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公开(公告)号:CN1391100A
公开(公告)日:2003-01-15
申请号:CN02136155.X
申请日:2002-07-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于:本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术,设计一套简便易行的高灵敏度热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法。测量装置包括:样品台,控制样品台温度的控温电源,温度传感器,恒流源,测量样品的热释电电流的静电计及锁相放大器。本发明的测量装置最大优点是结构简单,数据处理简便,所得信号由锁相放大器处理,测量灵敏度可提高1-2个量级。
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公开(公告)号:CN1171080C
公开(公告)日:2004-10-13
申请号:CN02136155.X
申请日:2002-07-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于:本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术,设计一套简便易行的高灵敏度热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法。测量装置包括:样品台,控制样品台温度的控温电源,温度传感器,恒流源,测量样品的热释电电流的静电计及锁相放大器。本发明的测量装置最大优点是结构简单,数据处理简便,所得信号由锁相放大器处理,测量灵敏度可提高1-2个量级。
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