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公开(公告)号：CN110501152A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201910797158.9
申请日：2019-08-27
Applicant: 中国航空综合技术研究所
Abstract: 本发明提出一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法，其基于三方面内容试验，分别为插拔、腐蚀和振动应力对连接型结构组件内部接触区域的影响机制。以电连接器为例，不同插拔次数下，对电连接器内部针孔接触区域的磨损程度和对电连接器电性能参数的影响也不相同。本发明中提出的一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法是针对连接型结构组件如电连接器分别进行插拔试验、腐蚀试验和振动试验，确定每种试验中电连接器内部针孔接触区域最易受到损伤的具体条件后，按照选定的试验条件进行循环组合试验，通过控制每种试验施加条件进行三种试验的循环来模拟电连接器产品在实际使用环境中的真实状态。
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公开(公告)号：CN112362565A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011241105.8
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明提供了一种用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置，其包括电路功能板、小机盒和机箱，机箱内部插有多个小机盒，分别安装有不同芯片的电路功能板，电路功能板包括存储器、电平转换电路、微处理器、通信电路、第一采集电路和第二采集电路，第一采集电路和第二采集电路采集得到的测试指标经微处理器和电平转换电路存储至存储器中，再由上位机经通信电路、微处理器和电平转换电路从存储器中读取，并提供了一种适用于此装置的环境适应性水平评价方法。本发明集成不同元器件于同一块电路功能板上，借助多块不同芯片的电路功能板同时测试，以评价不同电子元器件的环境适应性水平，通用性强且效果明显。
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公开(公告)号：CN110873646A
公开(公告)日：2020-03-10
申请号：CN201911223169.2
申请日：2019-12-03
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01M13/005
Abstract: 本发明提供一种O形圈储能模量和损耗模量试验系统，其包括控制装置、电动装置、力学传感器、位移传感器、第一周期应力施加装置、第二周期应力施加装置、O形圈夹具和固定装置，控制装置分别与电动装置、力学传感器和位移传感器通讯连接，电动装置的输出端连接第一周期应力施加装置和第二周期应力施加装置的输入端，控制装置控制电动装置的动作并接收力学传感器和位移传感器的测量数据。本发明还提供一种确定O形圈储能模量和损耗模量的方法，能够测量O形圈储能模量和损耗模量。本发明在老化/寿命试验过程中，为测量胶圈的模量，不需要对胶圈进行裁剪，不会导致密封圈破损，从而不会改变密封圈的力学属性。
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公开(公告)号：CN119619654A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411659948.8
申请日：2024-11-20
Applicant: 中国航空综合技术研究所
Abstract: 本发明提供一种用于FPGA系统在辐射中单粒子效应诱发故障率的预测方法，具体步骤为：对FPGA系统的辐射环境进行表征；确定FPGA系统在辐射环境下单粒子效应的敏感性；建立FPGA系统在辐射环境下的注量域可靠性模型：将单粒子效应截面σSEE的特性转化为对应的平均无故障注量MFTF，根据平均无故障注量MFTF和辐射场中单位面积上通过的粒子总数Φ，建立各能谱段或LET谱段在给定辐射注量内的FPGA系统可靠度模型。本发明结合物理过程分析和数据驱动的手段，建立注量域可靠性模型，从而提高相关设备在特殊物理环境下的可靠性。
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公开(公告)号：CN119598806A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411688884.4
申请日：2024-11-25
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G06F30/23 , G06F30/17 , G06T17/20 , G06F119/08 , G06F119/02 , G06F113/26 , G06F111/10 , G06F111/08
Abstract: 本发明属于金属腐蚀数值模拟分析技术领域，具体为基于元胞腐蚀的航空金属编织导线点云数据实体建模方法，其包括:S1、建立模拟航空金属编织导线腐蚀环境的三维元胞空间；S2、根据三维元胞空间进行导线腐蚀过程仿真建模，确定导线元胞转化、扩散规则及对应的腐蚀和扩散概率；S3、构建导线元胞三维空间点云方程，生成导线网格单元；S4、拼接导线四面体网格单元生成光滑曲面，完成航空金属编织导线点云数据实体化建模。本发明能够将元胞自动机中生成的航空金属编织导线三维离散点转化为在有限元仿真软件中的实体，保留复杂的航空金属编织导线表面形貌，优化从仿真到实体模型转换过程，适用好。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119471118A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411593505.3
