一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法以及试验夹具

    公开(公告)号:CN110501152A

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201910797158.9

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本发明提出一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法,其基于三方面内容试验,分别为插拔、腐蚀和振动应力对连接型结构组件内部接触区域的影响机制。以电连接器为例,不同插拔次数下,对电连接器内部针孔接触区域的磨损程度和对电连接器电性能参数的影响也不相同。本发明中提出的一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法是针对连接型结构组件如电连接器分别进行插拔试验、腐蚀试验和振动试验,确定每种试验中电连接器内部针孔接触区域最易受到损伤的具体条件后,按照选定的试验条件进行循环组合试验,通过控制每种试验施加条件进行三种试验的循环来模拟电连接器产品在实际使用环境中的真实状态。

    一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法

    公开(公告)号:CN106970319A

    公开(公告)日:2017-07-21

    申请号:CN201710243210.7

    申请日:2017-04-14

    Abstract: 本发明提供一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法和测量装置,包括:继电器在外界振动条件下,触点对会随机发生瞬时的断开或闭合,进而引起触点对两端产生瞬时变化的电压信号;将被测电压信号经高速比较器,与阈值电压比较,利用FPGA对高速比较器输出脉冲信号进行处理、脉冲宽度分析,从而实现对变化时间的精确测量;需要再次测量时,根据触点对状态测试系统可自动更改测试条件,控制阈值切换开关更改高速比较器的阈值电压,完成测量。本测量方法具有测试系统小型化、硬件电路简洁化以及时间参数精确化的特点。

    一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法

    公开(公告)号:CN106970319B

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN201710243210.7

    申请日:2017-04-14

    Abstract: 本发明提供一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法和测量装置,包括:继电器在外界振动条件下,触点对会随机发生瞬时的断开或闭合,进而引起触点对两端产生瞬时变化的电压信号;将被测电压信号经高速比较器,与阈值电压比较,利用FPGA对高速比较器输出脉冲信号进行处理、脉冲宽度分析,从而实现对变化时间的精确测量;需要再次测量时,根据触点对状态测试系统可自动更改测试条件,控制阈值切换开关更改高速比较器的阈值电压,完成测量。本测量方法具有测试系统小型化、硬件电路简洁化以及时间参数精确化的特点。

    基于腐蚀损伤试验的机载电子产品日历寿命评估方法

    公开(公告)号:CN116125162A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202211544763.3

    申请日:2022-12-02

    Abstract: 本发明提供一种基于腐蚀损伤试验的机载电子产品日历寿命评估方法,包括以下步骤:S1、确定与机载电子产品相匹配的试验模式;S2、确定与机载电子产品实际使用环境相关联的试验参数;试验参数包括加速因子和试验时间;S3、根据步骤S2确定的加速因子和试验时间对步骤S1得到的试验模式进行腐蚀试验;S4、根据腐蚀试验的试验结果对机载电子产品的寿命可靠性进行评估。本发明突破了按照GJB150开展腐蚀试验的局限,通过引入干湿交替、多应力协同、精确控制相对湿度时间占比和试验样品表面潮解时间占比等措施,能够有效保证试验与实际环境腐蚀损伤机制的一致性,利用受试产品用腐蚀材料的典型标准件腐蚀进程速率之比,实现实验室时间与日历寿命相关联。

    基于神经网络模型的紧固件腐蚀图像自动分级方法

    公开(公告)号:CN116051465A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202211552264.9

    申请日:2022-12-05

    Inventor: 李刚 李明

    Abstract: 本发明提供一种基于神经网络模型的紧固件腐蚀图像自动分级方法,其包括如下步骤:S1、形成紧固件腐蚀图像矩阵W;S2、随机划分训练样本和测试样本;S3、在训练样本中增加对抗样本;S4、对训练样本中的每张紧固件腐蚀图像进行变换;S5、构建紧固件腐蚀图像分级模型;S6、设置紧固件腐蚀图像分级模型的参数;S7、对紧固件腐蚀图像分级模型进行训练及更新;S8、将步骤S7循环Num_train次,最终完成紧固件腐蚀图像分级模型的训练;S9、判断紧固件腐蚀图像分级模型的预测精度;S10、对待测紧固件的腐蚀图像进行紧固件腐蚀图像分级。其能够对在役紧固件表面腐蚀图像的腐蚀损伤等级进行自动分级,获知在役紧固件的使用状态并对其接下来的使用寿命进行预测。

