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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1391100A
公开(公告)日：2003-01-15
申请号：CN02136155.X
申请日：2002-07-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于：本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术，设计一套简便易行的高灵敏度热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法。测量装置包括：样品台，控制样品台温度的控温电源，温度传感器，恒流源，测量样品的热释电电流的静电计及锁相放大器。本发明的测量装置最大优点是结构简单，数据处理简便，所得信号由锁相放大器处理，测量灵敏度可提高1－2个量级。
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公开(公告)号：CN1176381A
公开(公告)日：1998-03-18
申请号：CN96116505.7
申请日：1996-09-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明提供了一种在超高真空条件下非接触式的原位AlxGa1－xAs组分检测技术,它把分子束外延系统的超高真空条件,与调制光谱系统有机地结合起来,形成了一个测量AlxGa1－xAs薄膜Al组分的准确有效的方法,本发明介绍了该系统的结构,包括光路结构与分子束外延系统的结合,及测量控制系统与数据采集系统,在硬件及软件上形成一整套完善的系统,尤其适宜于对超薄层及对有多层复杂结构的AlxGa1－xAs生长过程中在位组分检测。
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公开(公告)号：CN1171080C
公开(公告)日：2004-10-13
申请号：CN02136155.X
申请日：2002-07-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于：本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术，设计一套简便易行的高灵敏度热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法。测量装置包括：样品台，控制样品台温度的控温电源，温度传感器，恒流源，测量样品的热释电电流的静电计及锁相放大器。本发明的测量装置最大优点是结构简单，数据处理简便，所得信号由锁相放大器处理，测量灵敏度可提高1-2个量级。
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公开(公告)号：CN1088190C
公开(公告)日：2002-07-24
申请号：CN96116505.7
申请日：1996-09-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明提供了一种在超高真空条件下非接触式的原位AlxGa1-xAs组分检测技术，它把分子束外延系统的超高真空条件，与调制光谱系统有机地结合起来，形成了一个测量AlxGa1-xAs薄膜Al组分的准确有效的方法，本发明介绍了该系统的结构，包括光路结构与分子束外延系统的结合，及测量控制系统与数据采集系统，在硬件及软件上形成一整套完善的系统，尤其适宜于对超薄层及对有多层复杂结构的AlxGa1-xAs生长过程中在位组分检测。
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公开(公告)号：CN2166469Y
公开(公告)日：1994-05-25
申请号：CN93226293.7
申请日：1993-09-07
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本实用新型提供了一种用于傅里叶磁光测试的光学传输装置。用传统反射镜光学元件与光管、光锥等相结合的办法实现了红外干涉光束长距离、高效率、宽波段传输。成功地把傅里叶变换红外光谱仪与杜瓦超导磁体联接起来；又用三级光锥组合的方法把样品架做得结构紧凑、灵活方便，得以使用具有很高探测率的半导体红外器件。所组成的红外磁光光谱实验系统的光能传输效率和磁场强度都得到很大提高。
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