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公开(公告)号:CN119471118A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411593505.3
申请日:2024-11-08
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国特种飞行器研究所
Abstract: 本发明一种腐蚀条件下微小缝隙结构电子设备电磁屏蔽性能预测方法,属于电子设备电磁屏蔽性能预测领域,其包括以下步骤:S1、构建等效电导率的计算公式;S2、搭建具有微小缝隙结构的屏蔽箱体以及多组缝隙结构样品;S3、模拟腐蚀条件,对多组缝隙结构样品进行腐蚀,并对实验数据进行采集。S4、基于步骤S1构建的等效电导率的计算公式计算等效电导率并对电子设备电磁屏蔽性能进行预测。本发明能够实现对屏蔽体微小缝隙结构电导率参数的计算,能够快速评价腐蚀环境下屏蔽箱体微小结构表面电接触状态,同时可进一步近似评价屏蔽箱体电磁屏蔽效能退化情况,为屏蔽体服役寿命的准确评估提供重要依据和手段。
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公开(公告)号:CN119438888A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411593503.4
申请日:2024-11-08
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国特种飞行器研究所
IPC: G01R31/327 , G01R31/00
Abstract: 本发明属于微动开关测试技术领域,提供一种微动开关腐蚀与电应力施加试验性能测试方法,其步骤包括:S1、预处理;S2、进行酸性盐雾腐蚀试验;S3、进行湿热试验;S4、在转换测试电负载下对微动开关进行第二次转换动作测试;S5、循环步骤S2、S3和S4多次,根据待测微动开关类型调整测试循环次数;S6、测试微动开关的触点回跳时间是否合格。本发明通过酸性盐雾‑湿热‑电应力转换动作的循环组合试验,贴近微动开关寿命期内实际服役环境,能够真实反映微动开关经受腐蚀与电应力叠加效应的影响,有效提高微动开关薄弱环节暴露的效率,为微动开关耐腐蚀环境能力提供试验依据与测试手段。
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公开(公告)号:CN110501152A
公开(公告)日:2019-11-26
申请号:CN201910797158.9
申请日:2019-08-27
Applicant: 中国航空综合技术研究所
Abstract: 本发明提出一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法,其基于三方面内容试验,分别为插拔、腐蚀和振动应力对连接型结构组件内部接触区域的影响机制。以电连接器为例,不同插拔次数下,对电连接器内部针孔接触区域的磨损程度和对电连接器电性能参数的影响也不相同。本发明中提出的一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法是针对连接型结构组件如电连接器分别进行插拔试验、腐蚀试验和振动试验,确定每种试验中电连接器内部针孔接触区域最易受到损伤的具体条件后,按照选定的试验条件进行循环组合试验,通过控制每种试验施加条件进行三种试验的循环来模拟电连接器产品在实际使用环境中的真实状态。
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公开(公告)号:CN107688045B
公开(公告)日:2019-03-22
申请号:CN201711045115.2
申请日:2017-10-31
Applicant: 南京航空航天大学 , 中国航空综合技术研究所
Abstract: 本发明提供一种电化学pH传感器,以饱和KCl溶液为电解液,溶液中含有大量离子,可以使pH传感器内阻更小,导电性能更优;Ag/AgCl参比电极为圆丁状,其圆片电极相比针状可以有效增大电极与微液膜接触面积,使pH传感器灵敏度更好;RuO2‑TiO2复合H+敏感电极为环片状,与普通电极结构相比,可以有效提高微液膜中H+与电极接触面积,增加传感通道,从而提高传感器的灵敏度,更好的对飞行器进行腐蚀监测;并且,本发明提供的电化学pH传感器形状为圆柱形,较传统长条笔状电极更易安放在飞行器表面,进而对海上高盐高湿环境下飞行器表面进行腐蚀监测。
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公开(公告)号:CN108414925A
公开(公告)日:2018-08-17
申请号:CN201810100367.9
申请日:2018-01-31
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01R31/327 , G01R1/02
Abstract: 本发明是一种振动环境下开关的机械动作可控施加的测试装置,该测试装置包括一个振动台(1),在振动台(1)的台面上固定安装一个转接板(2),旋转轴(4)通过安装在转接板(2)上的轴承座(3)固定,在旋转轴(4)上套装有由电机带动旋转的凸轮(5),另外,在转接板(2)上固定安装一个支架(6),在支架(6)上安装一个试件安装夹具(7),试件(8)通过试件安装夹具(7)固定并使试件(8)的开关位于凸轮(5)的上方或侧面,旋转的凸轮(5)能够对试件(8)的开关进行往复的机械按压动作。
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公开(公告)号:CN106970319A
公开(公告)日:2017-07-21
