一种导模法生长氧化镓单晶的生长装置及生长方法

    公开(公告)号:CN118880463A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202411185614.1

    申请日:2024-08-27

    Abstract: 本发明公开一种导模法生长氧化镓单晶的生长装置及生长方法。所述生长装置包括坩埚和位于所述坩埚中的模具,所述生长装置还包括:发热体,所述发热体位于所述坩埚外围,所述发热体的上边缘高于所述坩埚的上边缘10‑15mm;盖板,所述盖板盖于所述发热体上,所述盖板的中心处设置有通孔。本发明采用了一定的后热设计和大间距的隔热盖板,并结合特定的功率控制工艺,巧妙利用了氧化镓的结晶习性,实现了可控的分步放肩过程。放肩过程分步可控,避免了宽厚二维随机放肩,单晶成品率高。所有流程单次连续完成,流程简单。通常放肩三角部作为不可加工部分,会造成原料浪费,本发明这种方法大大降低了原料的浪费率。

    掺杂氧化镓晶态材料及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN110325671A

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201880004978.1

    申请日:2018-01-24

    Abstract: 本发明公开了一种VB族元素掺杂β-氧化镓晶态材料及其制备方法和应用。该系列掺杂β-Ga2O3晶态材料属于单斜晶系,空间群为C2/m,电阻率在2.0×10-4到1×104Ω·cm范围内和/或载流子浓度在5×1012到7×1020/cm3范围内。制备方法包括步骤:将纯度在4N以上的M2O5和Ga2O3按照摩尔比(0.000000001-0.01):(0.999999999-0.99)混合后进行晶体生长即可。本发明采用常规工艺即可制备得到高电导率,呈n型导电特性的β-Ga2O3晶态材料,为其在电力电子器件、光电子器件、光催化剂或导电衬底上的应用提供基础。

    铈掺杂氧化铝-钇铝石榴石共晶荧光材料的生长方法

    公开(公告)号:CN102560665B

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN201210014789.7

    申请日:2012-01-18

    Abstract: 一种铈掺杂的氧化铝-钇铝石榴石共晶荧光材料的生长方法。采用的垂直温梯法,主要利用加热体的各处发热功率分布不同,制造一个合理的垂直温度梯度环境,经过预处理的原料放入坩埚内升温熔化,熔体静止在该温场中,通过控制速度的分段降温过程,使熔体从底部结晶,固液界面自下而上移动生长晶体。本发明方法相对于一般的坩埚下降等定向凝固的方法,由于无机械可动部分,解决了界面不稳可能带来的问题,同时封闭生长系统又保证了掺杂相对的均匀性。该方法生长的这种共晶材料质量稳定,具有良好的光转化性能、光混合性和耐热性,在大功率白光LED等多种发光器件上具有良好应用潜力。

    铈掺杂氧化铝-钇铝石榴石共晶荧光材料的生长方法

    公开(公告)号:CN102560665A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201210014789.7

    申请日:2012-01-18

    Abstract: 一种铈掺杂的氧化铝-钇铝石榴石共晶荧光材料的生长方法。采用的垂直温梯法,主要利用加热体的各处发热功率分布不同,制造一个合理的垂直温度梯度环境,经过预处理的原料放入坩埚内升温熔化,熔体静止在该温场中,通过控制速度的分段降温过程,使熔体从底部结晶,固液界面自下而上移动生长晶体。本发明方法相对于一般的坩埚下降等定向凝固的方法,由于无机械可动部分,解决了界面不稳可能带来的问题,同时封闭生长系统又保证了掺杂相对的均匀性。该方法生长的这种共晶材料质量稳定,具有良好的光转化性能、光混合性和耐热性,在大功率白光LED等多种发光器件上具有良好应用潜力。

    一种导模法生长氧化镓单晶的上热场结构与生长装置

    公开(公告)号:CN118996627A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202411185618.X

    申请日:2024-08-27

    Abstract: 本发明涉及氧化镓单晶生长技术领域,尤其涉及一种导模法生长氧化镓单晶的上热场结构与生长装置。本发明的导模法生长氧化镓单晶的上热场结构,通过在第一盖板上方设置第二盖板,密封件和第一保温层采用间隔设置,且密封件和第一保温层的间距在2mm~10mm之间,使得分解的气相产物在第一盖板和第二盖板之间水平流下,并沿着密封件和第一保温层之间的通道下沉,然后从观察窗回到氧化镓熔体上方,这样分解的气相产物Ga2O和O2在热场结构内循环流动,且尽可能地避免了气相产物向外溢出,从而在氧化镓熔体上方维持稳定的高浓度富集气相产物,进而有效的抑制氧化镓熔体分解挥发,提高了氧化镓单晶生长稳定性。

    一种β相氧化镓外延薄膜及其制备方法与应用

    公开(公告)号:CN118441355A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410298255.4

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明公开一种β相氧化镓外延薄膜及其制备方法与应用,涉及半导体外延薄膜制备技术领域,所述制备方法包括步骤:提供带有斜切角度的(100)晶面氧化镓衬底,斜切角度为6±1°,斜切方向为沿#imgabs0#晶向方向;将带有斜切角度的(100)晶面氧化镓衬底置于分子束外延设备中,以(100)晶面为生长面,进行β相氧化镓的外延生长,在带有斜切角度的(100)晶面氧化镓衬底上制备得到β相氧化镓同质外延薄膜。本发明在带有斜切角度的(100)晶面氧化镓衬底上通过分子束外延方法,制备得到了高载流子浓度和电子迁移率、低表面粗糙度、高结晶质量的β相氧化镓外延薄膜,其可用于制备深紫外透明电极。

    一种氧化镓外延薄膜及其制备方法与应用

    公开(公告)号:CN118360667A

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202410298250.1

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明公开一种氧化镓外延薄膜及其制备方法,涉及半导体外延薄膜制备技术领域,所述制备方法包括步骤:对提供的氧化镓晶锭进行切割,得到带有斜切角度的(100)晶面氧化镓衬底,所述斜切角度为1.0±0.05°,斜切方向为沿#imgabs0#晶向方向;将带有斜切角度的(100)晶面氧化镓衬底置于MOCVD设备中,以(100)晶面为生长面,进行氧化镓的外延生长,在带有斜切角度的(100)晶面氧化镓衬底上制备得到氧化镓外延薄膜。本发明采用所述衬底制备得到的氧化镓外延薄膜的粗糙度可低至0.775nm。同时采用的氧化镓衬底的斜切角度很小仅为1±0.05°,避免了在切割过程中对氧化镓块状单晶的浪费。

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