    用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置及测试方法

    公开(公告)号:CN112362565B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202011241105.8

    申请日:2020-11-09

    Abstract: 本发明提供了一种用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置,其包括电路功能板、小机盒和机箱,机箱内部插有多个小机盒,分别安装有不同芯片的电路功能板,电路功能板包括存储器、电平转换电路、微处理器、通信电路、第一采集电路和第二采集电路,第一采集电路和第二采集电路采集得到的测试指标经微处理器和电平转换电路存储至存储器中,再由上位机经通信电路、微处理器和电平转换电路从存储器中读取,并提供了一种适用于此装置的环境适应性水平评价方法。本发明集成不同元器件于同一块电路功能板上,借助多块不同芯片的电路功能板同时测试,以评价不同电子元器件的环境适应性水平,通用性强且效果明显。

    基于程序定期更新的单粒子翻转影响量化指标确定方法

    公开(公告)号:CN115640024A

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN202211262480.X

    申请日:2022-10-14

    Abstract: 本发明提供了一种基于程序定期更新的单粒子翻转影响量化指标确定方法,其包括:针对定期更新中央处理器CPU中的指令Cache,将单粒子翻转SEU对电子系统的影响定量表征为单粒子翻转SEU敏感面积,计算程序保持不变时指令Cache输出的错误数,构建采用程序定期更新步骤之后的指令Cache输出的错误数的修正物理模型,获取采用程序定期更新步骤后指令Cache输出的错误数,确定采用程序定期更新步骤后对单粒子翻转SEU影响的量化指标。本发明可实现程序定期更新步骤对减缓单粒子翻转SEU影响效果的定量评估,有力支撑工程实施过程中辐射效应对电子产品影响的定量评估,可有效支撑电子系统可靠性的定量评估,同时其定量评估结果利于适航取证活动的开展。

    一种O形圈储能模量和损耗模量的试验系统及方法

    公开(公告)号:CN110873646B

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN201911223169.2

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 本发明提供一种O形圈储能模量和损耗模量试验系统,其包括控制装置、电动装置、力学传感器、位移传感器、第一周期应力施加装置、第二周期应力施加装置、O形圈夹具和固定装置,控制装置分别与电动装置、力学传感器和位移传感器通讯连接,电动装置的输出端连接第一周期应力施加装置和第二周期应力施加装置的输入端,控制装置控制电动装置的动作并接收力学传感器和位移传感器的测量数据。本发明还提供一种确定O形圈储能模量和损耗模量的方法,能够测量O形圈储能模量和损耗模量。本发明在老化/寿命试验过程中,为测量胶圈的模量,不需要对胶圈进行裁剪,不会导致密封圈破损,从而不会改变密封圈的力学属性。

    一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法以及试验夹具

    公开(公告)号:CN110501152B

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN201910797158.9

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本发明提出一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法,其基于三方面内容试验,分别为插拔、腐蚀和振动应力对连接型结构组件内部接触区域的影响机制。以电连接器为例,不同插拔次数下,对电连接器内部针孔接触区域的磨损程度和对电连接器电性能参数的影响也不相同。本发明中提出的一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法是针对连接型结构组件如电连接器分别进行插拔试验、腐蚀试验和振动试验,确定每种试验中电连接器内部针孔接触区域最易受到损伤的具体条件后,按照选定的试验条件进行循环组合试验,通过控制每种试验施加条件进行三种试验的循环来模拟电连接器产品在实际使用环境中的真实状态。

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