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公开(公告)号：CN111340788B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202010129610.7
申请日：2020-02-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种硬件木马版图检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，检测方法包括：获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像，第一图像和第二图像为同质图；对第一图像进行分割处理得到多个第一布局结构图像，对第二图像进行分割处理得到多个第二布局结构图像；对多个第一布局结构图像进行特征提取得到第一形状特征信息；对多个第二布局结构图像进行特征提取得到第二形状特征信息；根据第一形状特征信息和第二形状特征信息获取版图检测信息。通过对比同质的第一图像和第二图像各自对应的形状特征信息能够消除硬件的噪声；对第一图像和第二图像进行分割能够提升对比的准确性，从而提升集成电路芯片制造的安全性。
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公开(公告)号：CN114639409A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202210263663.7
申请日：2022-03-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G11C11/15
Abstract: 本申请涉及一种阻变存储器写入验证电路及其控制方法。所述阻变存储器写入验证电路包括：分压电阻，分压电阻的输出端与阻变存储器第一写入端连接；写入模块，写入模块的一端与分压电阻的输入端连接，另一端与阻变存储器的第二写入端连接，用于输出与待写入状态对应的写入信号，对阻变存储器进行写入操作；验证电路，验证电路的输入端连接于分压电阻的输出端与阻变存储器的第一写入端之间，验证电路用于在写入模块对阻变存储器进行写入操作时，判断验证电路的输入端输入的验证电压是否发生跳变，以验证阻变存储器写入是否成功。采用本阻变存储器写入验证电路能够缩短写入过程的操作流程，提高写入效率。
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公开(公告)号：CN110988639B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN201911085878.9
申请日：2019-11-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种恒定电场应力偏压温度不稳定性的测试方法和装置。所述方法包括：根据预设时长，对待测器件施加应力电压；在对所述待测器件施加应力电压过程结束后，对所述待测器件施加扫描电压，并实时采集所述待测器件的漏电流和所述扫描电压，根据所述扫描电压和所述漏电流确定所述待测器件的当前阈值电压；根据所述当前阈值电压以及初始阈值电压，确定所述待测器件的当前阈值漂移量；判断施加所述应力电压的次数是否达到预设次数；当判定施加所述应力电压的次数小于所述预设次数时，根据在所述当前阈值漂移量调整所述应力电压；对所述待测器件施加调整后的所述应力电压并维持所述预设时长，然后返回至对所述待测器件施加所述扫描电压的步骤。
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公开(公告)号：CN113779753A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202110871250.2
申请日：2021-07-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06T17/00 , G06F119/02
Abstract: 本发明涉及TSV可靠性检测的模糊测试技术领域，公开了一种开路故障诊断方法、计算机设备及存储介质，包括获取待测样品的测试特征参数；获取标准样品的标准特征参数；将所述测试特征参数与所述标准特征参数进行对比，确定所述待测样品的缺陷模型；建立所述待测样品的三维模拟模型，所述三维模拟模型中包括用于模拟开路故障的缺陷模型；根据所述三维模拟模型和所述测试特征参数确定所述待测样品的开路故障的缺陷物理尺寸和开路故障位置。本发明提供的开路故障诊断方法通过提取理想样品和缺陷样品特征参数的统计特征，采用仿真、微波测试、曲线拟合等方法，确定缺陷大小并对缺陷定位，从而有条理、有逻辑地简化故障诊断过程。
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公开(公告)号：CN108776757B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201810659220.3
申请日：2018-06-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种微处理器权限提升攻击模拟方法，包括以下步骤：a.通过对微处理器的原始设计数据进行仿真，获得攻击的目标触发电路节点；b.在所述目标触发电路节点处设计实现攻击电路；c.利用仿真或FPGA、即现场可编程门阵列，来验证所述攻击电路功能的正确性；d.利用所述攻击电路来模拟权限提升攻击。本发明通过在微处理器中嵌入攻击电路来模拟权限提升攻击的效果，这种硬件模拟与软件仿真相比，速度更快。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111157878A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201911425455.7