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国特种飞行器研究所
Abstract: 本发明一种腐蚀条件下微小缝隙结构电子设备电磁屏蔽性能预测方法，属于电子设备电磁屏蔽性能预测领域，其包括以下步骤：S1、构建等效电导率的计算公式；S2、搭建具有微小缝隙结构的屏蔽箱体以及多组缝隙结构样品；S3、模拟腐蚀条件，对多组缝隙结构样品进行腐蚀，并对实验数据进行采集。S4、基于步骤S1构建的等效电导率的计算公式计算等效电导率并对电子设备电磁屏蔽性能进行预测。本发明能够实现对屏蔽体微小缝隙结构电导率参数的计算，能够快速评价腐蚀环境下屏蔽箱体微小结构表面电接触状态，同时可进一步近似评价屏蔽箱体电磁屏蔽效能退化情况，为屏蔽体服役寿命的准确评估提供重要依据和手段。
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公开(公告)号：CN112362565B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202011241105.8
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明提供了一种用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置，其包括电路功能板、小机盒和机箱，机箱内部插有多个小机盒，分别安装有不同芯片的电路功能板，电路功能板包括存储器、电平转换电路、微处理器、通信电路、第一采集电路和第二采集电路，第一采集电路和第二采集电路采集得到的测试指标经微处理器和电平转换电路存储至存储器中，再由上位机经通信电路、微处理器和电平转换电路从存储器中读取，并提供了一种适用于此装置的环境适应性水平评价方法。本发明集成不同元器件于同一块电路功能板上，借助多块不同芯片的电路功能板同时测试，以评价不同电子元器件的环境适应性水平，通用性强且效果明显。
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公开(公告)号：CN112540323B
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202011495633.6
申请日：2020-12-17
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01R31/66
Abstract: 本发明提供一种电连接器接触失效的原位模拟与在线诊断方法，其特征在于，该方法能够对电连接器实际使用时的多种接触失效工作模式进行原位模拟与在线诊断，模拟与在线诊断使用模拟诊断装置进行，该方法包括对电连接器实际使用过程中正常插合状态下持续出现的微动磨损失效、滑动磨损失效以及偏心插入状态下插拔接触失效、经受振动冲击接触失效进行模拟与在线诊断。本发明能够原位模拟电连接器实际使用状态中的多种接触失效工作模式，同时对失效过程中电连接器的主要性能参数接触电阻进行实时监测，进而复现电连接器产品的间歇性接触失效现象，对电连接器的失效提供数据支持及电连接器性能改进提供依据。
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公开(公告)号：CN110873646B
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN201911223169.2
申请日：2019-12-03
Applicant: 中国航空综合技术研究所
IPC: G01M13/005
Abstract: 本发明提供一种O形圈储能模量和损耗模量试验系统，其包括控制装置、电动装置、力学传感器、位移传感器、第一周期应力施加装置、第二周期应力施加装置、O形圈夹具和固定装置，控制装置分别与电动装置、力学传感器和位移传感器通讯连接，电动装置的输出端连接第一周期应力施加装置和第二周期应力施加装置的输入端，控制装置控制电动装置的动作并接收力学传感器和位移传感器的测量数据。本发明还提供一种确定O形圈储能模量和损耗模量的方法，能够测量O形圈储能模量和损耗模量。本发明在老化/寿命试验过程中，为测量胶圈的模量，不需要对胶圈进行裁剪，不会导致密封圈破损，从而不会改变密封圈的力学属性。
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公开(公告)号：CN110501152B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201910797158.9
申请日：2019-08-27
Applicant: 中国航空综合技术研究所
Abstract: 本发明提出一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法，其基于三方面内容试验，分别为插拔、腐蚀和振动应力对连接型结构组件内部接触区域的影响机制。以电连接器为例，不同插拔次数下，对电连接器内部针孔接触区域的磨损程度和对电连接器电性能参数的影响也不相同。本发明中提出的一种连接型结构组件间歇性故障复现的试验方法是针对连接型结构组件如电连接器分别进行插拔试验、腐蚀试验和振动试验，确定每种试验中电连接器内部针孔接触区域最易受到损伤的具体条件后，按照选定的试验条件进行循环组合试验，通过控制每种试验施加条件进行三种试验的循环来模拟电连接器产品在实际使用环境中的真实状态。
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