-
公开(公告)号：CN119416720A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411483652.5
申请日：2024-10-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/36 , G06F119/02 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。方法包括：对晶体管进行恒定应力加速寿命试验，获得归一化β值随时长的变化关系数据，对变化关系数据进行参数拟合，获得晶体管的加速退化系数、时间幂系数和待定系数，并建立晶体管的退化轨迹模型，建立差分输入结构的电路仿真模型，正交试验获得归一化β值对双极型运算放大器的输入失调电压的影响数据；根据影响数据，建立归一化β值与双极型运算放大器的输入失调电压之间的映射关系；利用退化轨迹模型和映射关系，建立双极型运算放大器的可靠性预计模型。采用本方法能够提高双极型运算放大器的可靠性预计准确率和效率。
-
公开(公告)号：CN116087702A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202211553458.0
申请日：2022-12-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电连接器的寿命评估方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取所述电连接器的属性数据和所在环境的温度；将所述属性数据和温度输入所述电连接器的寿命评估模型，所述电连接器的寿命评估模型包括所述电连接器的接触性能评估部分和绝缘性能评估部分；基于所述接触性能评估部分和绝缘性能评估部分的输出结果，获得所述电连接器的寿命评估结果。采用本方法能够提高评估电连接器寿命的准确性。
-
公开(公告)号：CN119340223A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202411885232.X
申请日：2024-12-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01L21/60 , H01L23/488
Abstract: 本发明公开了一种防止侧向腐蚀的铜柱凸点结构及其制作方法，所述方法包括：在晶圆表面沉积金属种子层；在种子层上旋涂光刻胶；进行第一次光刻，将光刻胶图案化形成第一图形；在第一图形区域内生长铜，形成所需高度的铜柱；在铜柱表面生长金属阻挡层，形成所需高度的金属阻挡层；在金属阻挡层表面生长焊料，形成所需高度的焊料；在焊料上旋涂光刻胶；进行第二次光刻，将光刻胶图案化形成第二图形；在铜柱侧面生长金属保护层，形成与阻挡层同等高度的金属保护层；清洗去除光刻胶；蚀刻金属种子层，将金属种子层图案化，形成所需的图形；高温加热使焊料熔化形成光滑凸点后冷却固化。本发明能够避免铜柱凸点结构的侧向腐蚀，提升铜柱凸点互连可靠性。
-
公开(公告)号：CN115036390A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210434537.3
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供了一种焊点柱的制备方法，其包括如下步骤：在具有焊盘的基板上涂覆第一光刻胶层，对第一光刻胶层进行曝光显影，去除焊盘上方的第一光刻胶层，露出焊盘；在基板上沉积覆盖第一光刻胶层与焊盘的打底金属层；在基板上涂覆第二光刻胶层，第二光刻胶层的厚度比第一光刻胶层厚，对第二光刻胶层进行曝光显影，去除焊盘上方的部分第二光刻胶层；在焊盘上的打底金属层上电镀焊点金属；去除第一光刻胶层与第二光刻胶层，使第二光刻胶层上的焊点金属随第二光刻胶层脱落，焊盘上的焊点金属形成焊点柱。该制备方法通过各步骤的彼此搭配，实现了通过电镀的方式在焊盘表面制备焊点柱，能够有效减少金属源的消耗量。
-
公开(公告)号：CN119355012A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411919062.2
申请日：2024-12-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种基于平面X射线探测的缺陷定位方法和计算机设备，所述方法包括：将待测器件固定于平面X射线探测设备上，待测器件的长、宽、高分别对应于坐标系的X、Y、Z轴，利用平面X射线对待测器件进行一次探测成像，获取缺陷在X、Y轴方向上的一次位置坐标；使器件的长边一侧翘起一定角度，利用平面X射线对待测器件进行二次探测成像，获取缺陷在X、Y轴方向上的二次位置坐标；根据Y轴方向上的一次位置坐标和二次位置坐标以及器件翘起角度，计算得到缺陷在Z轴方向上的坐标。本发明采用平面X射线探测就能精准三维定位待测器件的内部缺陷，能够实现测试速度更快、经济成本更低的三维缺陷定位。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115036390B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202210434537.3