申请日：2019-12-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种焊点测试结构及其测试方法，用于测试芯片与PCB板之间的焊接引脚，包括信号发送模组、传输链路模组和测试分析模组。本发明通过信号发送模组产生并发送测试信号至第一焊接引脚；再通过传输链路模组将所述测试信号从第一焊接引脚传输至所述测试分析模组，并根据所述焊点的阻值，产生相应的信号传输延迟；最后使用所述测试分析模组测试所述信号传输的延迟时间，并根据所述延迟时间和传输链路模组中的元件参数，获取测试焊点的阻值。本发明基于延迟时间的测量方法，准确地评价了焊接引脚的焊点退化情况，降低了环境因素对测试结果的影响。
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公开(公告)号：CN110988639A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911085878.9
申请日：2019-11-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种恒定电场应力偏压温度不稳定性的测试方法和装置。所述方法包括：根据预设时长，对待测器件施加应力电压；在对所述待测器件施加应力电压过程结束后，对所述待测器件施加扫描电压，并实时采集所述待测器件的漏电流和所述扫描电压，根据所述扫描电压和所述漏电流确定所述待测器件的当前阈值电压；根据所述当前阈值电压以及初始阈值电压，确定所述待测器件的当前阈值漂移量；判断施加所述应力电压的次数是否达到预设次数；当判定施加所述应力电压的次数小于所述预设次数时，根据在所述当前阈值漂移量调整所述应力电压；对所述待测器件施加调整后的所述应力电压并维持所述预设时长，然后返回至对所述待测器件施加所述扫描电压的步骤。
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公开(公告)号：CN114720846A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210181294.7
申请日：2022-02-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种芯片可靠性测试方法、装置及芯片设备，首先发送测试序列至芯片的被测功能逻辑，然后根据基准信号和被测功能逻辑的输出值得到脉冲信号，将时序的变化过程转化为比较二者的时延变化，接着将脉冲信号传输至芯片的延时链中，得到脉冲信号在延时链中的延迟数值，采用延时链路的方式测量时延变化，当测试序列的延迟数值小于或等于预设延迟阈值时，判断芯片可靠。该方法利用了芯片片上资源，需要外部资源少，应用效果好，测试过程中采用了高精度的延时链结构，使得测试结果更加精准，根据准确的延迟数值判断芯片是否可靠，对指导芯片设计和应用具有重要意义，有利于提高芯片的使用可靠性。
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公开(公告)号：CN114154760A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111665224.0
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种开关电源故障预测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：基于预设采样频率采集开关电源在预设时间段内的多个电压信号，其中，所述预设时间段的起始时间点早于负载瞬态过程的起始点，所述预设时间段的结束时间点晚于所述负载瞬态过程的结束点；根据多个所述电压信号确定所述负载瞬态过程对应的瞬态时长；按照预设时序获取开关电源在多个所述预设时间段内一一对应的多个所述瞬态时长，得到瞬态时长时间序列；根据所述瞬态时长时间序列和预设参数阈值，预测所述开关电源的剩余正常工作时间。采用本方法能够对开关电源的剩余正常工作时间进行预测。
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公开(公告)号：CN111175635B
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN201911425270.6
申请日：2019-12-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种集成电路测试装置，包括测试机台、可编程电路和信号转换电路，可编程电路分别电连接测试机台的矢量存储模块和信号转换电路。信号转换电路用于电连接测试芯片。矢量存储模块用于存储压缩后的测试矢量，以及根据可编程电路回传的压缩响应确定测试芯片的测试结果。压缩响应为可编程电路对测试芯片返回的测试响应进行压缩得到的响应。可编程电路用于解压压缩后的测试矢量并输出给测试芯片以及压缩测试响应。信号转换电路用于对齐解压后的测试矢量并进行逻辑电平转换输出以及接收测试响应后回传至可编程电路。将测试矢量的解压缩与压缩工作前置到可编程电路，降低测试机台的测试矢量存储与发送压力，大幅提高测试效率。
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