申请号:CN201710243210.7
申请日:2017-04-14
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01R31/327 , G01R19/25 , G01R29/02
Abstract: 本发明提供一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法和测量装置,包括:继电器在外界振动条件下,触点对会随机发生瞬时的断开或闭合,进而引起触点对两端产生瞬时变化的电压信号;将被测电压信号经高速比较器,与阈值电压比较,利用FPGA对高速比较器输出脉冲信号进行处理、脉冲宽度分析,从而实现对变化时间的精确测量;需要再次测量时,根据触点对状态测试系统可自动更改测试条件,控制阈值切换开关更改高速比较器的阈值电压,完成测量。本测量方法具有测试系统小型化、硬件电路简洁化以及时间参数精确化的特点。
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公开(公告)号:CN104101471A
公开(公告)日:2014-10-15
申请号:CN201410323131.3
申请日:2014-07-08
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 海洋化工研究院有限公司
IPC: G01M7/02
Abstract: 本发明属于振动试验技术领域,涉及一种提高振动试验可控性和准确性的方法,具体涉及一种振动试验夹具的宽频阻尼处理方法。本发明方法包括(一)制备宽频阻尼胶,(二)试验夹具的准备,(三)灌注宽频阻尼胶。本发明通过在试验夹具填充特殊的粘弹性聚合物的方式,能够将振动试验夹具的模态阻尼提高1~2个数量级,且在200~2000Hz的较宽频率范围内都具有良好的改性效果;制备的宽频阻尼胶密度可调,成本低,适用范围广;应用经本发明处理的试验夹具,可显著降低单自由度或多自由度谐振系统品质因素,提高振动控制精度,有效避免过试验和欠试验的发生,节约试验经费,并降低由于振动应力量值扩大造成被试产品损毁的风险。
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公开(公告)号:CN119598806A
公开(公告)日:2025-03-11
申请号:CN202411688884.4
申请日:2024-11-25
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G06F30/23 , G06F30/17 , G06T17/20 , G06F119/08 , G06F119/02 , G06F113/26 , G06F111/10 , G06F111/08
Abstract: 本发明属于金属腐蚀数值模拟分析技术领域,具体为基于元胞腐蚀的航空金属编织导线点云数据实体建模方法,其包括:S1、建立模拟航空金属编织导线腐蚀环境的三维元胞空间;S2、根据三维元胞空间进行导线腐蚀过程仿真建模,确定导线元胞转化、扩散规则及对应的腐蚀和扩散概率;S3、构建导线元胞三维空间点云方程,生成导线网格单元;S4、拼接导线四面体网格单元生成光滑曲面,完成航空金属编织导线点云数据实体化建模。本发明能够将元胞自动机中生成的航空金属编织导线三维离散点转化为在有限元仿真软件中的实体,保留复杂的航空金属编织导线表面形貌,优化从仿真到实体模型转换过程,适用好。
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公开(公告)号:CN113960501B
公开(公告)日:2023-09-15
申请号:CN202111038905.4
申请日:2021-09-06
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01R31/69
Abstract: 本发明提供了一种基于S参数Nyquist图的电连接器损伤程度表征方法,该方法包括:选择电连接器,针对该电连接器进行不同损伤程度的实验室对比试验,按照电连接器规定的频率范围,对不同损伤程度等级下的电连接器进行S参数测试,确定不同损伤程度等级下电连接器的测试试验频率范围,在试验频率范围内针对不同损伤程度的电连接器进行S参数测试,转换成Nyquist图,根据电连接器S参数Nyquist图的变化规律,判定电连接器的损伤程度情况。本发明无需对电连接器进行拆解,无需破坏电连接器内部接触件接触端面的表面状态,能够在电连接器接触件性能退化初期便捕捉到电连接器性能变化的信号,测试手段更灵敏、测试结果更精准。
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公开(公告)号:CN106970319B
公开(公告)日:2020-07-03
申请号:CN201710243210.7
申请日:2017-04-14
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01R31/327 , G01R19/25 , G01R29/02
Abstract: 本发明提供一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法和测量装置,包括:继电器在外界振动条件下,触点对会随机发生瞬时的断开或闭合,进而引起触点对两端产生瞬时变化的电压信号;将被测电压信号经高速比较器,与阈值电压比较,利用FPGA对高速比较器输出脉冲信号进行处理、脉冲宽度分析,从而实现对变化时间的精确测量;需要再次测量时,根据触点对状态测试系统可自动更改测试条件,控制阈值切换开关更改高速比较器的阈值电压,完成测量。本测量方法具有测试系统小型化、硬件电路简洁化以及时间参数精确化的特点。
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