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供了一种焊点柱的制备方法，其包括如下步骤：在具有焊盘的基板上涂覆第一光刻胶层，对第一光刻胶层进行曝光显影，去除焊盘上方的第一光刻胶层，露出焊盘；在基板上沉积覆盖第一光刻胶层与焊盘的打底金属层；在基板上涂覆第二光刻胶层，第二光刻胶层的厚度比第一光刻胶层厚，对第二光刻胶层进行曝光显影，去除焊盘上方的部分第二光刻胶层；在焊盘上的打底金属层上电镀焊点金属；去除第一光刻胶层与第二光刻胶层，使第二光刻胶层上的焊点金属随第二光刻胶层脱落，焊盘上的焊点金属形成焊点柱。该制备方法通过各步骤的彼此搭配，实现了通过电镀的方式在焊盘表面制备焊点柱，能够有效减少金属源的消耗量。
-
公开(公告)号：CN119573895A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411894280.5
申请日：2024-12-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01J5/90
Abstract: 本申请涉及一种红外探测器NETD不确定度计算方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：首先，在满足测试条件的情况下，获取目标红外设备上各像元的测试温度、响应电压和噪声电压，然后，根据各像元的测试温度、响应电压和噪声电压确定各像元的噪声等效温差的扩展不确定度，最后，根据各像元的噪声等效温差的扩展不确定度，确定用于表征目标红外设备的噪声等效温差的可信程度的总体噪声等效温差的扩展不确定度。采用本方法能够实现对目标红外设备的噪声等效温差的扩展不确定度的计算。
-
公开(公告)号：CN119438857A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411476771.8
申请日：2024-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种寿命预测方法、装置和计算机设备，该方法包括在预设测试条件下对集成电流进行测试，获取集成电路中多个目标器件在测试过程中的电应力参数，然后根据测试条件的条件参数和各目标器件的电应力参数，分别确定各目标器件的退化参数，以从多个目标器件中确定出该集成电路的薄弱器件，最后即可基于短板效应，根据薄弱器件的寿命确定集成电路的寿命。薄弱器件为集成电路中最易损坏的器件，因此薄弱器件的寿命能够真实有效地反映出集成电路的实际寿命，本申请基于集成电路运行过程中的各目标器件的实际运行参数找到集成电路的薄弱器件，根据薄弱器件的寿命确定集成电路的寿命，能够对集成电路的寿命进行准确预测。
-
公开(公告)号：CN118275846A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410419724.3
申请日：2024-04-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种通过加速寿命试验进行退化评价的方法，涉及半导体技术领域。通过开展在特定温度、湿度、电场强度下的加速试验，叠加可控的腐蚀性气体，可以开展在高湿、高腐蚀性应用场景下的可靠性评价及寿命预测，是一种能够更好地评估功率半导体分立器件及其模块的封装、钝化层及终端的稳健性的加速试验方法。在试验指定时间节点或试验结束后，能检测待测件的电学敏感参数，并根据电学敏感参数的变化情况，分析界面处腐蚀性离子的吸附剖面，实现对其封装、钝化层及终端结构的退化进行全面评估，有利于明确在高温、高湿、高电场强度及腐蚀性气体环境下的退化原因，为后续产品改进提供指导。
-
公开(公告)号：CN116166511A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202211553303.7
申请日：2022-12-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/34 , G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种电连接器工作寿命的评估方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取电连接器的第一信息和第二信息，所述第一信息包括电连接器的属性信息，所述第二信息包括当前工作电压、温度和工作振动应力的功率谱密度有效值；根据所述第一信息和预估寿命模型确定所述电连接器的预估寿命；根据所述第二信息和综合物理模型确定修正系数；根据所述修正系数对所述预估寿命进行修正处理，得到所述电连接器的工作寿命。采用本方法能够提高电连接器寿命评估准确性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
10
records
(took 0.043 seconds)
