，并提供了一种适用于此装置的环境适应性水平评价方法。本发明集成不同元器件于同一块电路功能板上，借助多块不同芯片的电路功能板同时测试，以评价不同电子元器件的环境适应性水平，通用性强且效果明显。
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